深(shen)圳(zhen)市心怡(yi)創科(ke)技有(you)限公司銷售電(dian)話(hua)：
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掃描(miao)電(dian)子(zi)顯(xian)微(wei)鏡金屬(shu)材料(liao)表面(mian)分析儀(yi)主(zhu)要(yao)是(shi)利(li)用二次電(dian)子(zi)信(xin)號(hao)成像來(lai)觀(guan)察樣(yang)品的表(biao)面形態.，可(ke)直接利(li)用樣(yang)品表(biao)面(mian)材(cai)料(liao)的物質性能進行微觀(guan)成像
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JEOL捷(jie)歐路掃描(miao)電(dian)子(zi)顯(xian)微(wei)鏡（SEM）IT100的測試範(fan)圍：各(ge)種固體(ti)材(cai)料(liao)的形貌(mao)分析、微區(qu)化學(xue)成分檢測，樣(yang)品成份的線(xian)分布(bu)和(he)面分布(bu)分析.
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桌(zhuo)面型掃描(miao)電(dian)子(zi)顯(xian)微(wei)鏡SEM表(biao)面(mian)分析儀(yi)IT100利(li)用二次電(dian)子(zi)信(xin)號(hao)成像來(lai)觀(guan)察樣(yang)品的表(biao)面形態.，可(ke)直接利(li)用樣(yang)品表(biao)面(mian)材(cai)料(liao)的物質性能進行微觀(guan)成像.IT100自(zi)帶(dai)能譜,也(ye)可(ke)以(yi)分解(jie).也(ye)是(shi)日本(ben)電(dian)子(zi)的壹(yi)款掃描(miao)電(dian)鏡(jing)表(biao)面(mian)分析儀(yi).
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桌(zhuo)面型掃描(miao)電(dian)子(zi)顯(xian)微(wei)鏡表(biao)面(mian)分析儀(yi)利(li)用二次電(dian)子(zi)信(xin)號(hao)成像來(lai)觀(guan)察樣(yang)品的表(biao)面形態.，可(ke)直接利(li)用樣(yang)品表(biao)面(mian)材(cai)料(liao)的物質性能進行微觀(guan)成像
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