掃描電鏡(jing)出(chu)租高(gao)清晰度(du)

無需(xu)蒸金(jin)等(deng)前處(chu)理(li)即(ji)可(ke)觀察所有(you)測(ce)試(shi)材(cai)料的(de)zui表面部(bu)分(fen)

無需(xu)蒸金(jin)等(deng)前處(chu)理(li)即(ji)可(ke)觀察

掃描電鏡(jing)出(chu)租使(shi)用(yong)以(yi)往的(de) SEM 進(jin)行觀察時需(xu)要(yao)進(jin)行蒸金(jin)等(deng)前處(chu)理(li)，因(yin)其會破(po)壞(huai)測(ce)試(shi)材(cai)料，所以(yi)不(bu)能(neng)用(yong)於觀察正在進(jin)行評價(jia)的(de)試(shi)作(zuo)品(pin)。另外，蒸金(jin)等(deng)前處(chu)理(li)可(ke)能(neng)會(hui)導致測(ce)試(shi)材(cai)料變(bian)質，有時不(bu)能(neng)進(jin)行正(zheng)確觀察。VE 系列(lie)則無(wu)需(xu)蒸金(jin)等(deng)前處(chu)理(li)就(jiu)可輕(qing)松(song)進(jin)行正(zheng)確觀察。

醫(yi)藥(yao)品(pin)顆粒(li)

晶片電子(zi)零(ling)件(jian)

毛紡(fang)物(wu)

復(fu)印碳(tan)粉

可清晰觀察測(ce)試(shi)材(cai)料zui表面部(bu)分(fen)

除可使(shi)用(yong)高(gao)加速電壓(ya)外，還可(ke)使(shi)用(yong)低(di)加速電壓(ya)進(jin)行觀察

使(shi)用(yong)低(di)能量(liang)的(de)電子(zi)光(guang)束觀察測(ce)試(shi)材(cai)料表面，所獲(huo)得的(de)圖(tu)像(xiang)可不(bu)受(shou)測(ce)試(shi)材(cai)料內(nei)部(bu)的(de)組(zu)成和(he)材質(zhi)影(ying)響(xiang)，正(zheng)確(que)再現測(ce)試(shi)材(cai)料表面。被(bei)高(gao)能量(liang)的(de)電子(zi)光(guang)束消除的(de)細(xi)微形狀(zhuang)也(ye)可(ke)清晰捕(bu)捉(zhuo)，從(cong)而(er)進(jin)行更詳細(xi)的(de)解析(xi)。

將測(ce)試(shi)材(cai)料的(de)損傷(shang)降(jiang)至(zhi)zui小

盡(jin)可能(neng)抑(yi)制(zhi)變(bian)形或對材料的(de)損傷(shang)，可(ke)進(jin)行更正確(que)的(de)觀察

用(yong)於觀察的(de)電子(zi)光(guang)束的(de)能量(liang)很低(di)，所以(yi)可以將對測(ce)試(shi)材(cai)料的(de)損傷(shang)或(huo)變(bian)形降至zui小。這對怕熱和含(han)水(shui)分(fen)的(de)測(ce)試(shi)材(cai)料觀察特別有(you)效(xiao)，不(bu)僅(jin)可(ke)以(yi)詳(xiang)細(xi)觀察表面形(xing)狀(zhuang)，也(ye)可(ke)正確觀察其初始(shi)狀(zhuang)態。

“消除帶(dai)電(dian)功能” 可實(shi)現非蒸金(jin)等(deng)前處(chu)理(li)的(de)觀察

通過除去測(ce)試(shi)材(cai)料所帶(dai)電(dian)荷，可大大提高(gao)觀察效(xiao)率

如(ru)果要(yao)觀察的(de)材料(liao)是(shi)非導體(ti)，通過電子光(guang)束，測(ce)試(shi)材(cai)料可以會(hui)帶(dai)電(dian)。帶(dai)電(dian)會導致觀察圖(tu)像(xiang)歪(wai)曲，顯示(shi)錯誤的(de)反差(cha)，妨(fang)礙(ai)正(zheng)確的(de)觀察。VE系列(lie)帶(dai)有(you)消除帶(dai)電(dian)功能，按壹(yi)個(ge)按鈕，即可(ke)瞬(shun)間(jian)除去所帶(dai)電(dian)荷，輕(qing)松(song)實(shi)現非蒸金(jin)等(deng)前處(chu)理(li)，並能觀察至zui表面部(bu)分(fen)。

掃描電子(zi)顯微鏡表面分(fen)析(xi)儀優(you)點(dian):

①有較高(gao)的(de)放大(da)倍數，幾(ji)萬~幾(ji)十(shi)萬(wan)倍之間(jian)連(lian)續可(ke)調；

②有(you)很大(da)的(de)景(jing)深(shen)，視(shi)野(ye)大，成(cheng)像(xiang)富有(you)立(li)體感，可(ke)直(zhi)接觀察各(ge)種試(shi)樣凹(ao)凸不(bu)平(ping)表(biao)面的(de)細(xi)微結構(gou)；

③試(shi)樣制(zhi)備簡(jian)單。 目前的(de)掃描電鏡(jing)都配(pei)有(you)X射線(xian)能(neng)譜儀裝(zhuang)置(zhi)，這樣可(ke)以同(tong)時進(jin)行顯微組(zu)織性(xing)貌的(de)觀察和微區成分(fen)分(fen)析(xi)，因此它(ta)是(shi)當(dang)今十(shi)分有用(yong)的(de)科(ke)學研(yan)究(jiu)儀(yi)器(qi)。