ROHS測(ce)試儀EDX-深(shen)圳(zhen)市(shi)心怡(yi)創(chuang)科(ke)技(ji)有限公(gong)司(si)

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日本(ben)島(dao)津--EDX系列

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產(chan)品名(ming)稱(cheng)：ROHS測(ce)試儀EDX

產(chan)品型(xing)號(hao)：

更新時間：2020-03-24

產(chan)品特(te)點(dian)：ROHS測(ce)試儀EDX:X射(she)線(xian)熒(ying)光分(fen)析法(fa)，測(ce)定(ding)方法(fa)：能(neng)量(liang)色散(san)型(xing)，測(ce)定(ding)對(dui)象：固(gu)體(ti)、液(ye)體、粉末，測(ce)定(ding)範(fan)圍(wei)：11Na~92U，樣(yang)品室(shi)尺寸：大(da)300（W）x275（D）x約100（H）mm（但是不包(bao)括(kuo)R部分(fen)）

產(chan)品詳(xiang)細資(zi)料：

ROHS測(ce)試儀EDX:滿(man)足(zu)所有領域不同的(de)應(ying)用(yong)

■電(dian)子·電氣(qi)
·RoHS指令、無鹵(lu)素(su)等篩選分(fen)析
·半(ban)導(dao)體、存(cun)儲裝置、液晶(jing)、太陽(yang)能(neng)電池(chi)等各(ge)種薄(bo)膜分(fen)析

■汽車·機(ji)械(xie)
· 應對(dui)ELV指令的篩選分(fen)析
· 各(ge)種機(ji)械(xie)零部(bu)件結(jie)構(gou)分(fen)析及鍍(du)層厚度、化(hua)學合成(cheng)外(wai)膜附(fu)著量(liang)的檢測(ce)

■鋼鐵·非(fei)金屬(shu)
· 原材(cai)料、合金(jin)、焊錫、貴(gui)金屬(shu)的主(zhu)要成分(fen)、殘余成(cheng)分(fen)的分(fen)析
· 爐渣的(de)組(zu)成(cheng)分(fen)析

■礦業
· 選礦工藝(yi)的(de)成(cheng)色鑒別(bie)分(fen)析

■窯(yao)業
· 陶瓷、水泥(ni)、玻(bo)璃(li)、磚、粘(zhan)土的分(fen)析

■石(shi)油·石(shi)油化(hua)學
· 油中硫元素(su)的分(fen)析
· 潤(run)滑油中各(ge)種添加元素(su)及混(hun)入元素(su)的分(fen)析

■化(hua)學工業
·無機(ji)·有機(ji)原(yuan)料和(he)產(chan)品分(fen)析
·催化(hua)劑、顏料、塗料、橡(xiang)膠(jiao)、塑膠(jiao)的(de)分(fen)析

■環境(jing)
· 土壤(rang)、排水、焚燒灰(hui)、過(guo)濾、PM2.5等成(cheng)分(fen)分(fen)析

■醫(yi)藥(yao)
· 合成(cheng)時的殘(can)留(liu)催化(hua)劑分(fen)析
· 原藥(yao)中不純物(wu)分(fen)析、異物(wu)分(fen)析

■農(nong)業·食品
· 土(tu)壤(rang)、肥(fei)料、植物(wu)的分(fen)析
· 食品的(de)原(yuan)料分(fen)析、添加(jia)元素(su)管理、混(hun)入異物的分(fen)析

■其(qi)它(ta)
· 考古(gu)學(xue)樣(yang)品及(ji)寶(bao)石(shi)成分(fen)分(fen)析
玩具(ju)·日用(yong)品中(zhong)有害重(zhong)金屬(shu)元素(su)測(ce)定(ding)等

ROHS測(ce)試儀EDX裝置規格

型號(hao)規格	EDX-7000	EDX-8000
測(ce)定(ding)原(yuan)理	X射(she)線(xian)熒(ying)光分(fen)析法(fa)
測(ce)定(ding)方法(fa)	能(neng)量(liang)色散(san)型(xing)
測(ce)定(ding)對(dui)象	固(gu)體(ti)、液(ye)體、粉末
測(ce)定(ding)範(fan)圍(wei)	11Na~92U	6C~92U
樣(yang)品室(shi)尺寸	大(da)300(W)x275(D)x約100(H)mm(但是不包(bao)括(kuo)R部分(fen))
大樣(yang)品重(zhong)量(liang)	5kg(使用(yong)樣(yang)品轉(zhuan)臺(tai)時200g/樣(yang)品，總(zong)重(zhong)量(liang)2.4kg)
X射(she)線(xian)發(fa)生部(bu)
X射(she)線(xian)管	Rh靶
電(dian)壓	4~50kV
電流(liu)	1~1000uA
冷卻(que)方式(shi)	風(feng)冷(附(fu)風(feng)扇(shan))
照射(she)面(mian)積(ji)	1、3、5、10mmΦ：4種自(zi)動(dong)切換
1次(ci)濾光片	5種(含OPEN為6種)自(zi)動(dong)切換
檢測(ce)器(qi)
類(lei)型	矽漂移檢測(ce)器(qi)(SDD)
液態(tai)氟(fu)供(gong)給(gei)	不要(電子制(zhi)冷)
樣(yang)品室(shi)
測(ce)定(ding)環境(jing)	大氣、真(zhen)空1、氦氣2
樣(yang)品交換	12位(wei)樣(yang)品轉(zhuan)臺(tai)*1
樣(yang)品觀察	CMOS圖像裝置
數據處(chu)理部(bu)
內存	2GB以(yi)上(32位(wei))、4GB以(yi)上(64位(wei))
HDD	250GB
光(guang)學(xue)驅動(dong)	多媒(mei)體(ti)光(guang)驅
OS	Windows 7 (32位(wei)/64位(wei))
軟件
定性分(fen)析	測(ce)定(ding)、解(jie)析(xi)軟件
定量(liang)分(fen)析	工作(zuo)曲(qu)線(xian)法(fa)、共存元素(su)校正(zheng) FP法(fa)、薄(bo)膜FP法(fa)、背(bei)景FP法(fa)
匹(pi)配軟件	強度(du)/含量(liang)
更多功(gong)能	自(zi)動(dong)校正(zheng)功(gong)能(能(neng)量(liang)校正(zheng)、半(ban)高寬(kuan)校(xiao)正(zheng))
儀器(qi)狀(zhuang)態跟蹤功(gong)能	√
分(fen)析結(jie)果(guo)制(zhi)表(biao)功(gong)能	√
環境(jing)設置
溫度	10~30℃(溫度變化(hua)2℃/hr以(yi)內、溫度變化(hua)幅(fu)度(du)在10℃以(yi)下(xia))
相(xiang)對(dui)濕(shi)度	40~70%(但(dan)不得有結(jie)露(lu))
電源	AC100V~240V±10%、帶(dai)地(di)線(xian)插座(zuo)
主(zhu)機(ji)尺寸	460(W)x590(D)x360(H)mm
主(zhu)機(ji)重(zhong)量(liang)	約45kg

檢測(ce)元素(su)範(fan)圍(wei)

·遵(zun)照(zhao)制(zhi)藥界的(de)FDA 21CFR Part11標(biao)準
遵(zun)照(zhao)FDA 21CFR Part11具(ju)有如下功(gong)能。
● 安(an)全(quan)功(gong)能
● 用(yong)戶(hu)管(guan)理功(gong)能
● 操(cao)作日誌(zhi)，逐(zhu)位(wei)跟蹤日誌(zhi)的生成(cheng)功(gong)能
● PDF生成(cheng)功(gong)能
● 驗(yan)證(zheng)功(gong)能

安(an)全(quan)功(gong)能
通(tong)過(guo)ID/密碼(ma)進(jin)行用(yong)戶(hu)認證，對(dui)具有權限的用(yong)戶(hu) 開(kai)放操(cao)作履(lv)歷記(ji)錄、界(jie)面(mian)鎖(suo)定(ding)等功(gong)能。

逐(zhu)位(wei)跟蹤日誌(zhi)的生成(cheng)功(gong)能
可(ke)以(yi)生成(cheng)分(fen)析裝置設定(ding)更改履(lv)歷和(he)用(yong)戶(hu)的(de)操(cao)作履(lv)歷等跟蹤日誌(zhi)。

shimadzuEDX-7000/800，島(dao)津ROHS測(ce)試儀，島(dao)津ROHS檢測(ce)儀，島(dao)津ROHS分(fen)析儀，島(dao)津EDX-720-EDX-GP-EDX-LE-EDX-7000-EDX-8000. 心怡(yi)科(ke)技(ji)壹(yi)直為客戶提供(gong)好(hao)的(de)服務(wu)和(he)問(wen)題(ti)上的解(jie)決。

EDX-7000/8000 Energy Dispersive X-Ray Florescence Spectrometer for RoHS Analysis

Incorporating a new high-performance semiconductor detector, high end EDX-7000/8000 spectrometers offer excellent sensitivity, resolution, and throughput for an array of applications, from general screening analysis to advanced materials research.

The EDX-7000 provides a measurement range of 11Na to 92U, while the EDX-8000 has a range of 6C to 92U. Both systems are equipped with five primary filters that enable highly sensitive analysis of trace elements and a sample observation camera for precise sample positioning. A large sample chamber accommodates virtually any sample type small or large, including thin films, powders, slurries, emulsions and liquids.