產(chan)品(pin)名(ming)稱:島津(jin)進(jin)口(kou)紫(zi)外(wai)分光(guang)光(guang)度(du)計(ji)
產(chan)品(pin)型(xing)號(hao):
更新(xin)時間:2023-08-28
產(chan)品(pin)特(te)點:島津(jin)進(jin)口(kou)紫(zi)外(wai)分光(guang)光(guang)度(du)計(ji),*高靈敏(min)度(du),深(shen)紫(zi)外(wai)區(qu)檢(jian)測(ce),大樣(yang)品室(shi),同時滿(man)足(zu)於光(guang)學、半(ban)導體及FPD在以(yi)下(xia)方(fang)面的(de)檢(jian)測(ce)需求。
產(chan)品(pin)詳(xiang)細資料:
島津(jin)進(jin)口(kou)紫(zi)外(wai)分光(guang)光(guang)度(du)計(ji)主(zhu)要用(yong)於(yu)測(ce)定液體樣(yang)品以(yi)及固(gu)體樣(yang)品的(de)測(ce)量(liang)設(she)計(ji)。
島津(jin)進(jin)口(kou)紫(zi)外(wai)分光(guang)光(guang)度(du)計(ji)SolidSpec-3700/3700DUV的UVProbe軟件包括(kuo)光(guang)譜(pu)模(mo)塊(kuai),光(guang)度(du)模(mo)塊(kuai),動力學及報告(gao)模塊(kuai)等(deng)功(gong)能。多(duo)重(zhong)的(de)安(an)全(quan)性及(ji)可追(zhui)蹤(zong)性(xing)能確(que)保(bao)的(de)數(shu)據(ju)的(de)安(an)全(quan)可靠(kao)性。
,*高靈敏(min)度(du),深(shen)紫(zi)外(wai)區(qu)檢(jian)測(ce),大樣(yang)品室(shi),同時滿(man)足(zu)於光(guang)學、半(ban)導體及FPD在以(yi)下(xia)方(fang)面的(de)檢(jian)測(ce)需求。
分辨率(lv):
采(cai)用(yong)高(gao)性(xing)能雙單(dan)色(se)器(qi),實現(xian)高分辨率(lv)(zui高(gao)分辨率(lv)0.1nm)和(he)超(chao)低(di)雜(za)散光(guang)(340nm處(chu)雜(za)散(san)光(guang)0.00005%以(yi)下(xia))。
波長範(fan)圍(wei):
測(ce)定波長範(fan)圍(wei)為(wei)185nm-3300nm,可(ke)在(zai)紫(zi)外(wai)、可(ke)見(jian)、近紅外(wai)的(de)廣(guang)闊(kuo)範(fan)圍(wei)進(jin)行(xing)測(ce)定。可應對廣(guang)泛領(ling)域(yu)的測(ce)定要求。
FPD:
材(cai)料評估中NIR和(he)大樣(yang)品的(de)高(gao)靈敏(min)度(du)測(ce)定。
半(ban)導體:
短(duan)波長激光(guang)和(he)12英寸晶片(pian)整(zheng)體表面的(de)深(shen)紫(zi)外(wai)區(qu)測(ce)定。
光(guang)通信:
減反射膜(mo)NIR高(gao)靈敏(min)度(du)測(ce)定。
光(guang)學:
從DUV到NIR再(zai)到大樣(yang)品的(de)高(gao)靈敏(min)度(du)分析(xi)
拓展性(xing):
直接受(shou)光(guang)單(dan)元(yuan)DDU/DDU-DUV對於液(ye)、固(gu)樣(yang)品透(tou)過(guo)率(lv)測(ce)定
自動X-Y樣(yang)品臺(tai)(自動測量(liang))
大型鏡(jing)面反射附件
氮(dan)氣流(liu)量(liang)裝置(zhi)
鏡(jing)面反射附件(5°12°30°45°)
積分球(qiu)刪除樣(yang)品盤(pan)
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