產(chan)品名(ming)稱:PE二手(shou)ICP8300-OES
產(chan)品型號:
更(geng)新(xin)時(shi)間:2021-03-29
產品特(te)點(dian):PE二(er)手(shou)ICP8300-OESicp光(guang)譜(pu)儀(yi),又(you)名(ming)電(dian)感(gan)耦合等(deng)離子(zi)體(ti)光(guang)譜(pu)儀(yi),屬(shu)於光(guang)譜(pu)儀(yi)的(de)壹(yi)大分支,主(zhu)要用(yong)於檢測(ce)微(wei)量(liang)及衡量(liang)元素(su)的分析,可分析的(de)元素(su)為大(da)多數的(de)金(jin)屬元(yuan)素(su),具體(ti)的(de)檢測(ce)元(yuan)素(su)因為不同廠家(jia)采(cai)用(yong)的核心(xin)配件(jian)不同而不(bu)同,如(ru)5代光(guang)譜(pu)儀(yi)就(jiu)可檢測(ce)118元(yuan)素(su)。因此icp光(guang)譜(pu)分析儀(yi)的(de)使用(yong)範圍廣泛,被(bei)用(yong)於稀土(tu)、貴金(jin)屬、合金(jin)材料(liao)、電(dian)子(zi)產(chan)品的分析檢測(ce),並(bing)且(qie)可對待(dai)測(ce)樣(yang)品進行定(ding)性或從(cong)超(chao)微(wei)量(liang)到常量(liang)的定(ding)量(liang)分析。
產(chan)品詳細(xi)資(zi)料:
PE二(er)手(shou)ICP8300-OES其中(zhong)icp發射(she)光(guang)譜(pu)法是(shi)根(gen)據處(chu)於激(ji)發態的(de)待(dai)測(ce)元(yuan)素(su)原子(zi)回到(dao)基(ji)態(tai)時(shi)發射(she)的特(te)征譜線對待(dai)測(ce)元(yuan)素(su)進行分析的(de)方法(fa),在分析的(de)過(guo)程(cheng)中(zhong)會(hui)對檢測(ce)材(cai)料(liao)的(de)的光(guang)譜(pu)特(te)性(xing)(包括(kuo)波(bo)長(chang)、強度(du)等(deng)譜(pu)線特(te)征),因此可以分為3大(da)過(guo)程(cheng):
1 :分光(guang)(光(guang)柵(zha)),把被(bei)檢測(ce)材(cai)料(liao)按(an)照波長(chang)進行規(gui)律(lv)分開。
2 :感(gan)光(guang)(傳(chuan)感(gan)器(qi)):將光(guang)信號(hao)轉(zhuan)換成(cheng)電(dian)信號(hao),對應的(de)測(ce)量(liang)分析出(chu)各波(bo)長(chang)光(guang)的(de)強度(du)。
3:光(guang)譜(pu)軟(ruan)件(jian)計算顯(xian)示(shi):將這(zhe)些信息用(yong)軟(ruan)件(jian)進行計(ji)算分析,得(de)出(chu)對應的(de)結(jie)果(guo)顯(xian)示(shi)給(gei)操(cao)作人(ren)員(yuan)。
等(deng)離子(zi)體(ti)光(guang)譜(pu)與其它大(da)型(xing)精密儀(yi)器(qi)壹(yi)樣,需(xu)要在操(cao)作環境(jing)下操(cao)作國產光(guang)譜(pu)儀(yi),對環境(jing)溫(wen)度(du)和(he)濕度(du)有(you)壹(yi)定(ding)的要求(qiu)。檢測(ce)室內的溫(wen)度(du)維(wei)持(chi)在70~75攝氏度(du)之(zhi)間,盡(jin)可能維(wei)持(chi)在壹(yi)個固定(ding)溫(wen)度(du)。其次(ci)環境(jing)濕度(du)不(bu)能夠(gou)太大(da),會(hui)容易導(dao)致內部電(dian)子(zi)元(yuan)器(qi)件(jian)受潮(chao)短路,並(bing)且(qie)應(ying)該避免(mian)安(an)放在陽(yang)光(guang)強烈處,避(bi)免因此高(gao)溫(wen)導(dao)致檢測(ce)結(jie)果(guo)有(you)誤。

PE二(er)手(shou)ICP8300-OES等(deng)離子(zi)體(ti)發射(she)光(guang)譜(pu)儀(yi)性(xing)能
1.增強實時(shi)圖形(xing)和(he)FIAS控制(zhi)允許(xu)暫(zan)時(shi)測(ce)量(liang)
2.SCD探測(ce)器(qi)提供(gong)快(kuai)速和(he)準(zhun)確(que)測(ce)試(shi)性(xing)能
3.高(gao)分辨率(lv)模式提供(gong)了簡(jian)單的開發方法(fa)和(he)較(jiao)高(gao)的(de)精度(du)
4.可靠(kao)性與(yu)第二(er)代集(ji)成固態射(she)頻發生器(qi)
5.恒溫(wen)光(guang)學(xue)系(xi)統(tong)消除了(le)峰(feng)值性能分析和(he)搜(sou)索(suo),確(que)保(bao)長(chang)期穩(wen)定(ding)性
6.實時(shi)背(bei)景(jing)校正(zheng)增強樣品處理(li)量(liang)和(he)性(xing)能
7.*的光(guang)學(xue)、的射(she)頻穩(wen)定(ding)性
8.壹(yi)個完整(zheng)的線抽(chou)樣(yang)配件(jian)
保修(xiu)期限:
整(zheng)機保(bao)修(xiu)壹(yi)年(自(zi)安(an)裝調試合格(ge)之(zhi)日(ri)後開始計(ji)算保修(xiu)期)
不(bu)屬(shu)於免(mian)費(fei)保修(xiu)義務的情況:
1)不能證(zheng)明產(chan)品的有效保(bao)修(xiu)期(qi)的。
2)消耗(hao)材(cai)料(liao)的(de)自(zi)然(ran)消耗(hao),磨(mo)損(sun)及老化(hua)。
3)雷擊(ji)或其它用(yong)電(dian)系(xi)統(tong)原因造(zao)成(cheng)的(de)損(sun)壞。
4)事(shi)故(gu)、災害、戰爭等(deng)不(bu)可抗力(li)因素(su)造(zao)成(cheng)的(de)損(sun)壞。
5)自(zi)行改(gai)裝、修(xiu)理(li)或由非本公司第三方(fang)拆動、改(gai)裝、維(wei)修。
6)未按產品使用(yong)說明的(de)要求(qiu)使用(yong)、維(wei)護(hu)、保(bao)管而造(zao)成(cheng)損(sun)壞的(de)。

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