結(jie)構分析(xi)場發射(she)掃描電鏡(jing)/ ULTRA系(xi)列掃描電鏡(jing)儀器(qi)簡(jian)介(jie)： 在(zai)SUPRA™場(chang)發射(she)掃描電子(zi)顯微鏡(jing)基(ji)礎(chu)上發展(zhan)起(qi)來的(de)ULTRA 場(chang)發射(she)掃描電子(zi)顯微鏡(jing)是用(yong)於納(na)米(mi)結構(gou)分析(xi)的電子(zi)束成(cheng)像(xiang)儀器(qi)中(zhong)的*，它(ta)接(jie)收(shou)效率(lv)高(gao)、可以超高(gao)分(fen)辨率(lv)成(cheng)像。開(kai)發的(de)能(neng)量(liang)選(xuan)擇(ze)式(shi)背散(san)射(she)電子(zi)探測(ce)器(qi)（EsB）和(he)角度(du)選(xuan)擇(ze)式(shi)背散(san)射(she)電子(zi)探測(ce)器(qi)（AsB）則(ze)代(dai)表(biao)了著(zhu)名(ming)的(de)GEMINI®技(ji)術(shu)的發展(zhan)。

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