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看完(wan)本(ben)篇妳(ni)會對場發(fa)射(she)掃(sao)描電(dian)鏡有更(geng)多(duo)了解
點(dian)擊次(ci)數(shu):1521 更(geng)新時(shi)間:2023-08-03
蔡司(si)MERLIN 系(xi)列(lie)場發(fa)射(she)掃(sao)描電(dian)鏡是(shi)壹種(zhong)高分(fen)辨率(lv)的電(dian)子(zi)顯微(wei)鏡(jing)技(ji)術,它使(shi)用(yong)電(dian)子(zi)束掃(sao)描樣品(pin)表面以(yi)獲取(qu)高分(fen)辨率(lv)的圖像。相比傳(chuan)統的掃(sao)描電(dian)鏡(SEM),FESEM能夠(gou)提供(gong)更(geng)好的(de)空間分辨率(lv)和更(geng)高的(de)信號(hao)對噪(zao)比,因此(ci)在材料科學、生(sheng)物(wu)學和(he)納米(mi)科技(ji)等(deng)領域得到(dao)廣(guang)泛(fan)應(ying)用。
FESEM的關鍵部(bu)件包括電(dian)子(zi)槍、聚焦系統、透鏡系統、掃(sao)描控制(zhi)系統和信號(hao)檢測(ce)系統。電(dian)子(zi)槍產生高能(neng)電(dian)子(zi)束,聚焦系(xi)統和透鏡系(xi)統將電(dian)子(zi)束聚焦並形(xing)成細(xi)小(xiao)的(de)束(shu)斑,掃(sao)描控制(zhi)系統通過精確(que)控(kong)制(zhi)電(dian)子(zi)束的位置(zhi)和(he)強度(du),在樣品(pin)表面掃(sao)描出壹個個像素點,信號(hao)檢測(ce)系統采集並處(chu)理(li)所(suo)得的電(dian)子(zi)信號(hao),最終(zhong)生(sheng)成高分(fen)辨率(lv)的圖像。
FESEM的(de)分(fen)辨率(lv)通常(chang)在納米(mi)級(ji)別(bie),能(neng)夠(gou)顯示(shi)樣品(pin)的(de)微(wei)觀(guan)形(xing)貌(mao)和表面特征。通過控(kong)制(zhi)電(dian)子(zi)束的掃(sao)描路(lu)徑(jing)和強(qiang)度(du),可(ke)以(yi)獲取(qu)不(bu)同角度(du)和(he)深(shen)度(du)的(de)圖像,探(tan)索(suo)樣品(pin)的(de)三(san)維(wei)結(jie)構和組成。此外(wai),FESEM還(hai)可(ke)以(yi)通過能(neng)譜(pu)分析技(ji)術獲取(qu)元素成分信息,對(dui)樣品(pin)進(jin)行(xing)化學(xue)分(fen)析。
FESEM在材料科學研究中廣(guang)泛(fan)應(ying)用於(yu)材(cai)料表面形(xing)態(tai)觀察、納(na)米(mi)結構分析和薄(bo)膜厚(hou)度(du)測(ce)量等方面。例(li)如,在納米(mi)材料研究中,FESEM可(ke)以(yi)用於(yu)觀(guan)察納(na)米(mi)顆粒(li)的(de)形(xing)貌(mao)和大(da)小分(fen)布,了解納(na)米(mi)材料的形(xing)成和生(sheng)長機(ji)制(zhi)。在材料表面工程領域,FESEM可(ke)以(yi)用於(yu)表面質量評估(gu)和(he)表面改性(xing)效果(guo)分(fen)析。

在生物(wu)學研究中,FESEM對(dui)細(xi)胞(bao)和(he)組織(zhi)的觀(guan)察起(qi)到(dao)了至(zhi)關(guan)重(zhong)要(yao)的(de)作(zuo)用(yong)。通過FESEM,可(ke)以(yi)觀察細(xi)胞(bao)的(de)微(wei)觀(guan)形(xing)態(tai)、細(xi)胞(bao)器(qi)的結(jie)構和細(xi)胞(bao)表面的微(wei)紋(wen)理(li)。此(ci)外,FESEM還(hai)可(ke)以(yi)用於(yu)生(sheng)物(wu)樣品(pin)的(de)高分(fen)辨率(lv)成像和(he)三(san)維(wei)重(zhong)建(jian),揭示(shi)生(sheng)物(wu)體的(de)微(wei)觀(guan)結(jie)構。
總之,場發(fa)射(she)掃(sao)描電(dian)鏡是(shi)壹種(zhong)功能強大的高分(fen)辨率(lv)顯微(wei)鏡(jing)技(ji)術,可(ke)以(yi)對樣品(pin)進(jin)行(xing)高清(qing)晰(xi)、高分(fen)辨率(lv)的表面形(xing)貌(mao)觀察和(he)分(fen)析。它在材料科學、生(sheng)物(wu)學和(he)納米(mi)科技(ji)等(deng)領域具有廣(guang)泛(fan)的應(ying)用前景,為(wei)科(ke)學研究和技(ji)術創新提(ti)供(gong)了(le)強有(you)力(li)的(de)工具。


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