JEOL捷(jie)歐(ou)路掃描(miao)電(dian)子顯微(wei)鏡(SEM)IT100

壹:測(ce)試(shi)範(fan)圍：

各種固(gu)體(ti)材(cai)料的(de)形(xing)貌(mao)分析

微區化學(xue)成分檢測(ce)

樣品成份(fen)的(de)線分布和面(mian)分布分析.

二:表面分析有哪(na)些(xie):

1. 表面形(xing)貌(mao)分析

2. 表面成(cheng)分分析

3. 表面化(hua)學(xue)狀態分析

4. 表面顏(yan)色(se)、色(se)差測試(shi)

5. 表面(mian)相結構分析

6. 表面應力分析

7. 表面粗糙度(du)測(ce)試(shi)

8. 表面(mian)異(yi)物(wu)分析

9. 表面失(shi)效(xiao)分析

10.表面處理工(gong)藝(yi)判斷

三:表面(mian)異(yi)物(wu)分析:

在生(sheng)產(chan)中,表面(mian)往往容易被汙(wu)染、腐(fu)蝕、氧(yang)化，形(xing)成其(qi)他(ta)異(yi)物(wu)，壹般(ban)很(hen)難用肉(rou)眼分辨，更(geng)無法了解(jie)其(qi)成(cheng)分與(yu)來(lai)源，必須通過(guo)顯微(wei)途徑(jing)觀察分析。中心配(pei)備(bei)有顯微(wei)紅(hong)外、放(fang)大(da)倍數(shu)從(cong)10倍-20萬(wan)倍的(de)掃描(miao)電(dian)子顯微(wei)鏡和對(dui)固(gu)體樣品元素(su)價態分析的(de)X射(she)線光(guang)電(dian)子能譜，可(ke)以分別對(dui)不同現象(xiang)和類別(bie)的(de)異(yi)物(wu)進行(xing)分析。掃描(miao)電(dian)子顯微(wei)鏡可(ke)在分子尺(chi)度(du)，對(dui)材(cai)料微觀(guan)形(xing)貌進行(xing)直接(jie)觀測，同時(shi)對(dui)微(wei)小區域(yu)進行(xing)X射線能譜測試(shi)，分析其成分組(zu)成(cheng)，X射(she)線光(guang)電(dian)子能譜能夠(gou)對(dui)固(gu)體樣品的(de)元(yuan)素(su)成(cheng)分進行(xing)定性(xing)、定量或半(ban)定量及價態分析，廣(guang)泛(fan)應用於元(yuan)素(su)分析、多相研(yan)究(jiu)、化合物(wu)結果鑒(jian)定、富集法微量元素(su)分析、元素價(jia)態鑒定等。

四:JEOL捷(jie)歐(ou)路掃描(miao)電(dian)子顯微(wei)鏡(SEM)IT100?分析儀(yi)優點:
①有較(jiao)高的(de)放(fang)大(da)倍數(shu)，幾(ji)萬(wan)~幾十萬(wan)倍之(zhi)間連(lian)續可(ke)調；
②有很(hen)大(da)的(de)景(jing)深(shen)，視野大(da)，成(cheng)像富有立體感，可(ke)直接(jie)觀察各種試(shi)樣凹凸(tu)不平表面(mian)的(de)細(xi)微結構；
③試(shi)樣制(zhi)備(bei)簡單。 目(mu)前的(de)掃描(miao)電(dian)鏡都配(pei)有X射(she)線能譜儀(yi)裝置(zhi)，這樣可(ke)以同時(shi)進(jin)行(xing)顯微(wei)組(zu)織(zhi)性(xing)貌(mao)的(de)觀(guan)察和微(wei)區成分分析，因此它是(shi)當今(jin)十分有用的(de)科學(xue)研(yan)究(jiu)儀(yi)器(qi)。


五(wu):JEOL捷(jie)歐(ou)路掃描(miao)電(dian)子顯微(wei)鏡(SEM)IT100核(he)心參數:
背散(san)射(she)電(dian)子圖(tu)像分辨率   4nm
二次電(dian)子圖(tu)象(xiang)分辨率   3nm@30KV
加速電(dian)壓    0.5-30kV
放(fang)大(da)倍數(shu)    5-300000
儀(yi)器(qi)種類    鎢(wu)燈(deng)絲