產(chan)品(pin)名稱(cheng):二手(shou) 麥(mai)克(ke) 3020比表面(mian)積(ji)與(yu)孔(kong)隙度(du)分(fen)析(xi)儀(yi)
產(chan)品(pin)型號(hao):
更(geng)新(xin)時(shi)間(jian):2025-12-25
產(chan)品(pin)特(te)點(dian):二手(shou) 麥(mai)克(ke) 3020比表面(mian)積(ji)與(yu)孔(kong)隙度(du)分(fen)析(xi)儀(yi) 是(shi)壹(yi)款(kuan)全(quan)自(zi)動三站(zhan)式(shi)比表面(mian)積(ji)和(he)孔(kong)隙度(du)分(fen)析(xi)儀(yi),專(zhuan)為(wei)藥(yao)品(pin)、陶(tao)瓷(ci)、活(huo)性(xing)炭等多(duo)種(zhong)領域(yu)的質量控(kong)制和(he)研發(fa)設(she)計(ji)。其主要特(te)點(dian)包括(kuo)同時獨立(li)分(fen)析(xi)三個(ge)樣品(pin)、高(gao)精(jing)度(du)的數據(ju)處理(li)功能、靈活的氣體選擇選項(xiang)、長時(shi)間(jian)無(wu)人幹預(yu)操作能力以及全(quan)面(mian)的數據(ju)分(fen)析(xi)方(fang)法(fa)。該儀器(qi)適(shi)用於(yu)廣泛的材料研(yan)究(jiu)與(yu)測(ce)試需求。
產(chan)品(pin)詳細資料:
二手(shou) 麥(mai)克(ke) 3020比表面(mian)積(ji)與(yu)孔(kong)隙度(du)分(fen)析(xi)儀(yi) 用(yong)途(tu):
藥(yao)品(pin)、陶(tao)瓷(ci)、活(huo)性(xing)炭、碳黑、油漆和(he)塗料、催化劑(ji)、推進(jin)燃料(liao)、醫(yi)用植入體、化妝(zhuang)品(pin)、電(dian)子產(chan)品(pin)、碳納米(mi)管、燃料(liao)電(dian)池、航空領域(yu)隔(ge)熱(re)層以及絕(jue)熱(re)材料的比表面(mian)以及孔(kong)隙度(du)的測(ce)定(ding)。
TriStar II 3020是全(quan)自(zi)動三站(zhan)式(shi)比表面(mian)積(ji)和(he)孔(kong)隙度(du)分(fen)析(xi)儀(yi),能夠提高(gao)質量控(kong)制分(fen)析(xi)的檢(jian)測(ce)速度(du),並提供(gong)高(gao)精(jing)度(du)、高(gao)分(fen)辨率和(he)數據(ju)處理(li)功能以滿足(zu)絕大(da)多(duo)數研發(fa)的需要。

技術(shu)特(te)點(dian)
· 同時和(he)獨立(li)分(fen)析(xi)三個(ge)樣品(pin) - 三個(ge)BET表面(mian)積分(fen)析(xi)時(shi)間(jian)少(shao)於(yu)20分(fen)鐘
· 標(biao)配(pei)壹(yi)個(ge)專(zhuan)用(yong)的飽和(he)壓力接口,可(ke)選多(duo)種(zhong)規格杜瓦(wa)瓶(ping)以及樣(yang)品(pin)管
· 可(ke)升級(ji)成(cheng)高(gao)真(zhen)空系(xi)統(tong),用於(yu)低比表面(mian)積(ji)以及微(wei)孔(kong)的測(ce)試
· 可(ke)以測(ce)定(ding)、計算(suan)或(huo)手(shou)動輸(shu)入(ru)自(zi)由空間(jian)
· 可(ke)以使(shi)用(yong)任(ren)何(he)氣體,死體積測(ce)試可(ke)以不使(shi)用(yong)氦氣
· 可(ke)選滿足(zu)FDA的要求的Confirm 21 CFR Part 11的軟件。 IQ和(he)OQ認(ren)證服務,確(que)保(bao)該系統(tong)的準確(que)性(xing)、可(ke)靠(kao)性(xing)和(he)壹(yi)致性(xing)。這(zhe)些(xie)服務保(bao)障了
分(fen)析(xi)記(ji)錄(lu)的完(wan)整性
· 儀(yi)器(qi)配(pei)置了液(ye)氮(dan)液(ye)面(mian)保(bao)持裝置---液氮(dan)等(deng)溫(wen)夾,以確(que)保(bao)整個(ge)分(fen)析(xi)過(guo)程(cheng)中(zhong)等(deng)溫(wen)夾套(tao)以下的溫(wen)度(du)恒定(ding)
· 儀器(qi)可(ke)同時進行(xing)三個(ge)樣品(pin)的分(fen)析(xi),滿足(zu)測(ce)試量(liang)大(da)的用戶(hu),不(bu)是多個(ge)工作站(zhan)的"排(pai)隊分(fen)析(xi)",每(mei)個(ge)分(fen)析(xi)站(zhan)都(dou)配(pei)有(you)獨立(li)的傳感(gan)器(qi),保(bao)證三個(ge)
分(fen)析(xi)站(zhan)分(fen)析(xi)的同時進行(xing)
· 配(pei)備(bei)了大(da)容(rong)量(liang)杜瓦(wa)瓶(ping),結合的液氮(dan)等(deng)溫(wen)夾,保(bao)證至(zhi)少(shao)60小時無(wu)人介(jie)入操作。無(wu)上限(xian)的連(lian)續(xu)分(fen)析(xi)
· 儀(yi)器(qi)軟(ruan)件包含(han)了目(mu)前所(suo)有的數據(ju)處理(li)方法(fa):
單點(dian)和(he)多點(dian)BET比表面(mian)積(ji),Langmuir比表面(mian)積(ji)
Temkin and Freundlich等溫(wen)線分(fen)析(xi)
多(duo)種(zhong)厚度(du)層公(gong)示(shi)計(ji)算的BJH中孔(kong)和(he)大(da)孔(kong)的孔(kong)體積、孔(kong)面積(ji)對孔(kong)徑的分(fen)布
孔(kong)體積和(he)用戶指(zhi)定(ding)孔(kong)徑範(fan)圍(wei)內的總孔(kong)體積
MP法(fa)的微(wei)孔(kong)孔(kong)徑分(fen)布和(he)t-plots、αs-plots得(de)到(dao)的微(wei)孔(kong)總孔(kong)體積
f-Ratio plots,D-R,D-A
H-K法(fa)(包括(kuo)Cheng & Yang校(xiao)正(zheng),Saito & Foley校(xiao)正(zheng))
DFT密(mi)度(du)函數理(li)論,包括(kuo)NLDFT等(deng)

二手(shou) 麥(mai)克(ke) 3020比表面(mian)積(ji)與(yu)孔(kong)隙度(du)分(fen)析(xi)儀(yi)產(chan)品(pin)應用(yong)
借助於(yu)氣體吸附原(yuan)理(li)(典(dian)型為(wei)氮(dan)氣)可(ke)進行(xing)等(deng)溫(wen)吸附和(he)脫(tuo)附分(fen)析(xi),用(yong)於(yu)確(que)定(ding)比表面(mian)積(ji)、微(wei)孔(kong)孔(kong)體積和(he)孔(kong)面積(ji)、中孔(kong)體積和(he)面積、總孔(kong)體積等。
適(shi)用於(yu)各(ge)種(zhong)材料的研究(jiu)與(yu)產(chan)品(pin)測(ce)試,包括(kuo)測(ce)量沸(fei)石(shi)、碳材料、分(fen)子篩、二氧化(hua)矽(gui)、氧化(hua)鋁、土壤、黏(nian)土、有機(ji)金(jin)屬化(hua)合物骨架結構(gou)等各(ge)種(zhong)材料。
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