產(chan)品名稱：島津RoHS檢(jian)測儀(yi)EDX-7000/8000
產(chan)品型號：
更新(xin)時(shi)間(jian)：2024-05-08
產品特點：島(dao)津RoHS檢(jian)測儀(yi)EDX-7000/8000是(shi)壹款RoHS檢(jian)測儀(yi)器,檢(jian)測的範(fan)圍分別(bie)為(wei)11號元(yuan)素(su)到(dao)92號元(yuan)素(su),6號元(yuan)素(su)到(dao)92號元(yuan)素(su).高精密(mi)靈(ling)敏(min)度.
產品詳細資料：
島津RoHS檢(jian)測儀(yi)EDX-7000/8000 通用性:
從(cong)微(wei)小樣品到大(da)型(xing)樣品，從(cong)粉末(mo)樣品到液體樣品，靈(ling)活(huo)應對各(ge)類樣品。
配備進(jin)行輕(qing)元(yuan)素(su)的(de)高靈(ling)敏(min)度分析(xi)時(shi)所需的(de)真(zhen)空(kong)檢(jian)測單元(yuan)、氦(hai)氣(qi)置(zhi)換檢(jian)測單元(yuan)，以(yi)及可(ke)實現自(zi)動(dong)連(lian)續(xu)測定的(de)12位(wei)樣品轉臺(選購件)。
4種(zhong)準直(zhi)器以(yi)及CCD樣品觀察裝(zhuang)置(zhi)
1、3、5、10mmΦ的4種(zhong)準直(zhi)器自(zi)動(dong)切換
根據樣品尺寸(cun)的(de)不(bu)同，照射(she)直(zhi)徑(jing)可有(you)4種(zhong)不(bu)同的(de)選擇。
微(wei)小異物(wu)分析(xi)和失(shi)效解析(xi)時(shi)采用1mmΦ，少(shao)量(liang)樣品時(shi)采用3mmΦ或(huo)5mmΦ，根據樣品的形狀(zhuang)可(ke)以(yi)選擇的照射(she)直(zhi)徑(jing)。
標(biao)配CCD樣品觀察裝(zhuang)置(zhi)
通過樣品觀察裝(zhuang)置(zhi)可以(yi)確認X射線的(de)照射(she)位(wei)置(zhi)。
適用於檢(jian)測微(wei)小樣品、檢(jian)測由多(duo)個(ge)測樣點組(zu)成(cheng)的樣品、使用微(wei)量(liang)樣品容器檢(jian)測等情況(kuang)。
自(zi)動(dong)切換5種(zhong)壹次濾(lv)光片:
使(shi)用壹次濾(lv)光片降(jiang)低(di)X光管(guan)產生的特性和(he)連(lian)續(xu)性(xing)，從(cong)而(er)提(ti)升檢(jian)測靈(ling)敏(min)度。尤其分析(xi)微(wei)量(liang)元(yuan)素(su)時(shi)有(you)效。
EDX-7000/8000搭(da)載(zai)5種(zhong)（含OPEN共6種(zhong)）壹次濾(lv)光片，可(ke)以(yi)實現軟件操(cao)控自(zi)動(dong)切換。
| 濾(lv)光片 | 有(you)效能量(liang)(KeV) | 對應元(yuan)素(su)示(shi)例 |
| #1 | 15～24 | Zr, Mo, Ru, Rh, Cd |
| #2 | 2～5 | Cl, Cr |
| #3 | 5～7 | Cr |
| #4 | 5～13 | Hg, Pb, Br |
| #5 | 21～24（5～13）* | Cd (Hg, Pb, Br) |
*使(shi)用濾(lv)光片後，（）中(zhong)能量(liang)範(fan)圍的背景(jing)降低(di)。
島津RoHS檢(jian)測儀(yi)EDX-7000/8000 分析(xi)能力(li):
采用高性能(neng)的(de)SDD檢(jian)測器，確保硬件(jian)*化(hua)，具有(you)*的高靈(ling)敏(min)度·高速分析(xi)和高分辨率(lv)。可(ke)以(yi)檢(jian)測出6C～的機(ji)型正(zheng)式(shi)上線（EDX-8000）。
高靈(ling)敏(min)度 –提(ti)高檢(jian)測下(xia)限(xian)1.5～5倍(bei)-
高性能(neng)的(de)SDD檢(jian)測器與*化(hua)的光學系統(tong)和壹次濾(lv)光片的(de)組合，實現*的(de)高靈(ling)敏(min)度。
從(cong)輕(qing)元(yuan)素(su)到(dao)重(zhong)元(yuan)素(su)，全(quan)範(fan)圍輕(qing)松(song)應對。與采用傳統Si（Li）半導體檢(jian)測器的分析(xi)裝(zhuang)置(zhi)相比(bi)，靈(ling)敏(min)度也更勝(sheng)*。
高速 –分析(xi)速度zui大(da)可(ke)提(ti)高10倍(bei)-
SDD檢(jian)測器在單位(wei)時(shi)間(jian)內光管(guan)熒(ying)光的計(ji)數率(lv)高，因此(ci)能(neng)夠在更短的檢(jian)測時(shi)間(jian)內進(jin)行高精度分析(xi)。特別(bie)是對金屬材料的分析(xi)，這個(ge)特點可(ke)以(yi)得到(dao)zui大(da)限(xian)度的發揮。
測定時(shi)間(jian)與標(biao)準偏(pian)差（定量(liang)值(zhi)偏(pian)差）的關系 |
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熒(ying)光分析(xi)方(fang)法(fa)可(ke)以(yi)通過延(yan)長測定時(shi)間(jian)增加(jia)光管(guan)熒(ying)光的計(ji)數從(cong)而(er)提(ti)高精度（重現性(xing)）。 |
滿足(zu)分析(xi)精度所需的(de)檢(jian)測時(shi)間(jian) |
高分辨率(lv)
| 與配置(zhi)以(yi)往Si（Li）半(ban)導體檢(jian)測器的型號相比(bi)，能(neng)量(liang)分辨率(lv)更勝(sheng)*。 不(bu)同元(yuan)素(su)峰(feng)值(zhi)重(zhong)疊(die)的(de)影(ying)響(xiang)減(jian)小，提(ti)升可(ke)靠(kao)性(xing)。 |
能(neng)量(liang)分辨率(lv)的(de)比(bi)較(jiao)（樣品：PPS樹(shu)脂(zhi)） |
無需液(ye)氮
SDD檢(jian)測器為電(dian)子制(zhi)冷方(fang)式(shi)，無需液(ye)氮冷卻(que)。不(bu)僅(jin)可以(yi)從(cong)繁瑣(suo)的(de)液(ye)氮補(bu)充(chong)作業(ye)中(zhong)解放(fang)出來(lai)，更可(ke)以(yi)降低(di)儀(yi)器的維(wei)護(hu)成(cheng)本(ben)。
檢(jian)測元(yuan)素(su)範(fan)圍
應用行業(ye):
■ 電(dian)子·電(dian)氣(qi) ■ 汽車(che)·機(ji)械(xie) ■ 鋼(gang)鐵(tie)·非金屬 ■ 礦業(ye) ■ 窯(yao)業(ye) ■ 石油(you)·石油(you)化(hua)學 | ■ 化(hua)學工(gong)業(ye) ■ 環(huan)境 ■ 醫(yi)藥 ■ 農業(ye)·食(shi)品 ■ 其它 |
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