產(chan)品(pin)名(ming)稱(cheng):二手(shou)shimadzu EDX-7000/LEplus SDD檢測器
產品型(xing)號(hao):
更新(xin)時(shi)間:2025-02-13
產品(pin)特(te)點:二手(shou)shimadzu EDX-7000/LEplus SDD檢測器:Amptek產品為(wei)X射線(xian)熒(ying)光光譜(pu)儀(yi)(XRF)、RoHS分(fen)析(xi)、空(kong)氣(qi)環(huan)境(jing)測試、土壤(rang)、貴金屬、伽瑪(ma)射線(xian)的探(tan)測、考古、空(kong)間探測(ce)防等客(ke)戶(hu)提(ti)供(gong)高(gao)質量(liang)及高(gao)可(ke)靠性(xing)完(wan)整(zheng)X射線(xian)熒(ying)光光譜(pu)分(fen)析(xi)部件(jian):X射線(xian)熒(ying)光光譜(pu)探(tan)測器、X射線(xian)光管(guan)、電(dian)荷靈(ling)敏(min)前端放大器(qi)、數(shu)字(zi)脈沖處(chu)理器(qi)、電(dian)源、新(xin)型(xing)窗口(kou)材(cai)料(liao)B4C及分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)。與此(ci)同時(shi),Amptek公司(si)的混(hun)合(he)前置(zhi)放大器(qi)。
產(chan)品詳(xiang)細資(zi)料:
二手(shou)shimadzu EDX-7000/LEplus SDD檢測器Amptek 探測器(qi)是(shi) X 射線(xian)光譜(pu)測(ce)量領(ling)域技術(shu)的代(dai)表,可(ke)提(ti)供(gong)超(chao)高(gao)的能(neng)量(liang)分(fen)辨(bian)率、低能(neng)量效率、計(ji)數率(lv)、峰(feng)背比,並(bing)且成(cheng)本低廉(lian),適(shi)用於便攜(xie)式(shi)系(xi)統(tong)、真(zhen)空系(xi)統(tong)、OEM 儀(yi)器和(he)實(shi)驗(yan)室(shi)研(yan)究。Amptek 在(zai)該(gai)系(xi)列下(xia)擁(yong)有(you)幾(ji)種不同類型(xing)的探(tan)測(ce)器(qi),它們(men)均(jun)采用核心(xin)技(ji)術(shu),但(dan)針(zhen)對不同的應(ying)用進(jin)行(xing)了(le)優(you)化(hua)。

探測器(qi)類型(xing)
FAST SDD:這(zhe)是(shi) Amptek 性(xing)能(neng)最(zui)高(gao)的探(tan)測(ce)器(qi)。對於(yu)對性(xing)能(neng)要求(qiu)很高(gao)的用戶(hu),建議使用 FAST SDD。它可(ke)以(yi)提(ti)供(gong)超(chao)高(gao)的能(neng)量(liang)分(fen)辨(bian)率(在(zai) 5.895 keV 時(shi)低至(zhi) 122 eV FWHM),可(ke)以(yi)測(ce)量(liang)能量 X 射線(xian)(在(zai) 52 eV 時(shi)低至(zhi) Li Ka 線(xian)),具有(you)超(chao)高(gao)的峰(feng)背比,可(ke)以(yi)以(yi)超(chao)高(gao)的計(ji)數率(lv)(> 1 Mcps)運(yun)行,並(bing)可(ke)提(ti)供(gong)******面(mian)積(****** 70 mm2)。FAST SDD 被(bei)廣(guang)泛用於最(zui)嚴(yan)苛(ke)的(de) XRF 應用、EDS 和 SEMS/TEM、同步加速器和(he)其(qi)他研(yan)究系(xi)統(tong)中(zhong)。
SDD: 推(tui)薦需(xu)要中(zhong)等(deng)能量分(fen)辨(bian)率和(he)計(ji)數率(lv)的(de)用戶(hu)使用。SDD 的典型(xing)分(fen)辨(bian)率為(wei) 125 eV,計(ji)數率(lv)通(tong)常(chang)為(wei) 200 kcps。它被(bei)廣(guang)泛用於許(xu)多便攜(xie)式(shi) XRF 應(ying)用。
Si-PIN:建議用於需(xu)要中(zhong)等(deng)能量分(fen)辨(bian)率和(he)計(ji)數率(lv)且預(yu)算不高(gao)的應(ying)用。Si-PIN 器件(jian)具有(you)傳統(tong)的平(ping)面(mian)結(jie)構,電(dian)子噪聲(sheng)比 SDD 更大,但(dan)更(geng)易於(yu)制(zhi)造(zao)。目前(qian)有(you)三(san)種不同的 Si-PIN 型(xing)號(hao),面(mian)積分(fen)別(bie)為(wei) 6 mm2、13mm2 和 25 mm2。6 mm2 探(tan)測器可(ke)以(yi)高(gao)達 50k cps 的(de)計(ji)數率(lv)在(zai) 5.9 keV Mn Ka 線(xian)處(chu)提(ti)供(gong) 140 eV FWHM 的(de)能量(liang)分(fen)辨(bian)率。13 mm2 和(he) mm2 探測(ce)器(qi)在(zai)相(xiang)同的計(ji)數率(lv)下(xia)可(ke)提(ti)供(gong)典型(xing)的能(neng)量(liang)分(fen)辨(bian)率為(wei) 180 和 210 eV 。
CdTe:推(tui)薦用於 20-30 keV 以(yi)上的應用。CdTe 的阻(zu)止本(ben)領(ling)比 Si 高(gao)得(de)多,可(ke)以(yi)制(zhi)造(zao)得(de)更(geng)厚,因此(ci)對所有(you)特(te)征 X 射線(xian)(甚至(zhi)到(dao) U 的(de) K 線(xian))都具(ju)有(you)高(gao)效率。CdTe 的(de)電(dian)子噪聲(sheng)比任何壹(yi)個 Si 探(tan)測器(qi)都要差(5.9 keV Mn Ka 線(xian)處(chu)的分(fen)辨(bian)率通(tong)常(chang)為(wei) 450 eV FWHM),這(zhe)使 Si 探測器成為(wei)低於(yu) 20 keV 能量(liang)應用的更好選(xuan)擇(ze)。但(dan)是(shi),在(zai) 20 至(zhi) 30 keV 以(yi)上,分(fen)辨(bian)率主(zhu)要(yao)由(you) Fano 展(zhan)寬決(jue)定,因(yin)此(ci)差異(yi)變小,特征 X 射線(xian)間距更寬,Si 探(tan)測器(qi)的(de)效率下(xia)降,這(zhe)使 CdTe 成為(wei)更好的(de)選(xuan)擇(ze)。CdTe 探測(ce)器非常(chang)適(shi)合(he)測量 X 射線(xian)管的(de)頻譜,適(shi)用於效率非常(chang)重(zhong)要而(er)能(neng)量分(fen)辨(bian)率不那麽重要(yao)的應用。 CdTe 也是(shi)伽馬(ma)射線(xian)應用的不錯(cuo)選(xuan)擇(ze)。
探測(ce)器選(xuan)型(xing)表
探(tan)測(ce)器(qi)類型(xing) | 保證能(neng)量分(fen)辨(bian)率 |
Si-PIN | 139 – 159 eV |
Si-PIN | 180 – 205 eV |
Si-PIN | 190 – 225 eV |
SDD | 125 – 135 eV |
FAST SDD | 122 – 129 eV |
FAST SDD-70 | 123 – 135 eV |
*所有(you)結(jie)果均(jun)在(zai)探測(ce)器冷(leng)卻的(de)情況下(xia)獲(huo)得(de)。峰(feng)背(P/B)比是(shi)指(zhi) 13 和(he) 25 mm2 Si-PIN 從 5.9 keV 到(dao) 2 keV 的計(ji)數比以(yi)及所有(you) SDD 和(he) 6 mm2 Si-PIN 從 5.9 keV 到(dao) 1 keV 的計(ji)數比。用戶(hu)在(zai)選(xuan)擇(ze)探測(ce)器時(shi)不僅應考慮(lv)分(fen)辨(bian)率,還(hai)應考慮(lv)面(mian)積、厚(hou)度、吞(tun)吐量(liang)和(he)峰(feng)背比。

探頭性(xing)能(neng)對比
圖1. Si-PIN 和 SDD 探測(ce)器(qi)的分(fen)辨(bian)率與(yu)峰(feng)值(zhi)時(shi)間之間的關(guan)系(xi)。峰(feng)值(zhi)時(shi)間約為(wei) 2.4 倍整(zheng)形時(shi)間。

圖2. 6 mm2、13 mm2 和(he) 25 mm2 Si-PIN 探(tan)測器(qi)的分(fen)辨(bian)率與(yu)峰(feng)值(zhi)時(shi)間和溫度(du)之間的關(guan)系(xi)。

圖3. 25 mm2 標準和 FAST SDD 探(tan)測器的(de)分(fen)辨(bian)率與(yu)峰(feng)值(zhi)時(shi)間和溫度(du)之間的關(guan)系(xi)。
圖4. 70 mm2 FAST SDD 探(tan)測器的分(fen)辨(bian)率與(yu)峰(feng)值(zhi)時(shi)間和溫度(du)之間的關(guan)系(xi)。
二手(shou)shimadzu EDX-7000/LEplus SDD檢測器探頭配(pei)置(zhi)
所有(you)Amptek X射線(xian)探測(ce)器元(yuan)件(jian)均有(you) XR-100、X-123 或(huo) OEM 配(pei)置(zhi)。
XR-100 配(pei)置(zhi)僅包括探測器(qi)和前置(zhi)放大器(qi),必(bi)須與(yu) PX5 數(shu)字(zi)脈沖處(chu)理器(qi)或 DP5/PC5處(chu)理器(qi)和電(dian)源構(gou)成(cheng)完(wan)整(zheng)系(xi)統(tong)。XR-100/PX5 組(zu)合(he)最(zui)為(wei)靈(ling)活(huo),專(zhuan)為(wei)實驗(yan)室(shi)和(he)研(yan)究用途而(er)設(she)計(ji)。
X-123 包括探測器(qi)、數字(zi)脈沖處(chu)理器(qi)和電(dian)源,是(shi)壹(yi)個完(wan)整(zheng)的系(xi)統(tong)。X-123 配(pei)置(zhi)是(shi)臺(tai)式(shi)和(he)對尺寸(cun)、便攜(xie)性(xing)等(deng)應用的理想(xiang)選(xuan)擇(ze)。
對於(yu)手(shou)持式(shi)和(he)定制(zhi)應(ying)用,還(hai)有(you)更(geng)小尺寸(cun)的OEM配(pei)置(zhi)可(ke)供選(xuan)擇(ze)。
| 如(ru)果妳(ni)對此(ci)產品(pin)感(gan)興(xing)趣(qu),想(xiang)了(le)解(jie)更詳(xiang)細的(de)產品(pin)信(xin)息(xi),填寫下(xia)表(biao)直(zhi)接與廠家(jia)聯(lian)系(xi): |
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