結(jie)構(gou)分析(xi)場(chang)發(fa)射掃描(miao)電鏡/ ULTRA系列掃描(miao)電鏡ULTRA綜(zong)合(he)采(cai)用(yong)了(le)用(yong)於(yu)形(xing)貌(mao)成像(xiang)的(de)GEMINI® In-len二(er)次(ci)電子探測器(qi)、用(yong)於(yu)清晰的(de)組(zu)分(fen)襯度(du)的(de)EsB探(tan)測器(qi)和(he)用(yong)於(yu)采(cai)集晶體(ti)通道(dao)信(xin)息(xi)的(de)AsB探(tan)測器(qi)。同步的(de)實(shi)時成像(xiang)與(yu)信(xin)號(hao)混合(he)功(gong)能提(ti)供了*的(de)成(cheng)像(xiang)能(neng)力。 
EsB探測器(qi)包含(han)有(you)壹個過濾柵網(wang)，通過它(ta)可(ke)實(shi)現高(gao)分辨(bian)率(lv)背(bei)散(san)射電子(zi)成(cheng)像(xiang)，讓(rang)以前無法(fa)看(kan)見(jian)的(de)細節歷歷在(zai)目。
卡爾(er).蔡司(si)*的(de)荷(he)電(dian)補(bu)償功(gong)能在(zai)使用(yong)所(suo)有(you)探(tan)測器(qi)時，都(dou)可(ke)以分(fen)析(xi)非導電(dian)樣(yang)品(pin) 

 低(di)加速(su)電壓時的(de)超(chao)高(gao)分(fen)辨(bian)率(lv)二(er)次(ci)電子和(he)背(bei)散射電子(zi)成(cheng)像(xiang) 
 用(yong)於(yu)在(zai)納米(mi)尺度(du)上實(shi)現組(zu)分襯度(du)成像(xiang)的(de)高(gao)效(xiao)EsB / AsB探(tan)測器(qi) 
 精(jing)確控(kong)制(zhi)的(de)超(chao)大(da)自(zi)動優(you)中(zhong)心（eucentric）樣(yang)品(pin)臺(tai) 
 背散射電子(zi)和(he)二(er)次(ci)電子信(xin)號(hao)的(de)實(shi)時成像(xiang)與(yu)混合(he)功(gong)能 
 抑制不導電(dian)樣(yang)品(pin)的(de)荷(he)電(dian)效(xiao)應 
 用(yong)於(yu)X射線(xian)分析(xi)和(he)背(bei)散射電子(zi)衍(yan)射（EBSD）應用(yong)的(de)超(chao)穩定束流(liu)模(mo)式

結(jie)構(gou)分析(xi)場(chang)發(fa)射掃描(miao)電鏡/ ULTRA系列掃描(miao)電鏡技(ji)術參數：

ULTRA 55SE

成(cheng)像(xiang)與(yu)測量(liang)工作站

主要(yao)特點：

ULTRA——*的(de)成(cheng)像(xiang)工(gong)具

看(kan)得(de)更(geng)多(duo)——超高分辨(bian)率(lv)的(de)SE與(yu)BSE同步成像(xiang) 
看(kan)得(de)更(geng)清——精(jing)確的(de)*成(cheng)像(xiang)能(neng)力 
看(kan)得(de)更(geng)細——納米(mi)尺度(du)上進(jin)行組分(fen)分(fen)析(xi)的(de)利(li)器(qi) 
簡(jian)便易(yi)用(yong)——全(quan)面(mian)集(ji)成(cheng)的(de)鏡(jing)筒(tong)內(nei)置式背(bei)散射電子(zi)探(tan)測器(qi)（EsB）和(he)二(er)次(ci)電子探測器(qi)（In-lens     detector） 
遠(yuan)離(li)荷(he)電(dian)——Ultra plus中(zhong)安裝有(you)荷(he)電(dian)補償(chang)器(qi)，實(shi)現了(le)不導電(dian)樣(yang)品(pin)的(de)清晰、精(jing)確成(cheng)像(xiang)