EDX-7000/8000 二(er)手(shou) 島津(jin) 熒光(guang)光(guang)譜儀 提(ti)供(gong)高靈敏(min)度、高速(su)、高(gao)解析(xi)度的元素(su)分(fen)析(xi).

二(er)手(shou) 島津(jin) EDX-8000 熒光(guang)光(guang)譜儀原(yuan)理基於原(yuan)子(zi)內(nei)層(ceng)電子(zi)的躍(yue)遷(qian)過(guo)程。當(dang)高能X射線(xian)照(zhao)射(she)樣(yang)品時，會將(jiang)原(yuan)子(zi)內(nei)層(ceng)電子(zi)（如K層(ceng)或(huo)L層(ceng)）擊出，形(xing)成(cheng)空穴。外(wai)層(ceng)電子(zi)會自發(fa)躍(yue)遷(qian)到(dao)內(nei)層(ceng)填(tian)補空(kong)穴，同(tong)時釋(shi)放出特(te)征X射線(xian)（即熒光(guang)X射線(xian)）。這(zhe)種(zhong)射(she)線(xian)的(de)能量或(huo)波長與元(yuan)素(su)的(de)原(yuan)子(zi)序數(shu)相關，因此可(ke)以(yi)通(tong)過測(ce)量(liang)這(zhe)些(xie)特(te)征X射線(xian)來(lai)確定(ding)元(yuan)素(su)的種類(lei)。

能量色散(san)型(xing)X射(she)線(xian)熒光(guang)分析(xi)儀 EDX-8100 是壹款(kuan)具(ju)備(bei)高靈(ling)敏度、高速(su)度及(ji)高(gao)分辨(bian)率(lv)的(de)X射(she)線(xian)熒光(guang)光(guang)譜儀，采用(yong)高(gao)性能SDD檢測(ce)器(qi)並(bing)支持電子(zi)冷卻，無(wu)需(xu)液態(tai)氮。該設(she)備(bei)具有(you)廣(guang)泛(fan)的元(yuan)素檢測(ce)範(fan)圍(wei)（從(cong)C到U），能進行(xing)真(zhen)空(kong)及(ji)氦(hai)氣置換(huan)分析(xi)，特(te)別適(shi)用(yong)於(yu)液體(ti)、潮濕固(gu)體(ti)及(ji)粉(fen)末(mo)等(deng)樣品的(de)檢測(ce)。它還配(pei)備(bei)了簡(jian)易(yi)與專(zhuan)業(ye)分析(xi)軟(ruan)件(jian)，並(bing)具備(bei)自動(dong)切(qie)換(huan)準(zhun)直(zhi)器(qi)和濾(lv)光(guang)片的(de)功(gong)能，以(yi)優(you)化(hua)不(bu)同(tong)樣(yang)品的(de)分(fen)析(xi)效果(guo)。

島津(jin)X射線(xian)熒光(guang)光(guang)譜儀 EDX-7200 儀器(qi)可(ke)以(yi)滿足(zu) ROHS測(ce)試(shi)儀，成(cheng)分分(fen)析(xi)，膜(mo)厚測(ce)試(shi)。液(ye)體(ti)，固(gu)體(ti)，粉(fen)體(ti)，都可(ke)以(yi)測(ce)試(shi)。

二(er)手(shou)shimadzu EDX-7000/LEplus SDD檢測(ce)器(qi)：Amptek產品為(wei)X射(she)線(xian)熒光(guang)光(guang)譜儀（XRF）、RoHS分析(xi)、空(kong)氣(qi)環境測(ce)試(shi)、土(tu)壤、貴(gui)金屬、伽瑪(ma)射線(xian)的(de)探(tan)測(ce)、考(kao)古(gu)、空間探(tan)測(ce)防等(deng)客戶(hu)提(ti)供(gong)高質量(liang)及(ji)高(gao)可(ke)靠性完整(zheng)X射線(xian)熒光(guang)光(guang)譜分(fen)析(xi)部(bu)件(jian)：X射(she)線(xian)熒光(guang)光(guang)譜探(tan)測(ce)器(qi)、X射線(xian)光(guang)管、電荷(he)靈(ling)敏前(qian)端(duan)放大器(qi)、數(shu)字(zi)脈沖處(chu)理器(qi)、電源(yuan)、新(xin)型(xing)窗(chuang)口(kou)材料(liao)B4C及(ji)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)。與此同(tong)時，Amptek公司(si)的(de)混(hun)合前(qian)置放大器(qi)。

二(er)手(shou)島津(jin)EDX-7000真(zhen)空(kong)+氦氣置換(huan)島津(jin)公司(si)能量色散(san)型(xing)X射(she)線(xian)熒光(guang)分析(xi)裝置的(de)旗(qi)艦(jian)機(ji)型(xing)—EDX-7000, 配(pei)置電子(zi)制(zhi)冷的(de)高性能半導體(ti)檢測(ce)器(qi)，實(shi)現更(geng)高靈(ling)敏度、高準(zhun)確(que)度、高效率(lv)。可(ke)以(yi)應(ying)對(dui)從(cong)RoHS/ELV指令的環境法規限(xian)制(zhi)的產品管理(li)到壹(yi)般材料(liao)分析(xi)的(de)各(ge)種(zhong)研究，從(cong)電子(zi)•電氣(qi)材料(liao)到汽(qi)車•機(ji)械(xie)、石(shi)油(you)化(hua)學(xue)、醫(yi)藥(yao)、食品等(deng)多(duo)行(xing)業(ye)領(ling)域。

供(gong)應二(er)手(shou)島津(jin)EDX-7000/8000/LE儀器(qi)種類(lei)： 臺式/落(luo)地(di)式能量色散(san)型(xing)X熒光(guang)光(guang)譜、XRF 分(fen)析(xi)含(han)量(liang)範(fan)圍(wei)： 0.1ppm-100% 素分析(xi)範(fan)圍(wei)：Na(11)~U(92) 能量分辨(bian)率(lv)：小(xiao)於(yu)140eV 重(zhong)復(fu)性：0.1% 探測(ce)器(qi)： 高性能SDD檢測(ce)器(qi)

二(er)手(shou)島津(jin)EDX-7000能量色散(san)X射線(xian)熒光(guang)光(guang)譜儀X熒光(guang)光(guang)譜儀(也稱(cheng)EDS、XRF或(huo)X-ray光(guang)譜分(fen)析(xi)儀)根據各(ge)元(yuan)素的特(te)征X射線(xian)的(de)強(qiang)度，可(ke)以(yi) 測(ce)定(ding)元(yuan)素(su)含量。 近年來(lai)，X熒光(guang)光(guang)譜分(fen)析(xi)在(zai)各(ge)行(xing)業(ye)應用(yong)範(fan)圍(wei)不(bu)斷(duan)拓展，已成(cheng)為(wei)壹(yi)種廣(guang)泛(fan)應用(yong)於(yu)冶(ye)金、地(di)質、有(you)色、建(jian)材、商檢、環保(bao)、衛生(sheng)等(deng)各(ge)個(ge)領(ling)域，特(te)別是(shi)在(zai)RoHS檢測(ce)領(ling)域應用(yong)得廣(guang)泛(fan)。 大多(duo)數(shu)分析(xi)元(yuan)素(su)均(jun)可(ke)用(yong)其(qi)進行(xing)分(fen)析(xi)，可(ke)分(fen)析(xi)固(gu)體(ti)、粉(fen)末(mo)、熔(rong)珠、液(ye)體(ti)等(deng)樣(yang)品。

shimadzuEDX-7000/8000:X射線(xian)熒光(guang)分析(xi)法，測定(ding)方(fang)法：能量色散(san)型(xing)，測(ce)定(ding)對(dui)象：固(gu)體(ti)、液(ye)體(ti)、粉(fen)末(mo)，測(ce)定(ding)範(fan)圍(wei)：11Na~92U，樣品室尺(chi)寸(cun)：大300（W）x275（D）x約(yue)100（H）mm（但是不(bu)包(bao)括R部(bu)分(fen)）