二手(shou)ICP-OES光譜儀(yi)：作(zuo)為(wei)市場上小巧(qiao)的 ICP，可通過以(yi)下性(xing)能(neng)，提(ti)供高(gao)效的操(cao)作、可靠的數(shu)據(ju)和低的擁有成本(ben)：

• 所(suo)有 ICP 中(zhong)低的氬(ya)氣(qi)消耗(hao)

• 快的 ICP 啟(qi)動（從(cong)關機狀態(tai)啟(qi)動，光譜儀(yi)在(zai)短(duan)短(duan)幾(ji)分(fen)鐘內即可準備就緒(xu)）

• 對所有適用的元素都具有出(chu)色(se)的靈敏(min)度與分辨率(lv)

• 具(ju)有雙向觀測技術(shu)的寬(kuan)線性範圍

性能(neng)可靠、功能(neng)強大(da)、經(jing)濟(ji)實(shi)惠、具備您所尋求(qiu)的 ICP所(suo)具(ju)有的壹切。

既(ji)然(ran)可以成為(wei)*，誰(shui)還(hai)願(yuan)意(yi)當(dang)操(cao)作者(zhe)？

專(zhuan)為(wei)滿(man)足挑戰性(xing)的客(ke)戶需求並(bing)超(chao)越(yue)此(ci)類需求而(er)設(she)計(ji)，憑借(jie)壹系(xi)列(lie)專(zhuan)有*的功(gong)能(neng)，可幫(bang)助(zhu)您運行(xing)多個(ge)樣品(pin)，所(suo)取(qu)得的成本(ben)效(xiao)益(yi)遠超(chao)以往(wang)任何(he)時候。

低的運行(xing)成本(ben)

借(jie)助(zhu)獲(huo)得的 Flat Plate™ (平板(ban)) 等離(li)子體(ti)技術，僅需消耗(hao)其他(ta)系(xi)統(tong)壹半(ban)的氬(ya)氣(qi)量，即可生(sheng)成強健、耐(nai)基體(ti)的等離(li)子體(ti)，同時賦(fu)予(yu)您(nin)：

• 所(suo)有 ICP 中(zhong)低的操(cao)作成本(ben)

• 無需再進(jin)行(xing)與傳(chuan)統螺旋負(fu)載線圈(quan)有關的冷(leng)卻和維護(hu)，提(ti)供出(chu)色(se)的運行(xing)時間和生(sheng)產力(li)

另(ling)外(wai)，為(wei)了(le)提(ti)高(gao)效率(lv)，珀金(jin)埃爾(er)默儀(yi)器具(ju)有獲(huo)得的動(dong)態(tai)波長，穩定(ding)功(gong)能(neng)。可令您從關機狀態(tai)啟(qi)動，在(zai)短(duan)短(duan)幾(ji)分(fen)鐘內即可進(jin)行(xing)分析，因(yin)而(er)您(nin)大(da)可在儀(yi)器不使用(yong)時隨意(yi)關掉(diao)。

強大(da)的雙向觀測功能(neng)

與提(ti)供軸(zhou)向(xiang)和徑向觀測而(er)犧牲性能(neng)的同(tong)步(bu)垂(chui)直(zhi)雙向觀測 ICP 系(xi)統(tong)不同，系(xi)統(tong)獲(huo)得的雙向觀測功能(neng)，可測量所(suo)有波長，不會造(zao)成光或(huo)靈敏(min)度的損(sun)失。即使(shi)是波長大(da)於(yu) 500 納(na)米(mi)或(huo)低

於(yu) 200 納(na)米(mi)的元素也(ye)*可以測量，即便是在(zai) ppb 的含(han)量(liang)水平。該 系(xi)統(tong)*的雙向觀測設計(ji)也提(ti)供了可擴展的線(xian)性(xing)動態(tai)範圍，確保實現(xian)：

• 樣品(pin)制備和稀(xi)釋(shi)小化(hua)

• 高(gao)、低濃度可以在(zai)同(tong)壹運行(xing)中(zhong)進(jin)行(xing)測量

• 更(geng)好(hao)的質量控(kong)制和更(geng)準(zhun)確的結(jie)果(guo)

• 減少(shao)重(zhong)復(fu)運行(xing)

集成等離(li)子體(ti)觀測相機

可簡化(hua)您的開(kai)發方(fang)法(fa)，同(tong)時借助(zhu)  系(xi)統(tong)的 PlasmaCam™技(ji)術(shu)，盡(jin)享(xiang)遠程監(jian)控(kong)等離(li)子體(ti)的便利(li)。作(zuo)為(wei)行(xing)業(ye)，彩(cai)色(se)相(xiang)機

可幫(bang)助(zhu)您：

• 實(shi)時觀測等離(li)子體(ti)

• 執行(xing)遠程診(zhen)斷(duan)

• 查(zha)看進(jin)樣部件

革新(xin)性 PlasmaShear 系(xi)統(tong)，可實現(xian)無氬幹擾消除(chu)

為(wei)了(le)消(xiao)除(chu)軸(zhou)向(xiang)觀測的幹擾，需要(yao)消除(chu)等離(li)子體(ti)的冷(leng)尾(wei)焰(yan)。沒有其他同類(lei)儀(yi)器能(neng)比(bi) 更(geng)有效、更(geng)可靠或(huo)更(geng)經(jing)濟。

其他 ICP 消(xiao)除(chu)尾(wei)焰(yan)需要(yao)消耗(hao)高(gao)達(da) 4 升(sheng)/分(fen)鐘的氬(ya)氣(qi)流量(liang)，系(xi)統(tong)*的 PlasmaShear™ 技(ji)術(shu)只需空氣(qi)即可。無需高(gao)維護(hu)、高(gao)提(ti)取(qu)系(xi)統(tong)或(huo)錐(zhui)體(ti)。就是壹個(ge)*集成的、*自(zi)動(dong)化(hua)的、能(neng)提(ti)供*軸(zhou)向(xiang)分析的幹擾消除(chu)系(xi)統(tong)。

CCD 檢(jian)測器，可實現(xian)的準(zhun)確(que)度和精(jing)密度

借助(zhu)全波長功能(neng)，系(xi)統(tong)的強大(da)電(dian)荷耦(ou)合器件（CCD）檢測器能(neng)不斷(duan)提(ti)供正確的答(da)案。

Avio 系(xi)統(tong)的 CCD 檢(jian)測器可同時測量所(suo)選(xuan)譜線及其譜(pu)線附近波長範圍，實時扣(kou)背(bei)景，實(shi)現(xian)出(chu)色(se)的檢(jian)測精(jing)密度。在分析過程(cheng)中(zhong)，它(ta)還可以同(tong)時執行(xing)背(bei)景校(xiao)正測量，進(jin)壹步(bu)提(ti)高(gao)準確(que)度和靈敏(min)度。

帶(dai)有快速轉(zhuan)換炬(ju)管底座的垂(chui)直(zhi)等離(li)子體(ti)，可實現(xian)的基(ji)體(ti)靈活(huo)性(xing)

二手ICP-OES光譜儀(yi)即使(shi) 正在運行(xing)，系(xi)統(tong)的垂(chui)直(zhi)炬(ju)管無需工具(ju)也(ye)能(neng)進(jin)行(xing)簡便快(kuai)捷(jie)的調(tiao)節，可提(ti)供更(geng)大(da)的樣品(pin)靈活(huo)性(xing)並(bing)簡化(hua)維護(hu)。炬(ju)管底座的設(she)計(ji)與眾(zhong)不同，具(ju)有以下特點(dian)：

• 壹個(ge)可拆卸的、獨(du)立(li)於炬(ju)管的中(zhong)心(xin)管，旨(zhi)在減少(shao)維護(hu)和破(po)損(sun)的可能(neng)性

• 自(zi)動(dong)自對準，即使(shi)在(zai)拆卸後(hou)也(ye)能(neng)提(ti)供壹致(zhi)的深(shen)度設置

• 兼(jian)容各種(zhong)霧(wu)化(hua)器和霧(wu)室，可提(ti)高(gao)靈活(huo)性(xing)