產(chan)品(pin)名(ming)稱：二(er)手日(ri)本(ben)電(dian)子(zi)SEM+EDX
產(chan)品(pin)型(xing)號：
更新時間(jian)：2024-05-09
產(chan)品(pin)特(te)點(dian)：二(er)手日(ri)本(ben)電(dian)子(zi)SEM+EDX JSMIT300掃描電(dian)子(zi)顯微(wei)鏡(jing)經(jing)過(guo)改進(jin)照射系統、真空(kong)系統和(he)信號處理系統，不僅能觀(guan)察(cha)高質量的(de)圖像，還(hai)能利用觸(chu)控屏(ping)和(he)快(kuai)速(su)樣(yang)品(pin)臺(tai)進(jin)行(xing)高通(tong)量的(de)直觀(guan)操(cao)作(zuo)。JSM-IT300 提供高畫(hua)質圖像，能(neng)滿足(zu)您(nin)對(dui)W-SEM機型的(de)期待(dai)，新的(de)鏡(jing)筒(tong)設計和(he)掃描系統使得不導電(dian)樣(yang)品的(de)圖像質量有了顯著的(de)提高。
產(chan)品(pin)詳(xiang)細(xi)資料(liao)：
二(er)手日(ri)本(ben)電(dian)子(zi)SEM+EDX主要特長
優秀電(dian)子(zi)光學系統 JSM-IT300A是株(zhu)式會(hui)社(she)最新升(sheng)級版機型，集(ji)合(he)了分(fen)析(xi)掃描電(dian)鏡(jing)精(jing)髓(sui)功(gong)能(neng)，結構緊湊、節省空(kong)間(jian)，分(fen)辨(bian)率高。
操作(zuo)舒適(shi)快(kuai)捷(jie) JSM-IT300A擁有非常(chang)直觀(guan)的(de)操作(zuo)系統，即(ji)使沒有經(jing)驗(yan)的(de)用戶(hu)也(ye)可(ke)進行操作(zuo)高品質的(de)SEM圖像，以(yi)及高效率元(yuan)素分(fen)析(xi)。可(ke)支持操(cao)作(zuo)觸摸(mo)屏(ping)。
安裝(zhuang)的(de)靈(ling)活性 二(er)手日(ri)本(ben)電(dian)子(zi)SEM+EDX節省空(kong)間(jian)，安裝(zhuang)方便。壹(yi)個電(dian)源(yuan)插座就(jiu)足(zu)以(yi)安裝(zhuang)。不需要任(ren)何冷(leng)卻(que)水(shui)。
JSM-IT300A性能參(can)數
Main Performance on JSM-IT200A
Performance (壹(yi)) 主要(yao)性能(neng) | |
SEI Mode Resolution 二(er)次(ci)電(dian)子(zi)圖像分(fen)辨(bian)率 | 3.0nm @ 30KV WD 8mm 8.0nm @ 3KV WD 6mm 15.0nm @ 1KV WD 6mm |
BEI Mode Resolution 背散射電(dian)子(zi)模(mo)式分(fen)辨(bian)率 | 4.0nm@30KV |
Magnification 放大倍(bei)數 | ×5~×300,000（底(di)片(pian)倍(bei)率） ×14~×839,724（顯示器(qi)倍(bei)率） |
Detectors 探(tan)測器 | Secondary Electron Detector 二(er)次(ci)電(dian)子(zi)探(tan)測器 ★Semiconductor Backscattered Electron Detector(patent) 半導體型(xing)背散射電(dian)子(zi)探(tan)測器(技術) |
Image Mode 圖像模(mo)式 | Secondary Electron Image 二(er)次(ci)電(dian)子(zi)圖像 REF Image REF像 Composition Image (Backscattered Electron Image) 成(cheng)份像 (背散射電(dian)子(zi)圖像) Topography Image (Backscattered Electron Image) 形(xing)貌像 (背散射電(dian)子(zi)圖像) Shadow Image (Backscattered Electron Image) 立(li)體像 (背散射電(dian)子(zi)圖像) |
Live Image Display 實時圖像顯示 | Dual Live Image Display, Split Live Image, 雙(shuang)實時圖像同(tong)時顯示, 分(fen)割實時圖像顯示 |
Accelerating Voltage 加(jia)速(su)電(dian)壓(ya) | 0.5KV ~ 30KV |
Probe Current 探(tan)針束流(liu) | 1pA ~ 0.3uA |
Electron Optics (二(er)) 電(dian)子(zi)光學系統 | |
Filament 燈(deng)絲(si) | Factory pre-centered tungsten hairpin filament 工廠(chang)預(yu)對中鎢(wu)燈(deng)絲(si) |
★Gun Bias Voltage 電(dian)子(zi)槍偏壓(ya) | Seamless automatic bias 無(wu)縫(feng)式自給偏(pian)壓(ya), 連續(xu)調(tiao)整 |
Gun Alignment 電(dian)子(zi)槍合軸 | Auto alignment 自動合(he)軸 |
Filament Heating 燈絲(si)加(jia)熱(re) | Auto heating 自動加(jia)熱(re) |
★Condenser Lens 聚光透鏡(jing) | Two stage zoom type condenser lens – (patent) 變焦(jiao)聚光透鏡(jing)系統 – 技術 |
★Objective Lens 物(wu)鏡(jing) | Super conical type objective lens 超(chao)級錐(zhui)形物(wu)鏡(jing) |
Objective Lens Aperture 物(wu)鏡(jing)光(guang)闌(lan) | 1 step, Fine position adjustment in X and Y directions 1孔固(gu)定(ding)，可(ke)在X和Y方向微調(tiao) |
Focus 聚焦(jiao) | Auto/Manual focus 自動/手動聚焦(jiao) |
Stigmator 像散 | Auto/Manual stigmator 自動/手動消像散 |
★Stigmator Memory 像散存儲(chu)器 | Standard, Auto/Manual 標準配(pei)置，自動/手動補償像散 |
★Electrical Image Shift 圖像移(yi)動 | X-Y , ±50um |
Specimen Stage (三) 樣(yang)品(pin)臺(tai) | |
Type 樣(yang)品(pin)臺(tai)類(lei)型(xing) | Eucentric type stage 全(quan)對中樣(yang)品(pin)臺(tai) |
Traverse 行(xing)程 | X : 80mm; Y : 40mm; Z : 5 ~ 48mm; 傾斜(xie) T: -10 ~ +90° 旋(xuan)轉 R: 360°連續(xu)endless |
Maximum Specimen Size 最(zui)大樣品尺寸 | 150mm diameter & 48mm height specimen can be inserted 可(ke)裝(zhuang)直徑150mm高度為48mm的(de)樣品(pin) |
Maximum Size of Observation 最(zui)大觀(guan)察(cha)視(shi)野 | 127mm diameter 直徑127mm |
Image Display (四(si)) 圖(tu)形(xing)顯示 | |
Pixels 顯示像素(su) | 640×480,1280×960,2560×1920,5120×3840 |
Image Process 圖像處(chu)理 | Averaging, Linear, Contrast, Gamma, Multi level, Patial enhance, Reverse, Pseudo color, Multi image 平(ping)均值, 灰度(du)修正, 反(fan)差增強(qiang), 偽彩(cai), 二(er)及四(si)分(fen)屏(ping), 2及4倍(bei)數碼變焦(jiao) |
高品質的(de)圖像
通(tong)過(guo)改進(jin)電(dian)子(zi)光學系統，使圖像質量更(geng)高，分(fen)析(xi)更快。
減少了充放電(dian)現(xian)象
新的(de)掃描方式能(neng)抑制非(fei)導電(dian)性(xing)樣品的(de)荷電(dian)效(xiao)應。
低真空(kong)模(mo)式(LV)
低真空(kong)壓(ya)力(li)範(fan)圍從10 Pa 至(zhi) 650 Pa，拓(tuo)寬了可(ke)以(yi)觀(guan)察(cha)的(de)樣品(pin)材(cai)料(liao)的(de)範(fan)圍。
樣品臺(tai)導航(hang)系統
全(quan)自動5 軸馬達(da)驅動樣品(pin)臺(tai)提(ti)高了尋找(zhao)感興(xing)趣(qu)的(de)區域（ROI）的(de)速度(du)。使用導航(hang)系統（選配(pei)件(jian)）在彩(cai)色(se)圖像上(shang)能迅(xun)速到(dao)達(da)感興(xing)趣(qu)的(de)區域。
大型樣品室(shi)和樣(yang)品臺(tai)。
能(neng)容(rong)納大型、較(jiao)重的(de)樣品(pin)，可(ke)裝(zhuang)載(zai)**尺寸為(wei)200 mm（φ）× 80 mm（ H）、重達(da)2 kg 的(de)樣品(pin)。
**幾何設計的(de)分(fen)析(xi)接口。
多(duo)個(ge)接(jie)口可(ke)以(yi)安裝(zhuang)EDS、EBSD 和(he)WDS 等(deng)附件， EDS 和(he)EBSD 處(chu)於(yu)同(tong)壹(yi)平(ping)面(mian)，此外，還(hai)能(neng)安裝(zhuang)兩(liang)個(ge)相(xiang)隔(ge)180 度的(de)EDS 檢測(ce)器用於(yu)高通(tong)量的(de)顯微(wei)分(fen)析(xi)。
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