二(er)手 JSM日本(ben)電子--IT100/IT500掃(sao)描電(dian)鏡(jing)應用於無機材(cai)料、高分子材(cai)料、復(fu)合(he)材(cai)料、納米(mi)材(cai)料、半導(dao)體等(deng)材(cai)料中 ? 表(biao)面形貌(mao)觀(guan)察 ? 組(zu)織結構(gou)觀(guan)察 ? 顆(ke)粒大(da)小(xiao)分析(xi) ? 斷面性質分析(xi) ? 微(wei)區(qu)成(cheng)份(fen)分析(xi)。

（2）手(shou)日本電(dian)子JSM-7610Fplus（SEM測(ce)試(shi)，日(ri)本(ben)電子JSM-7610FPlus）適用於多(duo)種樣品(pin)的(de)觀(guan)察和(he)分析(xi)。實現(xian)了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的(de)進(jin)壹步(bu)提升，以(yi)嶄(zhan)新(xin)的(de)JSM-7610FPlus形象(xiang)亮(liang)相。采(cai)用半浸沒式(shi)物鏡(jing)和(he)High Power Optics照明(ming)系統(tong)，提供穩(wen)定(ding)的(de)高空(kong)間(jian)分辨率觀(guan)察和(he)分析(xi)。此(ci)外還具備(bei)利(li)用GENTLEBEAMTM模式(shi)進(jin)行(xing)低(di)加(jia)速電(dian)壓觀(guan)察。

二(er)手日立(li)+日本(ben)電(dian)子掃(sao)描電(dian)鏡(jing)掃(sao)描電(dian)子顯(xian)微(wei)鏡(jing)SEM是(shi)壹種(zhong)電子顯(xian)微(wei)鏡(jing)，它(ta)通(tong)過(guo)用聚焦(jiao)電子束(shu)掃(sao)描表(biao)面來(lai)產生樣品(pin)的(de)圖像。電(dian)子與樣品(pin)中(zhong)的原子相(xiang)互作用，產生包含樣品(pin)表(biao)面形貌(mao)和(he)成分信息(xi)的(de)各種信(xin)號(hao)。電(dian)子束(shu)的掃(sao)描路徑形如(ru)光柵，將(jiang)電(dian)子束(shu)的位置(zhi)與檢測(ce)信號(hao)的(de)強度相結合(he)即可(ke)輸出圖像。在(zai)最(zui)常見的SEM模式(shi)下(xia)，探(tan)測(ce)器(qi)可(ke)以(yi)檢(jian)測(ce)到由(you)電子束(shu)轟擊原子所(suo)激發的二(er)次(ci)電(dian)子。不(bu)考慮其它(ta)因素(su)，可(ke)以(yi)檢(jian)測(ce)到的(de)二次(ci)電(dian)子數(shu)以(yi)及信(xin)號(hao)強度取(qu)決(jue)於(yu)樣品(pin)形貌(mao)。

二手(shou)日立電(dian)鏡(jing)SU-3500日(ri)立(li)高新(xin)高畫(hua)質的鎢(wu)燈(deng)絲掃(sao)描電(dian)鏡(jing)SU3500, 圖(tu)象質量更(geng)進(jin)壹步(bu)。通(tong)過(guo)高畫(hua)質提升掃(sao)描電(dian)鏡(jing)的(de)分析(xi)能力和操作性(xing), 凝聚(ju)日立(li)*進科技(ji)“。日立(li)高新(xin)鎢(wu)燈(deng)絲(si)掃(sao)描電(dian)鏡(jing)SU3500具(ju)有實現(xian)了3kV加(jia)速電(dian)壓7nm分辨率”的(de)全新(xin)電(dian)子光學系統(tong), 可(ke)實現(xian)實時(shi)立(li)體成像的(de)“實時(shi)立(li)體觀(guan)察功(gong)能 以(yi)及更(geng)高檢(jian)測(ce)效(xiao)率的(de) “UVD超高靈(ling)敏(min)度可(ke)變壓力檢(jian)測(ce)器(qi)。

二(er)手日本(ben)電(dian)子JSM-IT200是(shi)壹款(kuan)更(geng)簡潔(jie)、更易於(yu)使用且性(xing)價比(bi)高的(de)掃(sao)描電(dian)子顯(xian)微(wei)鏡(jing)。 使用初學者(zhe)易懂(dong)的樣品(pin)交(jiao)換導航(hang)，可(ke)以(yi)輕(qing)松(song)地(di)從樣品(pin)臺(tai)搜(sou)索視(shi)野(ye)並開(kai)始(shi)觀(guan)察SEM圖(tu)像。Zeromag能(neng)像光鏡壹樣直(zhi)觀(guan)地(di)搜(sou)索視(shi)野(ye)，Live Analysis*²可(ke)以(yi)不(bu)用特意(yi)分析(xi)就能實時(shi)獲取(qu)元(yuan)素(su)分析(xi)結果(guo)，SMILE VIEWTM Lab能綜(zong)合(he)編輯(ji)觀(guan)察和(he)分析(xi)報告等(deng)，使它(ta)成(cheng)為壹(yi)個分析(xi)業務的軟(ruan)件。

二手電(dian)鏡(jing)，二(er)手場發射(she)電鏡它*進的(de)特點(dian)和性(xing)能可(ke)以(yi)快速又(you)簡(jian)便地(di)適應各種應用。通用的Windows界(jie)面通(tong)過(guo)顯(xian)示器(qi)上(shang)顯(xian)示的(de)菜(cai)單(dan)和圖(tu)標允(yun)許(xu)進(jin)行(xing)交(jiao)互式(shi)的(de)操(cao)作。應用在(zai)材(cai)料，結構(gou)，表(biao)面形貌(mao)分析(xi)：

二手JEOL場發射(she)電鏡7001F熱(re)場發射(she)掃(sao)描電(dian)子顯(xian)微(wei)鏡(jing),是(shi)能夠(gou)滿(man)足(zu)與高分辨率和(he)易用性同(tong)樣的(de)分析(xi)應用需求(qiu)的理(li)想平(ping)臺。JSM-7001F具有大(da)型(xing)、5軸、全對(dui)中(zhong)馬(ma)達驅(qu)動自(zi)動化(hua)樣品(pin)臺(tai),還有單(dan)動作(zuo)樣品(pin)更(geng)換氣鎖、它的小(xiao)束(shu)口壓直徑(jing)，即使在(zai)大(da)電(dian)流(liu)和(he)低(di)電(dian)壓時(shi)，也(ye)具(ju)有適用於EDS、WDS、EBSP和(he)CL的理(li)想結構(gou)的擴(kuo)充性(xing)。樣品(pin)室可(ke)處(chu)理(li)直徑(jing)最(zui)大(da)為(wei) 200mm的樣品(pin)。

二(er)手掃(sao)描電(dian)鏡(jing)SEM產品(pin)介(jie)紹(shao)：TM-3000是(shi)日立(li)高新(xin)公司新(xin)推(tui)出(chu)的(de)壹(yi)款(kuan)機(ji)型小(xiao)巧(qiao)性(xing)能(neng)優(you)異的鎢(wu)燈絲(si)電鏡，擁(yong)有大(da)束(shu)流(liu)和(he)低(di)球差(cha)的物鏡(jing)和(he)聚光鏡設(she)計(ji)，配備(bei)了(le)高分辨率二(er)次(ci)電(dian)子探(tan)頭(tou)及高靈(ling)敏(min)度五(wu)分割背(bei)散(san)…

日(ri)本電子二(er)手掃(sao)描電(dian)鏡(jing)JSM分析(xi)型掃(sao)描電(dian)子顯(xian)微(wei)鏡(jing)，與日本電子公司的(de)元(yuan)素(su)分析(xi)儀(yi)（EDS），統(tong)合(he)於壹(yi)體。結構(gou)緊(jin)湊的EDS由(you)顯(xian)微(wei)鏡(jing)主(zhu)體系統(tong)的電(dian)腦控制(zhi)，操作(zuo)員只用壹只(zhi)鼠標(biao)，就可(ke)完成(cheng)從(cong)圖(tu)像觀(guan)測(ce)到元(yuan)素(su)分析(xi)的整個過(guo)程(cheng)。

二(er)手(shou)SEM日(ri)立TM3030plus日立(li)臺式(shi)電(dian)鏡(jing)TM3030Plus，是(shi)日立(li)臺式(shi)電(dian)鏡(jing)TM系列的(de)成員，它(ta)繼(ji)承(cheng)了(le)日立臺(tai)式(shi)電(dian)鏡(jing)的品(pin)質。TM3030Plus在(zai)TM3030基(ji)礎(chu)上(shang)增(zeng)加(jia)高靈(ling)敏(min)度低(di)真空(kong)二(er)次(ci)電(dian)子探(tan)頭(tou)UVD，該探頭(tou)在(zai)低(di)真空(kong)環(huan)境(jing)下(xia)具有很(hen)好(hao)的成像質量，而(er)且(qie)無需樣品(pin)前處(chu)理(li).