吉(ji)天(tian)AFS-8230型(xing) 原子熒光光(guang)度計(ji)集(ji)成了(le)四(si)項(xiang)技(ji)術：

◇ 用於(yu)氫(qing)化物(wu)發生法的間(jian)歇泵進(jin)樣裝(zhuang)置
號(hao)：ZL 2003 2 0100041.5
◇ 去(qu)除(chu)水蒸(zheng)氣(qi)裝(zhuang)置(zhi)
號(hao)：ZL02 2 85169.0

◇ 化學(xue)氣(qi)相(xiang)發生氣(qi)液(ye)分(fen)離裝置(zhi)
號(hao)：ZL 2005 2 0001620.3

◇ 氫(qing)化物(wu)發生原子熒光測(ce)量尾(wei)氣(qi)中(zhong)有(you)害元(yuan)素(su)的捕(bu)集(ji)阱(jing)裝(zhuang)置
號：ZL 2005 2 0110557.7

應(ying)用領域(yu)：

食品(pin)衛(wei)生檢(jian)驗、環境樣(yang)品(pin)檢測(ce)、城(cheng)市給(gei)排水檢(jian)驗、農(nong)產(chan)品(pin)檢(jian)驗(yan)、地(di)質冶金(jin)檢(jian)測(ce)、化妝(zhuang)品檢(jian)驗、紡(fang)織纖維樣(yang)品(pin)檢測(ce)、教(jiao)學(xue)研究、臨床(chuang)醫學樣(yang)品檢驗(yan)、藥(yao)品(pin)檢(jian)驗、土(tu)壤(rang)飼(si)料(liao)肥料檢驗(yan)

吉天(tian)AFS-8230型(xing) 原子熒光光(guang)度計(ji)技術指標(biao)：

檢(jian)出限(xian)DL：
AS、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn：＜0.01μg/L

Hg、Cd：                                     ＜0.001μg/L

Ge：                                            ＜0.05μg/L

Zn：                                            ＜1.0μg/L

Au：                                            ＜3.0μg/L

相(xiang)對(dui)標準偏差(cha)RSD：                    ＜1％
線性範(fan)圍：                                  大(da)於(yu)三個(ge)數量(liang)級(ji)

儀器(qi)主(zhu)要特點(dian)：
◇ 用於(yu)樣品中(zhong)As、Se、Bi、Hg、Se、Te、Sn、Ge、Pb、Zn、Cd、Au元(yuan)素(su)的痕(hen)量(liang)分析；
◇ 適用於(yu)車(che)載(zai)現場(chang)快(kuai)速檢測(ce)，可配(pei)接筆記本(ben)電腦(nao)；
◇ 光(guang)源(yuan)：采(cai)用集(ji)束式(shi)脈沖(chong)供(gong)電(dian)方式(shi)；
◇ 光學(xue)系(xi)統(tong)：短焦距(ju)透(tou)鏡聚光，無(wu)色(se)散全密閉(bi)避光(guang)調光(guang)系統(tong)；
◇ 進(jin)樣系(xi)統(tong)：全自(zi)動內(nei)置(zhi)式(shi)間(jian)歇泵進(jin)樣系(xi)統(tong)；
◇ 原子化(hua)器(qi)：低溫(wen)自(zi)動點(dian)燃(ran)氬-氫(qing)火焰，屏蔽(bi)式(shi)石(shi)英(ying)原子化(hua)器(qi)；
◇ 采(cai)用80或(huo)160位(wei)極(ji)坐標(biao)式(shi)自(zi)動進(jin)樣器(qi)；
◇ 開機自(zi)檢，氣(qi)路自(zi)動控(kong)制、自(zi)動保(bao)護(hu)、自(zi)動報警系統(tong)；
◇ 具(ju)備(bei)化(hua)學(xue)氣(qi)相(xiang)發生氣(qi)液(ye)分(fen)離裝置(zhi)，自(zi)動去(qu)除(chu)水蒸(zheng)氣(qi)裝(zhuang)置(zhi)；

◇ 具(ju)備(bei)氫(qing)化物(wu)發生原子熒光檢(jian)測(ce)尾(wei)氣(qi)中(zhong)有(you)害元(yuan)素(su)捕集(ji)阱(jing)裝(zhuang)置，有效防(fang)止對(dui)環境造(zao)成的二(er)次(ci)汙(wu)染；
◇ 標準的RS—232/485通(tong)訊，功能強(qiang)大(da)的中(zhong)英(ying)文軟(ruan)件操作系統(tong)，可(ke)實(shi)現自(zi)動系(xi)統(tong)診(zhen)斷(duan)、自(zi)動樣(yang)品測(ce)量、標(biao)準曲(qu)線測(ce)量，多(duo)種(zhong)報告(gao)格式(shi)，並備(bei)存(cun)專家(jia)幫(bang)助(zhu)系(xi)統(tong)。

*的可(ke)升(sheng)級(ji)模塊(kuai)：

◇ 配形(xing)態(tai)分(fen)析部(bu)件和相(xiang)關(guan)操作系統(tong)，即可(ke)進(jin)行As、Se、Hg、Sb等(deng)元(yuan)素(su)的形(xing)態(tai)分析；
◇ 配(pei)氣(qi)態(tai)汞(gong)檢(jian)測(ce)裝置(zhi)，可實(shi)現空氣(qi)中(zhong)超痕(hen)量(liang)汞(gong)的測(ce)定(ding)；
◇ 配(pei)水中(zhong)超痕(hen)量(liang)汞(gong)檢(jian)測(ce)裝置(zhi)，可檢(jian)測(ce)海水、地(di)表水中(zhong)超痕(hen)量(liang)汞(gong)（檢(jian)出限(xian)≤0.0002μg/L）；
◇ 配(pei)直(zhi)接進(jin)樣測(ce)鎘(ge)裝置(zhi)，可直(zhi)接檢(jian)測(ce)固體(ti)、液體(ti)樣品中(zhong)的鎘(ge)，無需(xu)樣品(pin)前處理(li)；
◇ 配(pei)直(zhi)接進(jin)樣測(ce)汞(gong)裝(zhuang)置(zhi)，可(ke)直(zhi)接檢(jian)測(ce)固體(ti)、液體(ti)樣品中(zhong)的汞(gong)，無(wu)需(xu)樣(yang)品(pin)前處理(li)；
◇ 配(pei)直(zhi)接進(jin)樣測(ce)汞(gong)鎘(ge)同測(ce)裝置(zhi)，可同時直(zhi)接檢(jian)測(ce)固體(ti)、液體(ti)樣品中(zhong)的汞(gong)和(he)鎘(ge)，無需(xu)樣品(pin)前處理(li)。