回收二(er)手(shou)全自(zi)動(dong)在(zai)線(xian)X射線透(tou)視(shi)檢(jian)測(ce)儀(yi)應(ying)用:
電子(zi)元(yuan)件(jian)和(he)焊接接(jie)頭(tou)
壹個(ge)*的(de)高級算(suan)法庫可用於(yu)電子(zi)應(ying)用，特別(bie)是(shi)在(zai)PCB，混(hun)合或芯片(pian)級(ji)裝配(pei)過程的(de)組(zu)件(jian)和(he)焊點檢(jian)查(zha)。
所有標(biao)準的(de)SMD和(he)THT / PTH元(yuan)件(jian)
特定鍵合線算法庫
用於(yu)掃描線(xian)分(fen)析(xi)的(de)離軸成像
*進(jin)的(de)模(mo)具(ju)高度和(he)排(pai)尿(niao)算法
環氧(yang)重疊(die)檢測(ce)晶(jing)圓(yuan)凸(tu)塊(kuai)算法

回收二(er)手(shou)全自(zi)動(dong)在(zai)線(xian)X射線透(tou)視(shi)檢(jian)測(ce)儀(yi)特點

自動(dong)檢(jian)測(ce)系統設(she)計(ji)復(fu)雜的(de)高速(su)檢測SMT生產(chan)。帕特透(tou)射X射線技(ji)術方法層過(guo)濾技(ji)術（SFT）和(he)離軸技術目(mu)前(qian)的(de)雙(shuang)面(mian)PCB組(zu)件的(de)在(zai)線(xian)檢(jian)測提供了(le)可靠的(de)解(jie)決(jue)方案(an)。這本(ben)#移(yi)動(dong)探(tan)測(ce)器(qi)軸使軸高速(su)圖像采(cai)集從不(bu)同(tong)角(jiao)度(du)和(he)zui大(da)的(de)圖(tu)像質量和(he)分(fen)辨(bian)率(lv)的(de)方向(xiang)。
mips_tune是(shi)離線編(bian)程軟(ruan)件(jian)包(bao)與CAD自動(dong)進(jin)出圖形(xing)應(ying)用參數整定(ding)測試(shi)程序(xu)生成。它(ta)的(de)特點是(shi)自(zi)動(dong)檢(jian)查(zha)列表生成壹個(ge)*進(jin)的(de)算(suan)法庫的(de)傳(chuan)輸(shu)和離軸聯(lian)合檢查(zha)。集成自(zi)動(dong)生成規(gui)則(ze)的(de)專(zhuan)有的(de)樹分(fen)類技(ji)術，圖(tu)形(xing)測量與產(chan)量的(de)顯示程序(xu)優化(hua)。
驗證(zheng)軟(ruan)件模(mo)塊(kuai)mips_verify其閉(bi)環(huan)維(wei)修(xiu)概(gai)念能夠(gou)在(zai)線(xian)或(huo)離線驗證(zheng)使用的(de)圖(tu)形(xing)板(ban)的(de)布局(ju)與缺陷(xian)的(de)X射線圖(tu)像顯示標記。支(zhi)持(chi)多個(ge)檢查(zha)模式平行觀看傳輸(shu)斜視(shi)圖(tu)和(he)光學(xue)圖像相(xiang)同(tong)的(de)缺陷(xian)，易於(yu)和(he)可(ke)靠的(de)缺陷(xian)驗證(zheng)。

有提供和(he)的(de)朋(peng)友(you),可(ke)以(yi),大(da)家(jia)相(xiang)互(hu)合作.