掃(sao)描電(dian)子顯(xian)微鏡金屬材(cai)料表面(mian)分(fen)析儀主(zhu)要(yao)是利(li)用(yong)二(er)次電(dian)子信(xin)號(hao)成(cheng)像來(lai)觀察樣品(pin)的(de)表面(mian)形態.，可直接(jie)利(li)用(yong)樣品(pin)表面(mian)材(cai)料的(de)物質(zhi)性能(neng)進行(xing)微觀成(cheng)像

二(er)手日(ri)本電(dian)子 SEM電(dian)鏡+EDX能(neng)譜日(ri)本電(dian)子掃(sao)描電(dian)鏡JSM-IT300型(xing)是壹(yi)款高(gao)性能(neng)，多(duo)功能(neng)，多(duo)用途(tu)的(de)鎢燈絲掃(sao)描電(dian)鏡。性的(de)前衛(wei)性外(wai)觀設計(ji)還(hai)特(te)別吸引眼球(qiu)。

日(ri)本電(dian)子-IT200A掃(sao)描電(dian)鏡經過改進照射系統(tong)、真空系統(tong)和(he)信(xin)號(hao)處(chu)理系(xi)統(tong)，不(bu)僅能(neng)觀察高(gao)質(zhi)量(liang)的(de)圖像，還(hai)能(neng)利(li)用(yong)觸控屏和快(kuai)速(su)樣品(pin)臺進行(xing)高(gao)通(tong)量(liang)的(de)直觀操作。

JEOL捷歐(ou)路掃描電(dian)子顯(xian)微鏡（SEM）IT100的(de)測試(shi)範圍：各種固(gu)體材(cai)料的(de)形貌(mao)分(fen)析、微區化(hua)學成(cheng)分(fen)檢測(ce)，樣品(pin)成(cheng)份(fen)的(de)線分(fen)布(bu)和面(mian)分(fen)布(bu)分(fen)析.

桌(zhuo)面(mian)型(xing)掃描電(dian)子顯(xian)微鏡SEM表面(mian)分(fen)析儀IT100利(li)用(yong)二(er)次電(dian)子信(xin)號(hao)成(cheng)像來(lai)觀察樣品(pin)的(de)表面(mian)形態.，可直接(jie)利(li)用(yong)樣品(pin)表面(mian)材(cai)料的(de)物質(zhi)性能(neng)進行(xing)微觀成(cheng)像.IT100自帶(dai)能(neng)譜,也可(ke)以(yi)分(fen)解.也是(shi)日(ri)本電(dian)子的(de)壹款掃描電(dian)鏡表面(mian)分(fen)析儀.

桌(zhuo)面(mian)型(xing)掃描電(dian)子顯(xian)微鏡表面(mian)分(fen)析儀利(li)用(yong)二(er)次電(dian)子信(xin)號(hao)成(cheng)像來(lai)觀察樣品(pin)的(de)表面(mian)形態.，可直接(jie)利(li)用(yong)樣品(pin)表面(mian)材(cai)料的(de)物質(zhi)性能(neng)進行(xing)微觀成(cheng)像