深圳市心怡(yi)創(chuang)科(ke)技(ji)有限公(gong)司(si)銷售(shou)電(dian)話(hua)：
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辦(ban)公(gong)地(di)址(zhi)：深圳市寶(bao)安(an)區(qu)西(xi)鄉街道(dao)南(nan)昌(chang)社(she)區(qu)深圳前灣硬科技(ji)產業(ye)園B棟608-609
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二(er)手(shou) 日立(li)CD-SEM 掃(sao)描電(dian)鏡S-9380（臨界尺寸掃(sao)描電(dian)子(zi)顯微鏡）設備(bei)在(zai)半(ban)導體制造(zao)和(he)納(na)米材(cai)料(liao)研(yan)究(jiu)領(ling)域具有廣(guang)泛的應(ying)用
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二(er)手(shou) 牛津 EBSD NordlysMax3實(shi)時采集(ji)、標(biao)定和(he)顯示結(jie)果(guo)速度高達(da)1580點/秒(miao) AZtec EBSD提供全(quan)面采集(ji)性(xing)能 同時采集(ji)分(fen)析EBSD和(he)EDS數據(ju)，速度不衰減 同時保持高(gao)靈(ling)敏(min)度(du)和(he)高靈(ling)活(huo)性(xing) 它將(jiang)成為您電(dian)鏡上(shang)的壹(yi)名(ming)新成(cheng)員(yuan)
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二(er)手(shou)SEN,二(er)手(shou)TEM透(tou)射電(dian)鏡是把(ba)經加(jia)速和(he)聚(ju)集(ji)的電(dian)子(zi)束(shu)投(tou)射到(dao)非(fei)常薄的樣品(pin)上(shang)，電(dian)子(zi)與(yu)樣品(pin)中(zhong)的原子(zi)碰(peng)撞(zhuang)而改變方向，從(cong)而產生立(li)體角散(san)射。散(san)射角的大(da)小(xiao)與(yu)樣品(pin)的密(mi)度(du)、厚度相關(guan)，因(yin)此(ci)可以形(xing)成明暗不同的影像。通常(chang)，透(tou)射電(dian)子(zi)顯微鏡的分(fen)辨率(lv)為0.1~0.2nm，放(fang)大(da)倍數為幾(ji)萬~百(bai)萬倍，用於觀察超微(wei)結(jie)構(gou)，即(ji)小(xiao)於(yu)0.2微(wei)米(mi)、光(guang)學(xue)顯微鏡下無(wu)法(fa)看(kan)清的結(jie)構(gou)，又(you)稱(cheng)“亞顯微結(jie)構(gou)“。
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