產品(pin)名稱：二手(shou)SEM掃(sao)描電(dian)子顯微鏡(jing)
產品(pin)型號(hao)：
更新(xin)時間：2024-06-28
產品(pin)特(te)點：二(er)手(shou)SEM掃(sao)描電(dian)子顯微鏡(jing)SU3500所具(ju)備的新(xin)型(xing)的模(mo)擬(ni)圖(tu)像(xiang)和(he)改(gai)進(jin)後的電(dian)子光學(xue)系(xi)統以及圖(tu)像(xiang)顯示算法使之(zhi)能夠(gou)在低(di)加(jia)速電(dian)壓(ya)下獲得更高的分辨率(lv)。3KV電(dian)壓(ya)時，SE圖(tu)像(xiang)可達(da)7nm,5KV電(dian)壓(ya)時，BSE圖(tu)像(xiang)可達(da)10nm。最新(xin)開(kai)發的自動多級(ji)電(dian)子槍偏壓(ya)機構能夠(gou)在不(bu)降低(di)電(dian)子束大(da)小(xiao)的情(qing)況(kuang)下，在壹(yi)定(ding)範(fan)圍內(nei)的常(chang)用(yong)加(jia)速電(dian)壓(ya)下增加(jia)發射(she)電(dian)流。因(yin)此(ci)，此款產品(pin)與S-3400N相比，噪音(yin)得以大(da)幅(fu)減少，成(cheng)像(xiang)更加(jia)清晰(xi)。
產品(pin)詳細資(zi)料：
全(quan)新(xin)設計的電(dian)子光學(xue)系(xi)統和(he)信(xin)號處(chu)理(li)技(ji)術(shu)實(shi)現了高(gao)速掃(sao)描和(he)低(di)噪音(yin)的觀(guan)察
和(he)以前的常(chang)規掃(sao)描電(dian)子顯微鏡(jing)相比，自動功能縮(suo)短。
具有在(zai)低(di)真空(kong)時可以非(fei)常(chang)好(hao)地(di)觀(guan)察樣品最表(biao)面(mian)的細微(wei)形狀的“UVD（超高靈敏度(du)可變壓(ya)力探(tan)測器）
具(ju)有實(shi)現了實(shi)時立(li)體(ti)成(cheng)像(xiang)的“實(shi)時立(li)體(ti)觀(guan)察功能
（*1）：自選
（*2）：和(he)日(ri)立(li)SEM S-3400N相比
（*3）：根(gen)據(ju)觀(guan)察條件(jian)的不(bu)同，時間會(hui)有變動(dong)
（*4）：自選
二(er)手(shou)SEM掃(sao)描電(dian)子顯微鏡(jing)規格
項目 | 描述(shu) | |
| 二(er)次電(dian)子分辨率(lv) | 3.0nm（加(jia)速電(dian)壓(ya)=30kV，WD=5mm高真空(kong)模式(shi)） | |
| 7.0nm（加(jia)速電(dian)壓(ya)=3kV，WD=5mm高真空(kong)模式(shi)） | ||
| 背(bei)散射電(dian)子分辨率(lv) | 4.0nm（加(jia)速電(dian)壓(ya)=30kV，WD=5mm低(di)真空(kong)模式(shi)） | |
| 10.0nm（加(jia)速電(dian)壓(ya)=5kV，WD=5mm高真空(kong)模式(shi)） | ||
| 放大(da)倍(bei)率(lv) | 5 - 300,000倍(bei)（底片倍(bei)率(lv)＊5） | |
| 7 - 800,000倍(bei)（顯示器顯示倍(bei)率(lv)＊6） | ||
| 加(jia)速電(dian)壓(ya) | 0.3 - 30kV | |
| 可變壓(ya)力範(fan)圍 | 6 - 650Pa | |
| 最大(da)樣品尺寸(cun) | 直(zhi)徑(jing) 200mm | |
| 樣品臺(tai) | X | 0 - 100mm |
| Y | 0 - 50mm | |
| Z | 5 - 65mm | |
| R | 360° | |
| T | -20° - 90° | |
| 可觀(guan)察區域 | 直徑(jing) 130mm （旋(xuan)轉並用） | |
| 最大(da)樣品高(gao)度(du) | 80mm（WD=10mm） | |
| 馬達臺 | 5軸(zhou)標配 | |
| 電(dian)子光學(xue)系(xi)統 | 電(dian)子槍 | 預(yu)對(dui)中(zhong)的鎢燈(deng)絲 |
| 物(wu)鏡(jing)光闌(lan) | 4孔可動(dong)光闌(lan) | |
| 探(tan)檢測器 | 埃(ai)弗哈(ha)特(te) 索恩(en)利(li) 二(er)次電(dian)子探(tan)測器 | |
| 高(gao)靈敏度(du)半(ban)導體(ti)背散射電(dian)子檢測器 | ||
| EDX分析(xi) WD | 10mm（取(qu)出角(jiao)35°） | |
| 圖(tu)像(xiang)顯示 | 操(cao)作(zuo)系統 | Windows® 7＊7（如(ru)有更改(gai)，恕(shu)不(bu)另(ling)行通知(zhi)） |
| 圖(tu)像(xiang)顯示模式(shi) | 全(quan)屏(ping)模式(shi)（1,280 × 960 像(xiang)素(su)） | |
| 小(xiao)屏(ping)模式(shi)（800 × 600 像(xiang)素(su)） | ||
| 雙(shuang)圖(tu)像(xiang)顯示（800 × 600 像素(su)） | ||
| 四屏(ping)幕(mu)顯示（640 × 480像素(su)） | ||
| 信號(hao)混(hun)合(he)模(mo)式(shi) | ||
| 排(pai)氣(qi)系(xi)統(tong) | 操(cao)作(zuo) | 全自動排(pai)氣 |
| 渦(wo)輪(lun)分子(zi)泵 | 210升(sheng)/秒(miao) × 1 | |
| 機械(xie)泵 | 135L/min（162L/min，60Hz）× 1 | |
1.成(cheng)像(xiang)功能
SU3500日(ri)立(li)掃(sao)描電(dian)子顯微鏡(jing)所具(ju)備的新(xin)型(xing)的模(mo)擬(ni)圖(tu)像(xiang)和(he)改(gai)進(jin)後的電(dian)子光學(xue)系(xi)統以及圖(tu)像(xiang)顯示算法使之(zhi)能夠(gou)在低(di)加(jia)速電(dian)壓(ya)下獲得更高的分辨率(lv)。3KV電(dian)壓(ya)時，SE圖(tu)像(xiang)可達(da)7nm,5KV電(dian)壓(ya)時，BSE圖(tu)像(xiang)可達(da)10nm。開發的自動多級(ji)電(dian)子槍偏壓(ya)機構能夠(gou)在不(bu)降低(di)電(dian)子束大(da)小(xiao)的情(qing)況(kuang)下，在壹(yi)定(ding)範(fan)圍內(nei)的常(chang)用(yong)加(jia)速電(dian)壓(ya)下增加(jia)發射(she)電(dian)流。因(yin)此(ci)，此款產品(pin)與S-3400N相比，噪音(yin)得以大(da)幅(fu)減少，成(cheng)像(xiang)更加(jia)清晰(xi)。
通過(guo)SU3500的開(kai)發並(bing)優(you)化(hua)過(guo)的圖(tu)像(xiang)處(chu)理(li)方(fang)法(fa)，現在可以很容(rong)易(yi)地(di)在快速(su)掃(sao)描模式(shi)下觀(guan)察到低(di)噪聲的圖(tu)像(xiang)。高(gao)速自動聚(ju)焦控制(zhi)(AFC)和(he)自動亮(liang)度(du)及對(dui)比度(du)控制(zhi)(ABCC)的增強，使您可以縮(suo)短*2SEM(掃(sao)描電(dian)子顯微鏡(jing))的觀(guan)察循(xun)環時間(TAT)
2.低(di)真空(kong)功能操(cao)作(zuo)的優(you)異(yi)性(xing)
新(xin)設計的真空(kong)程(cheng)序使(shi)真空(kong)範(fan)圍可以達到6-650Pa,實(shi)時真空(kong)反饋允許(xu)在用(yong)戶特(te)定的壓(ya)力設定(ding)下保持樣品室(shi)的快速(su)的真空(kong)穩(wen)定(ding)性。在(zai)低(di)真空(kong)模式(shi)下直接觀(guan)察更清晰(xi)。
SU3500日(ri)立(li)掃(sao)描電(dian)子顯微鏡(jing)具(ju)有壹(yi)個(ge)可變壓(ya)力模式(shi)，允許(xu)對(dui)處(chu)於自然(ran)狀態下的潮濕，油膩和(he)非(fei)導電(dian)樣品進(jin)行觀(guan)察。由(you)於正(zheng)電(dian)離子(zi)是(shi)電(dian)子束撞擊殘余(yu)氣(qi)體(ti)分子(zi)的結(jie)果(guo)，所以不(bu)需要進(jin)行傳(chuan)統的樣品前(qian)處(chu)理(li)，比如(ru)幹(gan)燥和(he)金屬鍍(du)層(ceng)。
新(xin)開(kai)發的超高靈敏度(du)可變壓(ya)力探(tan)測器得以進(jin)壹(yi)步(bu)優(you)化(hua)，特(te)別(bie)是(shi)在可變壓(ya)力模式(shi)下觀(guan)察超薄(bo)表(biao)面(mian)的微(wei)觀(guan)結(jie)構方(fang)面(mian)。通過(guo)同時觀(guan)察從標準BSE探(tan)測器得到的組(zu)成(cheng)圖(tu)像(xiang)，使(shi)得在多種應(ying)用(yong)下進(jin)行的各(ge)種(zhong)各樣的分析(xi)都(dou)成(cheng)為(wei)可能。振木以銅礦(kuang)物、樹(shu)脂(zhi)填料、水(shui)虱(shi)等圖(tu)像(xiang)為(wei)例(li)真實(shi)的再(zai)現了SU3500的這(zhe)項(xiang)功能。
| 如(ru)果(guo)妳對(dui)此(ci)產品(pin)感興(xing)趣(qu)，想了(le)解更詳細的產品(pin)信息(xi)，填寫下表(biao)直接與廠(chang)家(jia)聯系： |
