精工(gong)無(wu)損電(dian)鍍(du)測試膜(mo)厚儀儀(yi)器(qi)主(zhu)要(yao)是電(dian)鍍(du)鍍層(ceng),測(ce)量電(dian)鍍(du)液中(zhong)金(jin)屬(shu)成分含量,如(ru)大規模(mo)生(sheng)產零件（螺栓和螺母(mu)）上的防(fang)腐(fu)蝕保護(hu)層(ceng)Zn/Fe，ZnNi/Fe

精(jing)工(gong)無損電(dian)鍍(du)測試膜(mo)厚儀特(te)點:

用於(yu)電(dian)鍍(du)行業(ye)中(zhong)的電(dian)鍍(du)無損測試膜(mo)厚儀

固(gu)定(ding)的準直器和固(gu)定(ding)的基本濾(lv)片(pian)

底(di)部(bu)C型開槽的大容量測量艙

標(biao)準X射(she)線(xian)管，比(bi)例(li)計數(shu)器(qi) 

X射(she)線(xian)管配有(you)稍大的主(zhu)光(guang)斑(ban)，適合(he)測(ce)量約(yue)1 mm 以上的測量點

低(di)能(neng)量光束產生(sheng)較(jiao)少射(she)線(xian)，然而，對於(yu)傳統的電(dian)鍍(du)層(ceng)如(ru)鉻、鎳(nie)、銅等(deng)鍍(du)層(ceng)的測量，不(bu)會(hui)有任何問(wen)題(ti)

從(cong)下(xia)至上(shang)的射(she)線(xian)方向，從(cong)而可以快(kuai)速簡便的放置樣品(pin)

強大的軟件功能(neng):

每(mei)臺X-RAY熒(ying)光測(ce)量設備(bei)都需(xu)要(yao)配置(zhi)功能(neng)強大的 軟件，這樣才(cai)稱(cheng)得上是(shi)真正(zheng)的測量儀器。因此(ci) X-RAY儀(yi)器(qi)只(zhi)有與創新 WinFTM軟(ruan)件壹起(qi)才(cai)能實(shi)現(xian)*的測量結果(guo)。 WinFTM軟(ruan)件是所有(you)X-RAY儀 器的數學(xue)核(he)心。它(ta)通過測(ce)得的X射(she)線(xian)光譜收(shou)集關(guan) 於(yu)鍍(du)層(ceng)厚度和成分的信息(xi)，不(bu)管樣品(pin)是純(chun)元(yuan)素(su)鍍 層(ceng)，合(he)金(jin)鍍(du)層(ceng)及(ji)其(qi)組合(he)或(huo)是多(duo)元合(he)金(jin)。

應(ying)用(yong)範圍(wei):

無(wu)論(lun)是電(dian)鍍(du)廠的簡單的鍍層(ceng)厚度測量（例(li)如(ru) 鐵上(shang)鍍(du)鋅），還(hai)是鍍液分析(xi)，復(fu)雜(za)的多(duo)鍍層(ceng) 應(ying)用(yong)，極其(qi)復(fu)雜(za)的貴金(jin)屬(shu)分析(xi)或(huo)痕量分析(xi) （RoHS），壹個(ge)軟(ruan)件程序(xu)就(jiu)可(ke)以完成所有(you)的測 量應(ying)用(yong)：WinFTM。

電(dian)鍍(du)無損測試膜(mo)厚儀操(cao)作界(jie)面(mian):

無(wu)論(lun)是來(lai)料檢(jian)驗(yan)，生(sheng)產質量控(kong)制，或(huo)是政府(fu)機(ji) 構的實驗(yan)室材(cai)料測試，WinFTM軟件都可(ke)以實現(xian) 儀器(qi)投運要(yao)求(qiu)的多(duo)種多(duo)樣的應(ying)用(yong)。如(ru)此(ci)復(fu)雜(za)的儀 器可以很方便(bian)而(er)直觀(guan)地(di)控(kong)制是(shi)X-RAY系列儀(yi)器(qi)被(bei)廣泛(fan)接(jie)受的關(guan)鍵所在(zai)。