日(ri)立SU-8010 二手(shou)掃描(miao)電(dian)鏡通過對樣(yang)品(pin)二(er)次電(dian)子、背散(san)射(she)電(dian)子的(de)采集，可(ke)進(jin)行物質微(wei)觀形(xing)貌和生(sheng)物組織(zhi)觀察；並基(ji)於EDS附件(jian)得到(dao)部(bu)分元(yuan)素定性和半定量(liang)分析，可(ke)以(yi)進(jin)行微(wei)區(qu)的(de)點(dian)、線(xian)、面(mian)掃(sao)描(miao)測試(shi)。 場發(fa)射(she)掃描(miao)電(dian)鏡SU8010它繼承(cheng)了(le)上壹代S-4800的(de)優(you)點，性能有(you)進(jin)壹步(bu)提(ti)高，1kv使用(yong)減(jian)速(su)功能後，分辨率提升到(dao)1.3nm，相對於S-4800可(ke)以(yi)在更(geng)低的(de)加速(su)電(dian)壓下(xia)高分辨像(xiang)，明顯(xian)提升了(le)以(yi)往很(hen)難觀測的(de)低(di)原(yuan)子序(xu)數(shu)樣(yang)品(pin)。

二手(shou)電(dian)鏡sem+edx掃描(miao)電(dian)鏡分辨率：高真(zhen)空二次電(dian)子像(xiang)小於3.0nm（30KV） 掃描(miao)電(dian)鏡放大倍數(shu)：5×～1000000×，連續(xu)可(ke)調(tiao) 能譜(pu)儀(yi)分辨率：MnKα峰的(de)半(ban)高寬優(you)於127eV； 能譜(pu)儀(yi)元(yuan)素測試(shi)範圍(wei)：Be4— Pu94

二手(shou)SEM掃描(miao)電(dian)子顯(xian)微鏡SU3500所具(ju)備(bei)的(de)新(xin)型(xing)的(de)模(mo)擬圖像(xiang)和改進(jin)後的(de)電(dian)子光學(xue)系統以(yi)及圖(tu)像(xiang)顯(xian)示算法(fa)使之(zhi)能夠(gou)在低(di)加速(su)電(dian)壓下(xia)獲得更(geng)高的(de)分辨率。3KV電(dian)壓時，SE圖(tu)像(xiang)可(ke)達7nm,5KV電(dian)壓時，BSE圖(tu)像(xiang)可(ke)達10nm。最新(xin)開(kai)發(fa)的(de)自動(dong)多(duo)級(ji)電(dian)子槍偏(pian)壓機構能夠(gou)在不(bu)降(jiang)低(di)電(dian)子束大(da)小的(de)情(qing)況下(xia)，在壹(yi)定(ding)範圍(wei)內的(de)常用加速(su)電(dian)壓下(xia)增加發(fa)射(she)電(dian)流。因此，此款(kuan)產(chan)品(pin)與(yu)S-3400N相比，噪音得以(yi)大幅(fu)減(jian)少，成像(xiang)更(geng)加清晰(xi)。

日(ri)立二手(shou)電(dian)鏡SEM+EDX掃描(miao)電(dian)子顯(xian)微鏡詳細信息該(gai)設(she)備(bei)具(ju)有新(xin)研制的(de)電(dian)子光學(xue)系統和自動(dong)化(hua)功能顯(xian)示系(xi)統有全屏顯(xian)示，無閃爍(shuo)，高(gao)像(xiang)素和實(shi)時圖(tu)像(xiang)顯(xian)示等優(you)異(yi)的(de)性能，它(ta)還(hai)可(ke)以(yi)實(shi)時信號混(hun)合並(bing)同時顯(xian)示兩(liang)個不(bu)同的(de)檢(jian)測器(qi)觀測到的(de)互不(bu)相同的(de)樣(yang)品(pin)信息。

二手(shou)日(ri)立S-4300場發(fa)射(she)電(dian)鏡繼承(cheng)了(le)傳統，它技術(shu)*進(jin)的(de)特(te)點(dian)和(he)性能可(ke)以(yi)快(kuai)速(su)又簡(jian)便(bian)地適應(ying)各種(zhong)應(ying)用。通用的(de)Windows界(jie)面(mian)通(tong)過(guo)顯(xian)示器(qi)上顯(xian)示的(de)菜單和圖標(biao)允(yun)許(xu)進(jin)行交(jiao)互式(shi)的(de)操(cao)作。是否(fou)提供加工定(ding)制(zhi)否(fou)類(lei)型電(dian)子顯(xian)微鏡 品牌日(ri)立型號(hao)S-4300 儀(yi)器(qi)放大(da)倍數(shu)20x~5000000x目鏡放大倍數(shu)

二手(shou)日(ri)立電(dian)鏡，二手(shou)SEM；顯(xian)微鏡的(de)制(zhi)造(zao)是(shi)依(yi)據(ju)電(dian)子與(yu)物質的(de)相互作用(yong)。當壹束高(gao)能的(de)入射(she)電(dian)子轟擊物質表面(mian)時(shi)，被(bei)激(ji)發(fa)的(de)區(qu)域將(jiang)產(chan)生(sheng)二次電(dian)子、俄(e)歇電(dian)子、特(te)征(zheng)x射(she)線(xian)和連續(xu)譜(pu)X射(she)線(xian)、背散射(she)電(dian)子、透射(she)電(dian)子，以(yi)及在可(ke)見(jian)、紫(zi)外、紅(hong)外光(guang)區(qu)域產(chan)生(sheng)的(de)電(dian)磁輻射(she)。同時，也(ye)可(ke)產(chan)生(sheng)電(dian)子-空穴對、晶格(ge)振動(dong) （聲子(zi)）、電(dian)子振蕩 （等離子(zi)體(ti)）。