掃描電子顯(xian)微鏡表面(mian)分(fen)析儀(yi)優點(dian):

①有較高(gao)的(de)放大(da)倍數(shu)，幾萬(wan)~幾十萬(wan)倍之間連續可(ke)調(tiao)；

②有很大(da)的景(jing)深，視野(ye)大(da)，成像(xiang)富有立體(ti)感(gan)，可(ke)直(zhi)接觀(guan)察(cha)各種試樣凹凸不(bu)平表面(mian)的(de)細(xi)微結構(gou)；

③試樣制(zhi)備簡單(dan)。 目前(qian)的掃描電鏡都(dou)配(pei)有X射線能譜儀(yi)裝置，這(zhe)樣可以同(tong)時進行顯(xian)微組織(zhi)性貌的(de)觀(guan)察(cha)和微區(qu)成分(fen)分(fen)析，因此(ci)它是(shi)當今(jin)十分(fen)有用的(de)科學研(yan)究(jiu)儀(yi)器。

掃描電子顯(xian)微鏡表面(mian)分(fen)析儀(yi)
優秀(xiu)電子光學系(xi)統(tong)                                                

掃描電子顯(xian)微鏡金屬(shu)材(cai)料表面(mian)分(fen)析儀(yi)JSM-IT100A是(shi)日本(ben)電子株式會(hui)社推(tui)出(chu)機(ji)型(xing)，沿襲(xi)日本(ben)電子的優秀(xiu)電子光學系(xi)統(tong)，集合(he)了(le)分析掃描電鏡精髓(sui)功(gong)能(neng)，設(she)計(ji)精簡自動化(hua)程(cheng)度(du)高(gao)。

使(shi)用(yong)多(duo)點(dian)觸(chu)摸屏，操作(zuo)舒(shu)適                                            

掃描電子顯(xian)微鏡金屬(shu)材(cai)料表面(mian)分(fen)析儀(yi)JSM-IT100A通(tong)過多(duo)點(dian)觸(chu)控(kong)技(ji)術和的(de)操作(zuo)軟(ruan)件，操作(zuo)直(zhi)觀簡單(dan)。只需輕(qing)觸(chu)屏幕就能操控(kong)各(ge)種功能，舒(shu)適便捷。新開(kai)發的操作(zuo)界(jie)面簡明(ming)易懂，即(ji)使是(shi)SEM新手也(ye)能(neng)輕(qing)松(song)獲得(de)高(gao)品(pin)質(zhi)的SEM圖像，進(jin)行EDS元(yuan)素(su)分析。

標(biao)準(zhun)配(pei)置EDS分(fen)析功能(neng)的(de)分(fen)析型(xing)掃描電鏡                                          

標(biao)準(zhun)配(pei)置EDS分(fen)析功能(neng)的(de)JSM-IT100A，不(bu)僅(jin)能(neng)獲取高(gao)分辨(bian)率的圖(tu)像(xiang)，還采(cai)用(yong)了(le)無(wu)需液氮制(zhi)冷的EDS檢(jian)測器 (DRY SD)，能(neng)夠進行定(ding)性分析、定(ding)量分(fen)析、元素(su)面分(fen)布(bu)。此(ci)外(wai)，搭(da)載(zai)的(de)大(da)型(xing)全(quan)對(dui)中(zhong)形(xing)樣品(pin)臺(tai)可以對應(ying)各種樣品(pin)。