二(er)手(shou) 日(ri)本(ben)電子JSM IT-200掃描電子顯微(wei)鏡利(li)用(yong)聚焦(jiao)的(de)很窄(zhai)的高(gao)能(neng)電子束來掃(sao)描樣品(pin), 通過(guo)光束(shu)與(yu)物質(zhi)間的相(xiang)互(hu)作(zuo)用(yong), 來激(ji)發(fa)各(ge)種物理(li)信(xin)息(xi), 對這些(xie)信息(xi)收集、放大(da)、再(zai)成(cheng)像以達(da)到對物質(zhi)微(wei)觀(guan)形貌(mao)表(biao)征的目(mu)的。

二手(shou)蔡(cai)司電鏡 SEM+EDX+EBSD SUPRA 40是壹(yi)款(kuan)高(gao)分(fen)辨率(lv)場發(fa)射掃描電子顯微(wei)鏡，擁(yong)有第(di)三代(dai)GEMINI 鏡筒(tong)，可變壓強性能(neng)加上(shang)多(duo)種(zhong)納米工具(ju)的(de)使用(yong)，不(bu)用(yong)花費(fei)大(da)量(liang)時間，使高(gao)分(fen)辨率(lv)成(cheng)像和(he)非(fei)導體樣本(ben)的(de)分(fen)析(xi)成(cheng)為可(ke)能(neng)，超大(da)的(de)樣品(pin)室適合(he)各(ge)種類(lei)型(xing)探頭及(ji)配(pei)件(jian)的(de)選擇。該場發(fa)射電鏡適用(yong)於(yu)材(cai)料(liao)領域(yu)、失(shi)效分析(xi)、過(guo)程(cheng)控制(zhi)，納(na)米技(ji)術等(deng)。

二手(shou)sem掃(sao)描電鏡：現貨(huo)供(gong)應二手掃(sao)描電鏡,二手(shou)場發(fa)射電鏡,二手(shou)透(tou)射電鏡，光譜(pu)色(se)譜(pu)，質(zhi)譜(pu)： S-9300，S-9380，S-806C，H-7100，S-4700，S-4200，S-4160，S-3000N，S-2700，S-2400，TM-1000