產品(pin)名稱(cheng)：二(er)手(shou)日(ri)本(ben)電(dian)子(zi)JSM-IT200
產品(pin)型(xing)號：
更(geng)新時間(jian)：2024-06-04
產品(pin)特點(dian)：二(er)手日(ri)本(ben)電(dian)子(zi)JSM-IT200是壹款(kuan)更(geng)簡潔(jie)、更(geng)易於(yu)使(shi)用(yong)且(qie)性價比高(gao)的掃(sao)描電(dian)子(zi)顯(xian)微(wei)鏡(jing)。使(shi)用(yong)初(chu)學者易懂(dong)的樣品(pin)交換(huan)導航，可(ke)以輕松(song)地(di)從樣品(pin)臺搜(sou)索視野(ye)並(bing)開(kai)始(shi)觀(guan)察(cha)SEM圖(tu)像。Zeromag能(neng)像光鏡壹(yi)樣直(zhi)觀(guan)地(di)搜(sou)索視野(ye)，Live Analysis*²可(ke)以不(bu)用(yong)特意(yi)分(fen)析就能(neng)實時(shi)獲取元(yuan)素(su)分(fen)析結果，SMILE VIEWTM Lab能(neng)綜合(he)編(bian)輯(ji)觀(guan)察(cha)和(he)分析報告等(deng)，使它(ta)成為(wei)壹個(ge)分(fen)析業務(wu)的軟件。
產品(pin)詳細(xi)資(zi)料：
立(li)即(ji)觀察(cha)！立(li)即(ji)分析！立(li)即(ji)報告！
JEOL InTouchScope™系列(lie)的三個(ge)功(gong)能(neng)使分(fen)析裝置(zhi)成為(wei)壹種工(gong)具。
■完(wan)成樣品(pin)交換(huan)的同(tong)時觀(guan)察(cha)開(kai)始(shi) 樣品(pin)交換(huan)導航
樣品(pin)交換(huan)導航是從打(da)開(kai)樣品(pin)室到(dao)開(kai)始(shi)觀(guan)察(cha)過(guo)程(cheng)中進(jin)行(xing)導航的功能(neng)
■立(li)即(ji)觀察(cha)！ Zeromag觀(guan)察(cha)
使(shi)用(yong)主(zhu)窗(chuang)口顯示(shi)的樣品(pin)臺示(shi)意(yi)圖(tu)和(he)光學 CCD 圖像 *¹ ，進(jin)行(xing)視野(ye)搜(sou)尋和(he)分析位置(zhi)。
■立(li)即(ji)分析！Live Analysis分析*²
通過顯(xian)示(shi)譜(pu)圖和(he)顯示(shi)元(yuan)素(su)，能(neng)確認(ren)正(zheng)在觀察(cha)中的視野的譜圖及(ji)主(zhu)要(yao)元(yuan)素(su)。
■立(li)即(ji)報告！SMILE VIEWTM Lab 數(shu)據集中管(guan)理(li)
按(an)下(xia)數(shu)據管(guan)理(li)圖標並顯示(shi)數(shu)據管(guan)理(li)窗口後(hou)，從SEM圖像到(dao)分析，對全部數(shu)據能(neng)創建批量報告 、查看數(shu)據並重(zhong)新(xin)分析數(shu)據。
二(er)手(shou)日(ri)本(ben)電(dian)子(zi)JSM-IT200首先掃(sao)描電(dian)鏡有壹(yi)個(ge)電(dian)子(zi)發射槍(qiang)，從(cong)槍(qiang)中會(hui)發射出(chu)加(jia)速、聚焦過的電子(zi)，在用(yong)這(zhe)些電子(zi)來(lai)撞擊(ji)樣品(pin)。樣品(pin)在受到(dao)撞擊(ji)後(hou)會(hui)產生如同(tong)水(shui)波壹(yi)般(ban)的信(xin)號，另壹個(ge)接(jie)收器(qi)會(hui)用(yong)來(lai)接(jie)收這(zhe)些信(xin)號。這(zhe)些信(xin)號有(you)許多(duo)不(bu)同(tong)的種類，不(bu)同(tong)的信(xin)號有(you)不(bu)同(tong)的用(yong)途(tu)，可以對樣品(pin)多個(ge)方(fang)面(mian)的表現(xian)進(jin)行(xing)檢測。因此，掃(sao)描電(dian)鏡除了(le)可(ke)以成像外，還可(ke)以用(yong)來(lai)分析樣品(pin)的成分(fen)形貌(mao)，對(dui)樣品(pin)的元(yuan)素(su)進(jin)行(xing)分析。
掃(sao)描電(dian)鏡的分辨率(lv)比顯微(wei)鏡(jing)的分辨率(lv)高(gao)得多(duo)，能(neng)夠(gou)將(jiang)物(wu)品(pin)放大(da)20萬(wan)倍。掃(sao)描電(dian)鏡的視野廣闊(kuo)，其形成的圖像有很(hen)強(qiang)的立(li)體(ti)感，可以觀察(cha)到(dao)凹凸不(bu)平(ping)的細(xi)微(wei)結構。
目前研(yan)制(zhi)出(chu)的掃(sao)描電(dian)鏡種類有很(hen)多，按(an)照(zhao)結(jie)構和(he)用(yong)途(tu)進(jin)行(xing)劃分的話(hua)大概有(you)6種，其中包括(kuo)常(chang)見的典型(xing)掃(sao)描電(dian)鏡、還有(you)掃(sao)描透(tou)射電(dian)鏡、場(chang)發射掃(sao)描電(dian)鏡、冷(leng)凍(dong)掃(sao)描電(dian)鏡、掃(sao)描隧道(dao)電鏡、原子(zi)力顯微(wei)鏡(jing)等(deng)。
二(er)手(shou)日(ri)本(ben)電(dian)子(zi)JSM-IT200隨(sui)著(zhe)科(ke)技的不(bu)斷(duan)發展，掃(sao)描電(dian)鏡的研制(zhi)技術也(ye)在不(bu)斷(duan)進(jin)步(bu)，越來(lai)越多(duo)的人了(le)解(jie)到(dao)掃(sao)描電(dian)鏡，其已(yi)經從(cong)高(gao)等(deng)級的研究發展變成了(le)被(bei)廣泛(fan)使用(yong)的測試手段(duan)，應用(yong)範(fan)圍涉及(ji)到(dao)各行(xing)各業，其中包括(kuo)生命科(ke)學、材料科(ke)學、食品(pin)科(ke)學、化(hua)學、電子(zi)學等(deng)學科(ke)，還運(yun)用(yong)到(dao)了(le)陶瓷(ci)行(xing)業、化(hua)工(gong)行(xing)業、半(ban)導體(ti)行(xing)業等(deng)生產部門。
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