串聯四極(ji)桿（三(san)重四極(ji)桿）液相(xiang)色譜質(zhi)譜聯用儀(yi)是(shi)分析(xi)實(shi)驗室快速(su)發(fa)展(zhan)的市場(chang),實(shi)驗室對質(zhi)譜的的需(xu)求(qiu)也日新月異(yi)，每個(ge)實(shi)驗室都必須(xu)跟上時代(dai)的變(bian)革步伐。沃(wo)特世(shi)Xevo TQ-XS壹套系統(tong)，輕松應(ying)對各種(zhong)分(fen)析(xi)物，隨(sui)時滿(man)足(zu)您的分(fen)析(xi)需(xu)求(qiu).

全(quan)新的 Xevo® TQ-XS 質(zhi)譜儀(yi)——目(mu)前(qian)市場(chang)上靈(ling)敏度(du)zui高的臺(tai)式(shi)串聯四極(ji)桿（三(san)重四極(ji)桿）液相(xiang)色譜質(zhi)譜聯用儀(yi)。該(gai)款(kuan)質(zhi)譜系(xi)統采(cai)用全(quan)新的 StepWave™ XS 離(li)軸離子(zi)源技術(shu)，並*地結合(he)了(le)離(li)子(zi)光(guang)學器(qi)件、檢測技(ji)術(shu)和電(dian)離(li)技(ji)術(shu)，能夠(gou)為用戶(hu)帶(dai)來*的靈(ling)敏度(du)水平(ping)。

XDR 檢測器(qi):

Xevo TQ-XS 還配備了(le) XDR 檢測器(qi)。XDR 檢測器(qi)*出(chu)現於光(guang)電(dian)倍(bei)增(zeng)管檢測系(xi)統(tong) Xevo TQ-S micro 上，該(gai)系統能夠(gou)在覆(fu)蓋(gai)六(liu)個(ge)數(shu)量(liang)級的濃(nong)度(du)範(fan)圍內定(ding)量(liang)樣品(pin)化(hua)合物。在需(xu)要檢測同壹樣品(pin)中濃度(du)差異(yi)較大的多(duo)種分析(xi)物時，您必(bi)須(xu)稀(xi)釋(shi)樣品(pin)並(bing)通過單(dan)獨(du)的實(shi)驗建(jian)立標(biao)準(zhun)曲線，將濃(nong)度(du)值包(bao)括在校(xiao)正(zheng)曲線範(fan)圍內，而該過程(cheng)非(fei)常耗時。Xtended Dynamic Range (XDR™)檢測器(qi)可(ke)提供覆(fu)蓋(gai)六(liu)個(ge)數(shu)量(liang)級的線(xian)性動態(tai)範(fan)圍，擴(kuo)展(zhan)了(le)用戶(hu)可(ke)定(ding)量(liang)的分(fen)析(xi)物濃(nong)度(du)寬(kuan)範(fan)圍，解決了(le)單(dan)次進(jin)樣導(dao)致檢測器(qi)飽(bao)和的問題。

定(ding)量(liang)分析(xi):

無論您的目(mu)標(biao)分(fen)析(xi)物是(shi)小分(fen)子(zi)還是大分子(zi)，是單(dan)壹分(fen)析(xi)物還是多種化(hua)合(he)物(wu)，Xevo TQ-XS都能讓(rang)您壹次性輕松獲(huo)得所(suo)需(xu)的結果。

全(quan)新StepWave XS離軸離子(zi)傳輸技(ji)術(shu)的出(chu)色靈敏(min)度(du)在多(duo)次進(jin)樣之(zhi)間(jian)的重(zhong)現性*，即使(shi)面(mian)對zui低的化(hua)合物濃(nong)度(du)，也能(neng)實(shi)現可靠的定(ding)量(liang)分析(xi)。StepWave XS還具有中性化合物和氣(qi)體(ti)負(fu)載(zai)的被(bei)動清(qing)除(chu)功(gong)能，能夠(gou)提高離子(zi)傳輸率(lv)，而(er)離(li)子(zi)將被(bei)主動轉(zhuan)移至(zhi)質(zhi)量(liang)分析(xi)器(qi)，有(you)效提升了(le)分(fen)析(xi)靈敏(min)度(du)和穩(wen)定(ding)性。*級通過壹系(xi)列水(shui)平(ping)板(ban)進(jin)行(xing)了(le)修(xiu)正(zheng)，因此能(neng)夠(gou)以更加可(ke)控的方(fang)式(shi)從(cong)氣(qi)流(liu)中提取離(li)子(zi)，使(shi)得(de)離子(zi)與(yu)氣(qi)體(ti)分子(zi)的碰(peng)撞能量(liang)更低。

分(fen)級四(si)極(ji)桿的第(di)二級(ji)主要作(zuo)用於離(li)子(zi)束(shu)，其(qi)作(zuo)用是(shi)更(geng)加高效地將離(li)子(zi)從(cong)離子(zi)源傳輸至(zhi)檢測器(qi)。

持續性:

Xevo TQ-XS配備的新型(xing)大氣(qi)壓電(dian)離(li)探(tan)頭重(zhong)新定(ding)義(yi)了(le)儀(yi)器(qi)的操(cao)作(zuo)方(fang)式(shi)，您不(bu)再(zai)需(xu)要為耗時的工(gong)具優化步驟而(er)擔憂。即使(shi)是(shi)更換(huan)毛細(xi)管等探(tan)頭組(zu)件，也(ye)*不(bu)需(xu)要使(shi)用工(gong)具。無論操(cao)作(zuo)和維護儀器(qi)探(tan)頭的人員(yuan)是(shi)誰(shui)，都能獲(huo)得相(xiang)同結果，因此能(neng)在更(geng)長的時間(jian)段(duan)內維持更高的重(zhong)現性和持續性.

可用性:

高產(chan)率(lv)，極(ji)簡化(hua)
Inlistart™采(cai)用用戶(hu)友(you)好的界(jie)面(mian)，簡化(hua)了(le)系(xi)統(tong)設(she)置

簡單(dan)、集(ji)成化的方(fang)法數據(ju)庫(ku)
可(ke)進(jin)行(xing)檢索(suo)的QUANPEDIA™數(shu)據(ju)庫(ku)有(you)助(zhu)於您建(jian)立*的LC-MS/MS定(ding)量(liang)方(fang)法。

實(shi)時提供關鍵(jian)QC信息
自(zi)動化(hua)的實(shi)時QC檢查(zha)可確(que)保有價(jia)值的樣品(pin)和儀器(qi)時間(jian)不(bu)會(hui)被浪(lang)費(fei)。

全(quan)面(mian)的數(shu)據(ju)處理(li)和精簡的結果審(shen)核(he)
TargetLynx XS™（包(bao)括標(biao)準(zhun)品(pin)添(tian)加法）簡化(hua)了(le)自(zi)動化(hua)的定(ding)量(liang)數據(ju)審(shen)核(he)和報告功能，將出(chu)錯(cuo)率(lv)降至zui低。該(gai)軟件可(ke)提供QC檢查(zha)、統計分(fen)析(xi)及結果的清(qing)晰概覽(lan)，同時排除(chu)用戶(hu)所(suo)定(ding)義(yi)容(rong)差(cha)範(fan)圍外(wai)的所(suo)有(you)結果。

可靠的系(xi)統性能
TrendPlot具有非(fei)常清(qing)晰的圖形(xing)顯(xian)示功(gong)能(neng)，有助(zhu)於您輕松分(fen)析(xi)批次內和批次間的QC結果趨勢以及樣品(pin)結果趨勢，幫(bang)助(zhu)快(kuai)速制(zhi)定(ding)決(jue)策。