產(chan)品(pin)名(ming)稱：二手FEI-SEM電(dian)鏡 FEI-QUANTA250
產(chan)品(pin)型(xing)號(hao)：
更新時(shi)間：2024-04-28
產(chan)品(pin)特(te)點：二手FEI-SEM電(dian)鏡 FEI-QUANTA250 FEI Quanta 系(xi)列(lie)包括(kuo)六(liu)款可變(bian)壓(ya)力和(he)環境(jing)掃(sao)描電(dian)子顯微鏡 (ESEM™)。所有這些(xie)產(chan)品(pin)均(jun)可滿(man)足(zu)工(gong)業工藝(yi)控(kong)制實驗室(shi)、材料科學(xue)實驗室(shi)和(he)生(sheng)命科學(xue)實驗室(shi)的多種樣本(ben)和(he)成像要求(qiu)。
產(chan)品(pin)詳(xiang)細(xi)資(zi)料：
二手FEI-SEM電(dian)鏡 FEI-QUANTA250 uanta 系(xi)列(lie)掃(sao)描電(dian)子顯微鏡屬於多功能、高性能儀(yi)器(qi)，並具(ju)有高真空、低(di)真空和(he) ESEM 三(san)種模(mo)式，能夠處(chu)理的樣本類型(xing)之(zhi)多(duo)堪稱 SEM 系(xi)統(tong)。所(suo)有 Quanta SEM 系(xi)統(tong)均(jun)可配備(bei)分(fen)析系(xi)統(tong)，比如(ru)能量(liang)色散(san)譜儀(yi)、X 射線波長色散譜儀(yi)以及(ji)電(dian)子背散射衍(yan)射系(xi)統(tong)。此(ci)外，場(chang)發(fa)射電子槍 (FEG) 系(xi)統(tong)含有壹個用(yong)於(yu)明場(chang)和(he)暗(an)場(chang)樣(yang)本成像的 S/TEM 檢(jian)測器(qi)。SEM 系(xi)統(tong)中(zhong)的另壹個可變(bian)配(pei)置(zhi)是(shi)電動(dong)工(gong)作臺的尺(chi)寸（分(fen) 50mm、100mm 和(he) 150mm 三(san)種）以及(ji)電(dian)動(dong) Z 軸行程(cheng)的大小（分(fen)別(bie)為 25mm、60mm 和(he) 65mm）。Quanta 250 和(he) 250 FEG 都(dou)設(she)計了大(da)標(biao)本室(shi)，能夠分(fen)析和(he)瀏(liu)覽大(da)型標(biao)本。
Quanta 的材料科學(xue)應(ying)用(yong)
隨著 Quanta 250 系(xi)列(lie)的推出，現(xian)在(zai)的 Quanta SEM 系(xi)列(lie)更為靈(ling)活(huo)。對(dui)於(yu)材(cai)料科學(xue)來說(shuo)，這(zhe)些(xie)全新儀(yi)器(qi)可滿(man)足(zu)對(dui)眾(zhong)多(duo)類型材(cai)料進行研(yan)究(jiu)以及(ji)表(biao)征(zheng)結(jie)構(gou)和(he)成分(fen)的需求(qiu)。FEI Quanta™ 系(xi)列(lie)十(shi)分(fen)靈(ling)活(huo)，功能多樣(yang)，能夠應(ying)對當今眾(zhong)多(duo)研(yan)究(jiu)領域的挑戰。觀(guan)測任(ren)意(yi)樣本並獲(huo)得所(suo)有數據(ju) - 表(biao)面和(he)成分(fen)圖像可與配件結(jie)合起(qi)來，確(que)定(ding)材(cai)料屬性和(he)元(yuan)素成分(fen)。
Quanta 旨在增加您實驗室(shi)的可發表(biao)成果(guo)。Quanta 標(biao)準環境(jing) SEM (ESEM) 功能可以提供(gong)額(e)外的能力，用(yong)於(yu)處理您(nin)之(zhi)前認(ren)為電(dian)子顯微技(ji)術無(wu)法(fa)處(chu)理的樣品(pin)和(he)應(ying)用(yong)，同(tong)時(shi)協助(zhu)預測長(chang)期的材料性能。
· 對水(shui)化物樣(yang)品(pin)成像。
· 潮濕(shi)或熱循(xun)環期間的結(jie)晶或(huo)相變(bian)。
· 懸(xuan)浮或(huo)自(zi)組(zu)裝(zhuang)過(guo)程(cheng)中(zhong)的粒(li)子。
· 金屬腐蝕(shi)。
· 拉(la)伸試(shi)驗(yan)（根據需要加(jia)熱或(huo)冷卻(que)）。
二手FEI-SEM電(dian)鏡 FEI-QUANTA250 Quanta 自(zi)身(shen)的多功能性使(shi)之非常(chang)適合(he)用(yong)於(yu)材料科學(xue)。它(ta)善(shan)於執行傳(chuan)統(tong)高(gao)分(fen)辨(bian)率(lv) SEM 成像/分(fen)析，在動(dong)態(tai)原位 實驗方(fang)面(mian)同(tong)樣遊刃(ren)有余。Quanta 可以讓您研(yan)究(jiu)自(zi)然狀態(tai)下的廣泛樣品(pin)，從(cong)而(er)獲(huo)得最準確的結(jie)構(gou)和(he)組(zu)成信(xin)息：
· 氧(yang)化/腐(fu)蝕(shi)樣品(pin)
· 陶(tao)瓷材(cai)料、復(fu)合(he)材(cai)料、塑料
· 薄膜(mo)和(he)塗層(ceng)
· 軟材(cai)料：聚(ju)合(he)物、藥物、凝(ning)膠(jiao)
· 顆粒(li)物、多(duo)孔(kong)材料、纖(xian)維(wei)
典型(xing)應(ying)用(yong):
檢(jian)測器(qi)
• E-T二次電(dian)子探頭(tou)
納米(mi)表(biao)征(zheng)
金屬及合金, 氧(yang)化/腐(fu)蝕(shi), 斷口(kou), 焊(han)點, 拋光斷面, 磁(ci)性及(ji)超(chao)導(dao)材(cai)料
陶瓷, 復(fu)合(he)材(cai)料, 塑料
薄膜(mo)/塗層(ceng)地質(zhi)樣品(pin)斷面, 礦(kuang)物
軟(ruan)物質(zhi): 聚(ju)合(he)物, 藥品(pin), 過(guo)濾膜(mo), 凝膠(jiao), 生(sheng)物組(zu)織(zhi), 木材
顆粒(li), 多(duo)孔材料, 纖(xian)維(wei)
原位過(guo)程(cheng)分(fen)析
增濕(shi)/去濕(shi)
浸潤行為/接(jie)觸角(jiao)分(fen)析
氧(yang)化/腐(fu)蝕(shi)
拉(la)伸 (伴隨加熱或(huo)冷卻(que))
結(jie)晶/相變(bian)
納米(mi)原型制備(bei)
• 電(dian)子束曝(pu)光 (EBL)
• 電(dian)子束誘(you)導(dao)沈(chen)積(ji)(EBID)
主(zhu)要(yao)參(can)數(shu)
電子光學(xue)
高分(fen)辨(bian)肖特基場(chang)發(fa)射電子槍
優化的高亮度(du)、大束流鏡筒
45°錐度(du)物鏡極靴，及(ji)“穿過透(tou)鏡"的壓差真空系(xi)統(tong)，加(jia)熱式 物鏡光闌(lan)
加速電壓: 200 V - 30 kV
束流: 最大(da)200 nA並連續可調
放大倍數: 14 x – 1,000,000 x (四幅圖像顯示(shi))
分(fen)辨(bian)率(lv)
高(gao)真空
– 30 kV下(xia)0.8 nm (STEM)*
– 30 kV下(xia)1.0 nm (SE)
– 30 kV下(xia)2.5 nm (BSE)*
– 1 kV下(xia)3.0 nm (SE)
高(gao)真空下(xia)減(jian)速模(mo)式*
– 1 kV下(xia)3.0 nm (BSE)*
– 1 kV下2.3 nm (ICD)*
– 200 V下(xia)3.1 nm (ICD)*
低(di)真空
– 30 kV下(xia)1.4 nm (SE)
– 30 kV下(xia) 2.5 nm (BSE)
– 3 kV下(xia)3.0 nm (SE)
環境(jing)真空 (ESEM)
– 30 kV下(xia)1.4 nm (SE)
檢(jian)測器(qi)
• E-T二次電(dian)子探頭(tou)
•大視(shi)場(chang)低(di)真空氣體二次電(dian)子探頭(tou) (LFD)
• 氣體二次電(dian)子探頭(tou) (GSED)
• 樣品(pin)室(shi)紅(hong)外CCD相機
• 高靈敏(min)度(du)、低電壓(ya)固(gu)體背散射探頭(tou)*
• 氣體背散射探頭(tou)*
• 四分(fen)固(gu)體背散射探頭(tou)*
• 閃(shan)爍體型背散射探頭(tou)/CLD*
• vCD(低(di)電壓、高(gao)襯度(du)探頭)*
• 鏡筒內探頭(tou)(ICD)，用(yong)於(yu)減速模(mo)式下(xia)二次電(dian)子檢(jian)測*
• 電(dian)子束流檢(jian)測器(qi)*
• 分(fen)析型氣體背散射探頭(tou) (GAD)*
• STEM探(tan)頭*
• Nav-CamTM– 光學(xue)相機彩色成像，用(yong)於(yu)樣品(pin)導(dao)航*
• 陰(yin)極熒(ying)光探(tan)測器(qi)*
• 能譜*
• 波譜*
• EBSD*
• 極靴底(di)部(bu)安裝(zhuang)四環分(fen)隔(ge)式定(ding)向(xiang)型背散射電子探頭(tou) (DBS)*
真空系(xi)統(tong)
• 1個 250 l/s 渦輪(lun)分(fen)子泵, 2個機(ji)械泵
• “穿過透(tou)鏡"的壓差真空系(xi)統(tong)
• 電(dian)子束在氣體區域的行程(cheng):10 mm或(huo)2 mm
• 可升級(ji)成無油機械泵
• 2個離(li)子泵
• 樣(yang)品(pin)室(shi)真空度(du) (高真空模(mo)式) < 6e-4 Pa
• 樣(yang)品(pin)室(shi)真空度(du)(低真空模(mo)式) < 10 to 130 Pa
• 樣(yang)品(pin)室(shi)真空度(du)(環境(jing)真空模(mo)式) < 10 to 4000 Pa
• 典型(xing)換(huan)樣(yang)時(shi)間: 高真空模(mo)式≤ 150秒(miao);低真空及(ji)環境(jing)真空模(mo)式 ≤ 270秒(miao) (FEI標(biao)準測試(shi)程(cheng)序)
樣(yang)品(pin)室(shi)
• 左(zuo)右內(nei)徑(jing)284 mm
• 10 mm分(fen)析工作距離
• 8個探(tan)測(ce)器(qi) / 附(fu)件接(jie)口(kou) • EDS采(cai)集角: 35°
樣(yang)品(pin)臺
• X/Y = 50 mm
• Z = 50 mm (其(qi)中(zhong)馬(ma)達(da)驅動25 mm) • 手動傾斜(xie):- 15° to + 75°
• 連續旋(xuan)轉360°
• 重(zhong)復(fu)精(jing)度(du): 2 μm (X/Y方向(xiang))
• 全對(dui)中(zhong)樣(yang)品(pin)臺
樣(yang)品(pin)座(zuo)
• 多樣(yang)品(pin)座(zuo)
• 單(dan)樣品(pin)座(zuo)
• 通用(yong)樣(yang)品(pin)座(zuo)套件*
• 適用(yong)於(yu)矽(gui)片或(huo)其(qi)它特(te)殊要(yao)求(qiu)的樣品(pin)座(zuo)*
圖像處理器(qi)
最大(da)6144 x 4096像素
圖像文件格(ge)式:TIFF(8,16 or 24 bit), BMP or JPEG
單(dan)窗口(kou)或(huo)四窗口(kou)圖像顯示(shi)
四活(huo)動(dong)窗(chuang)口(kou)
實時(shi)或(huo)靜態(tai)按彩色(se)或(huo)按灰度(du)等(deng)級(ji)信(xin)號(hao)混(hun)合(he)
256 幀(zhen)平(ping)均或積分(fen)
數(shu)字(zi)動(dong)畫(hua)記(ji)錄(lu) (.avi格式)
直(zhi)方圖及圖像測量(liang)軟件
DCFI (漂(piao)移(yi)補(bu)償(chang)積(ji)分(fen))
| 如(ru)果(guo)妳對(dui)此(ci)產(chan)品(pin)感(gan)興(xing)趣(qu)，想(xiang)了(le)解(jie)更詳(xiang)細(xi)的產(chan)品(pin)信(xin)息，填(tian)寫(xie)下表(biao)直接(jie)與廠家聯(lian)系(xi)： |
