桌面型(xing)掃描(miao)電子顯微(wei)鏡SEM表面分(fen)析(xi)儀(yi)IT100
優(you)秀(xiu)電子光(guang)學系(xi)統(tong)                                                

掃描(miao)電子顯微(wei)鏡金(jin)屬材(cai)料表面分(fen)析(xi)儀(yi)JSM-IT100A是日(ri)本(ben)電子株(zhu)式(shi)會(hui)社推(tui)出(chu)機型(xing)，沿(yan)襲日本(ben)電子的優(you)秀(xiu)電子光(guang)學系(xi)統(tong)，集合(he)了(le)分析(xi)掃描(miao)電鏡精(jing)髓(sui)功(gong)能(neng)，設(she)計精(jing)簡自動(dong)化(hua)程(cheng)度(du)高。

使用(yong)多點(dian)觸(chu)摸(mo)屏，操(cao)作舒(shu)適(shi)                                            

桌(zhuo)面型(xing)掃描(miao)電子顯微(wei)鏡SEM表面分(fen)析(xi)儀(yi)IT100通過(guo)多點(dian)觸(chu)控技術(shu)和的操作(zuo)軟件，操(cao)作直(zhi)觀簡單。只(zhi)需(xu)輕觸(chu)屏(ping)幕就(jiu)能(neng)操(cao)控各種(zhong)功(gong)能(neng)，舒(shu)適(shi)便(bian)捷。新(xin)開(kai)發的操作(zuo)界(jie)面簡明易(yi)懂，即(ji)使是(shi)SEM新(xin)手(shou)也能(neng)輕(qing)松獲(huo)得高(gao)品(pin)質(zhi)的SEM圖像，進行EDS元(yuan)素分析(xi)。

標準(zhun)配置EDS分析(xi)功(gong)能(neng)的分析(xi)型(xing)掃描(miao)電鏡                                          

標(biao)準(zhun)配置EDS分析(xi)功(gong)能(neng)的JSM-IT100A，不(bu)僅(jin)能(neng)獲(huo)取高(gao)分辨(bian)率(lv)的圖像，還采(cai)用(yong)了(le)無需(xu)液氮制冷(leng)的EDS檢(jian)測(ce)器 (DRY SD)，能(neng)夠進(jin)行(xing)定(ding)性(xing)分(fen)析(xi)、定(ding)量分析(xi)、元(yuan)素面分(fen)布(bu)。此(ci)外(wai)，搭載的大型(xing)全(quan)對中形樣(yang)品(pin)臺(tai)可(ke)以(yi)對應各(ge)種(zhong)樣品。

優(you)點(dian):

①有較高(gao)的放大倍(bei)數，幾(ji)萬~幾(ji)十萬倍(bei)之(zhi)間連(lian)續(xu)可(ke)調；

②有很(hen)大的景深，視(shi)野(ye)大，成(cheng)像富有立(li)體(ti)感(gan)，可(ke)直(zhi)接觀察(cha)各種(zhong)試樣凹凸不(bu)平表面的細微(wei)結(jie)構(gou)；

③試樣(yang)制備簡單。 目(mu)前(qian)的掃描(miao)電鏡都(dou)配有(you)X射線能(neng)譜儀(yi)裝(zhuang)置，這(zhe)樣可(ke)以(yi)同時(shi)進(jin)行(xing)顯(xian)微(wei)組(zu)織(zhi)性(xing)貌的觀察(cha)和微(wei)區(qu)成(cheng)分分析(xi)，因此(ci)它(ta)是(shi)當今十分有(you)用的科學(xue)研(yan)究(jiu)儀(yi)器(qi)。