維(wei)修(xiu) 更換(huan) AMPTEK SDD檢(jian)測器AMPTEK SDD 檢(jian)測器即(ji) AMPTEK 矽(gui)漂移探(tan)測器，是(shi)壹種用於(yu)探(tan)測 X 射(she)線(xian)的半(ban)導(dao)體探(tan)測器，廣泛(fan)應用於(yu)能(neng)量(liang)色散型(xing) X 射(she)線(xian)熒光(guang)光(guang)譜(pu)儀(yi)（XRF）和 X 射(she)線(xian)能(neng)譜(pu)儀(yi)（EDS）等(deng)設備中(zhong)。

維(wei)修(xiu) AMPTEK矽漂移探(tan)測器FAST SDD將矽(gui)片制造(zao)引(yin)入(ru)內(nei)部，並(bing)改(gai)進(jin)了(le)工藝。其結(jie)果是(shi)探(tan)測器具有更(geng)低(di)的(de)噪聲(sheng)、更(geng)低(di)的(de)泄漏(lou)電流、更(geng)好(hao)的電荷收(shou)集(ji)以(yi)及(ji)探(tan)測器之間(jian)的均勻性。這(zhe)使(shi)其成(cheng)為性能(neng)更好(hao)的矽(gui)漂移探(tan)測器。

維(wei)修(xiu)島津EDX-7000/8000--SDD檢(jian)測器 SDD探(tan)測器廣泛(fan)的應(ying)用於(yu)XRF分析(xi)儀(yi)器制備，科(ke)學研究(jiu)以(yi)及(ji)宇(yu)宙(zhou)探(tan)索(suo)等諸(zhu)多(duo)領(ling)域(yu)

AMETEK FAST SDD 檢(jian)測器 Amptek推出(chu)全新(xin)SDD探(tan)測器，針(zhen)對(dui)掃描(miao)電鏡能(neng)譜(pu)儀(yi)客(ke)戶應用（EDS SEM）利(li)用全新(xin)技術“C”系列(lie)X射(she)線(xian)窗口(Si3N4)，能(neng)夠對(dui)低(di)能(neng)量(liang)區域(yu)元素快速響應，新(xin)Amptek SDD™可以(yi)很好(hao)的測試元素碳(C)，高(gao)效率快速SDD™是(shi)EDS光(guang)譜(pu)儀(yi)的(de)方(fang)案。