二(er)手(shou)日(ri)本電(dian)子（SEM）IT-300產品(pin)參數

日本電(dian)子掃描電(dian)鏡JSM-IT300

二手(shou)日(ri)本電(dian)子（SEM）IT-300電(dian)子光學系(xi)統的高(gao)質(zhi)量(liang)成(cheng)像(xiang)

JSM-IT300 提(ti)供(gong)高(gao)畫(hua)質(zhi)圖(tu)像(xiang)，能滿足(zu)您(nin)對(dui) W-SEM 機(ji)型(xing)的期(qi)待(dai)，鏡筒設計(ji)和(he)掃描系(xi)統使得(de)不(bu)導(dao)電(dian)樣(yang)品(pin)的圖像(xiang)質量(liang)有所提(ti)高(gao)

二(er)次(ci)電(dian)子像(xiang)

通過高(gao)真(zhen)空(kong)二(er)次(ci)電(dian)子像(xiang)觀察到的蝴蝶(die)鱗粉(fen)。可以(yi)用(yong)更高(gao)的(de)分(fen)辨(bian)率觀察微(wei)觀結構。

背散射(she)電(dian)子像(xiang)

通過在(zai)低(di)加速(su)電(dian)壓(ya)下觀察背散射(she)電(dian)子成份像(xiang)，能觀察到每(mei)個碳(tan)化(hua)鎢顆(ke)粒的(de)通道(dao)襯度。

掃描系(xi)統使低(di)加速(su)電(dian)壓(ya)下的(de)圖(tu)像(xiang)質量(liang)更(geng)高(gao)

幀(zhen)累積(ji)法能制止(zhi)荷電(dian)效(xiao)應(ying)，對易(yi)充(chong)電(dian)的樣(yang)品(pin)可以輕松地(di)進(jin)行觀察。

掃(sao)描方式(shi)能減(jian)輕樣(yang)品(pin)的帶(dai)電(dian)，不(bu)易(yi)受(shou)到樣(yang)品(pin)漂(piao)移(yi)的(de)影響，即(ji)使是(shi)容(rong)易(yi)充(chong)電(dian)的樣(yang)品(pin)，能在(zai)高(gao)倍(bei)率下的(de)得(de)到高(gao)清(qing)的(de)圖(tu)像(xiang)質量(liang)

低(di)真(zhen)空(kong)模(mo)式(shi)

差動抽(chou)氣(qi)系統

差動抽(chou)氣(qi)系統提(ti)高(gao)了(le)低(di)真(zhen)空(kong)模(mo)式(shi)下的(de)圖(tu)像(xiang)質量(liang)，此外(wai)，低(di)真(zhen)空(kong)模(mo)式(shi)的(de)至大(da)

壓(ya)力(li)可(ke)高(gao)達(da) 650Pa，進(jin)壹步擴(kuo)大(da)了應(ying)用(yong)範(fan)圍(wei)。

低(di)真(zhen)空(kong)擴(kuo)展(zhan)了(le)壓(ya)力(li) ：高(gao)達(da) 650Pa

含(han)有大(da)量(liang)水分(fen)的(de)軟樣(yang)品(pin)可能會由於樣(yang)品(pin)室內(nei)的壓(ya)力(li)而(er)無(wu)法(fa)保(bao)持原有的(de)結(jie)構，這(zhe)樣(yang)的(de)

樣(yang)品(pin)不(bu)進(jin)行特(te)殊處理就無(wu)法觀察。但(dan)低(di)真(zhen)空(kong)壓(ya)力(li)範(fan)圍(wei)擴(kuo)展(zhan)到 650 Pa 就可以(yi)進(jin)行觀

察，即(ji)使沒有特(te)殊處理對樣(yang)品(pin)的損(sun)傷(shang)也很小(xiao)。

低(di)真(zhen)空(kong)二(er)次(ci)電子像(xiang)

即(ji)使是(shi)低(di)真(zhen)空(kong)模(mo)式(shi)下，通(tong)過低(di)真(zhen)空(kong)二(er)次(ci)電(dian)子像(xiang)也能清晰(xi)地(di)觀察有機(ji)材料(liao)的(de)表(biao)面細節。

EDS 集成(cheng)化(hua) EDS 壹觸(chu)式(shi)分(fen)析

JSM-IT300A/LA

JEOL 是(shi)世(shi)界上(shang)壹家(jia)集開(kai)發(fa)、制造(zao)和(he)銷(xiao)售(shou)於壹(yi)身的(de) SEM 和(he) EDS 制造(zao)商。在(zai)觀察和(he)分(fen)析過程中(zhong)，輕觸屏(ping)幕(mu)即(ji)可(ke)進(jin)行分(fen)析。

壹(yi)觸式(shi)分(fen)析

在(zai) SEM 的(de)操(cao)作界面上(shang)，只需(xu)輕觸圖標(biao)就可(ke)以(yi)執行(xing)基(ji)本的分(fen)析功能。JEOL 的 SEM 和(he) EDS 壹體(ti)化(hua)集成(cheng)，提(ti)高(gao)了(le)通(tong)量(liang)和(he)易(yi)用(yong)性。

基(ji)本的分(fen)析操(cao)作，在(zai) SEM 的(de) GUI 上(shang)壹觸(chu)即(ji)成(cheng)。

在(zai) SEM 的(de) GUI 上(shang)，輕觸屏(ping)幕(mu)即(ji)可(ke)執行基(ji)本的分(fen)析操(cao)作。