二手 日本(ben)電子(zi) SEM IT100掃(sao)描電(dian)鏡主要特(te)點(dian)為全(quan)數(shu)字(zi)化控(kong)制(zhi)系(xi)統(tong)，高(gao)分辨率(lv)、高(gao)精度的變焦(jiao)聚光鏡系(xi)統(tong)、全(quan)對中(zhong)樣(yang)品臺(tai)及(ji)高(gao)靈(ling)敏(min)度(du)半(ban)導(dao)體(ti)背散(san)射探頭(tou)；用(yong)於(yu)各種(zhong)材料(liao)的形(xing)貌組織(zhi)觀(guan)察(cha)、金(jin)屬材料(liao)斷(duan)口分(fen)析(xi)和(he)失效分(fen)析(xi)。該(gai)型(xing)號(hao)在很(hen)多(duo)大學、研究院所(suo)及(ji)制(zhi)造(zao)業被廣(guang)泛(fan)使用(yong)。

二手FEI+JEOL+HITACHI掃(sao)描電(dian)鏡：掃(sao)描電(dian)鏡（SEM）是(shi)利(li)用(yong)電(dian)子(zi)束掃(sao)描樣(yang)品表面，產生(sheng)二(er)次(ci)電子(zi)等(deng)信號(hao)，通(tong)過(guo)檢(jian)測這些信號(hao)來獲取樣(yang)品表面形(xing)貌、成(cheng)分等(deng)信息(xi)。SEM的(de)優點(dian)是(shi)分(fen)辨(bian)率(lv)高(gao)，可觀(guan)察(cha)到納(na)米級別(bie)的(de)細(xi)節(jie)，景(jing)深(shen)大，能清晰呈(cheng)現三維形(xing)貌，可同(tong)時(shi)進行成(cheng)分分(fen)析(xi)。

二手ZEISS-FEI掃(sao)描電(dian)鏡掃(sao)描電(dian)子(zi)顯(xian)微鏡作為(wei)壹(yi)種(zhong)強(qiang)大的(de)微觀分(fen)析(xi)工(gong)具，能夠實(shi)現對樣(yang)品表面形(xing)貌的高(gao)分辨率(lv)觀察，為(wei)材料(liao)科學、生(sheng)物(wu)醫(yi)學、地質(zhi)學等(deng)多個領(ling)域(yu)的(de)研究提供(gong)了強(qiang)大的(de)技術支(zhi)持(chi)。以(yi)其(qi)出色的(de)分(fen)辨率和(he)廣泛(fan)的放(fang)大倍(bei)數範圍，能夠滿足(zu)不同(tong)研究領(ling)域(yu)的(de)精細(xi)觀察(cha)需(xu)求(qiu)。

二(er)手日本(ben)電子(zi)（SEM）IT-300提(ti)供(gong)高(gao)畫(hua)質(zhi)圖(tu)像(xiang)，能滿足(zu)您對 W-SEM 機型(xing)的期(qi)待，鏡筒設計(ji)和(he)掃(sao)描系(xi)統(tong)使得不(bu)導電(dian)樣(yang)品的圖像(xiang)質(zhi)量有(you)所(suo)提(ti)高(gao)

二(er)手日本(ben)電子(zi)SEM+EDX JSMIT300掃(sao)描電(dian)子(zi)顯(xian)微鏡經(jing)過(guo)改(gai)進照射系(xi)統(tong)、真(zhen)空(kong)系(xi)統(tong)和(he)信號(hao)處理系(xi)統(tong)，不(bu)僅能觀察(cha)高(gao)質(zhi)量的(de)圖像(xiang)，還(hai)能利(li)用(yong)觸(chu)控(kong)屏(ping)和(he)快(kuai)速(su)樣(yang)品臺(tai)進行高(gao)通(tong)量的(de)直(zhi)觀(guan)操作。JSM-IT300 提供(gong)高(gao)畫(hua)質(zhi)圖(tu)像(xiang)，能滿足(zu)您對W-SEM機型(xing)的期(qi)待，新的(de)鏡筒設計(ji)和(he)掃(sao)描系(xi)統(tong)使得不(bu)導電(dian)樣(yang)品的圖像(xiang)質(zhi)量有(you)了顯(xian)著的(de)提(ti)高(gao)。

二手FEI-SEM電鏡 FEI-QUANTA250 FEI Quanta 系(xi)列包括六款可變壓力和(he)環(huan)境掃(sao)描電(dian)子(zi)顯(xian)微鏡 (ESEM™)。所(suo)有(you)這些產品均可滿足(zu)工(gong)業工(gong)藝(yi)控(kong)制(zhi)實(shi)驗室、材料(liao)科學實(shi)驗室和(he)生(sheng)命科學實(shi)驗室的(de)多種(zhong)樣(yang)本(ben)和(he)成(cheng)像(xiang)要求(qiu)。

日立(li)SEM二(er)手S-4300掃(sao)描電(dian)子(zi)顯(xian)微鏡采用(yong)大樣(yang)品室的半(ban)內(nei)透鏡設計(ji)，卻能達到分辨率，可以(yi)與內(nei)透鏡UHR掃(sao)描電(dian)鏡相(xiang)媲美(mei)。

（2手）掃(sao)描電(dian)鏡SEM+EDX分析(xi)型(xing)掃(sao)描電(dian)子(zi)顯(xian)微鏡，與日本(ben)電子(zi)公(gong)司的元素分析(xi)儀（EDS），統(tong)合(he)於(yu)壹體(ti)。結構緊湊(cou)的(de)EDS由(you)顯(xian)微鏡主體(ti)系(xi)統(tong)的(de)電腦(nao)控(kong)制(zhi)，操作員只用(yong)壹(yi)只鼠標，就可完成(cheng)從圖(tu)像(xiang)觀測到元素分析(xi)的整(zheng)個過(guo)程(cheng)。