產(chan)品名(ming)稱(cheng):二(er)手(shou)電(dian)鏡sem+edx
產品(pin)型(xing)號:
更(geng)新(xin)時間(jian):2024-10-23
產品特點(dian):二手電(dian)鏡sem+edx掃描(miao)電(dian)鏡分辨(bian)率(lv):高真空(kong)二次電(dian)子(zi)像(xiang)小於3.0nm(30KV) 掃描(miao)電(dian)鏡放大(da)倍(bei)數:5×~1000000×,連續可調 能(neng)譜儀(yi)分辨(bian)率(lv):MnKα峰的半(ban)高(gao)寬(kuan)優(you)於127eV; 能(neng)譜儀(yi)元(yuan)素測(ce)試範(fan)圍:Be4— Pu94
產品(pin)詳(xiang)細資料:
二手(shou)電(dian)鏡sem+edx:在現(xian)代(dai)科(ke)學研究(jiu)和工業(ye)應(ying)用中,掃描(miao)電(dian)子(zi)顯微(wei)鏡(SEM)是壹種至(zhi)關(guan)重(zhong)要的工具,主(zhu)要是用於觀察(cha)和(he)分(fen)析(xi)樣(yang)品的微(wei)觀結(jie)構。而(er)SEM 的類(lei)型(xing)多種多樣,其(qi)中比較(jiao)常用的是場(chang)發射(she)(FE-SEM)和(he)鎢燈(deng)絲(si)掃描(miao)電(dian)鏡(W-SEM)。雖(sui)然(ran)都(dou)能(neng)提供(gong)高分辨(bian)率(lv)的圖像(xiang),但(dan)場(chang)發射(she)電(dian)鏡和鎢燈(deng)絲(si)還是比較(jiao)大(da)的。
二(er)手(shou)電(dian)鏡sem+edx場(chang)發射(she)電(dian)鏡和鎢燈(deng)絲(si)掃描(miao)電(dian)鏡的區(qu)別主(zhu)要體現在以下(xia)幾(ji)個(ge)方(fang)面(mian):
1、原理
熱場(chang)發射(she)掃(sao)描(miao)電(dian)鏡使用的是單晶(jing)鎢燈(deng)為電(dian)子(zi)源,其主(zhu)要原(yuan)理(li)是通過(guo)強電(dian)場(chang)從金(jin)屬發射(she)出(chu)電(dian)子(zi)。這種電(dian)子(zi)源的電(dian)子(zi)發射(she)區(qu)非(fei)常小,導(dao)致電(dian)子(zi)束(shu)的直(zhi)徑非(fei)常細,可以產生的電(dian)流(liu)密(mi)度和(he)穩(wen)定(ding)的電(dian)子(zi)束(shu),從而(er)實現高(gao)分(fen)辨(bian)率(lv)的成(cheng)像(xiang)。
鎢燈(deng)絲(si)掃描(miao)電(dian)鏡使用的是鎢燈(deng)絲(si)為電(dian)子(zi)源,通過(guo)熱電(dian)子(zi)發射(she)產(chan)生電(dian)子(zi)束(shu)。鎢燈(deng)絲(si)結(jie)構簡單,成(cheng)本低,但(dan)其(qi)電(dian)子(zi)發射(she)區(qu)較大(da),電(dian)子(zi)束(shu)的直(zhi)徑相(xiang)對(dui)較粗(cu),電(dian)流(liu)密(mi)度較(jiao)低,因(yin)此分辨(bian)率(lv)較低。

2、性(xing)能(neng)
FE-SEM 通常具有更(geng)高的分(fen)辨(bian)率(lv)和更(geng)好的圖像(xiang)質量,因(yin)為場(chang)發射(she)源能(neng)夠產生極(ji)細(xi)的電(dian)子(zi)束(shu),能(neng)夠更(geng)清晰(xi)地(di)分(fen)辨(bian)樣品的微(wei)小細(xi)節(jie)。FE-SEM 的典型(xing)分(fen)辨(bian)率(lv)可以達(da)到納(na)米(mi)級別,適用於對樣品進(jin)行高(gao)精(jing)度的表面(mian)分(fen)析(xi)。W-SEM 的分(fen)辨(bian)率(lv)通常較低,約(yue)在幾(ji)十(shi)納米(mi)到幾(ji)百納米(mi)之間(jian),適用於壹般(ban)的表面(mian)形(xing)貌觀(guan)察(cha)。
此外,FE-SEM 的信(xin)噪(zao)比更(geng)高,圖像(xiang)的對(dui)比度(du)和(he)清晰(xi)度更(geng)佳,這(zhe)對(dui)於需(xu)要高(gao)精(jing)度(du)分析(xi)的科(ke)學研究(jiu)尤(you)其(qi)重(zhong)要。
3、應(ying)用
FE-SEM 由(you)於其高分辨(bian)率(lv)和高圖像(xiang)質量,廣泛應(ying)用於納米(mi)技術、材(cai)料科學、生物醫學和半(ban)導(dao)體行業(ye)等需(xu)要高(gao)精(jing)度(du)分析(xi)的領(ling)域。W-SEM 則更(geng)適合用於常規的表面(mian)形(xing)貌觀(guan)察(cha)和(he)大(da)樣本的快(kuai)速(su)分析(xi),如地(di)質樣品(pin)、金(jin)屬材(cai)料和生物樣品的宏(hong)觀結(jie)構觀(guan)察(cha)。
綜(zong)上(shang)所述,場(chang)發射(she)電(dian)鏡和鎢燈(deng)絲(si)掃描(miao)電(dian)鏡的區(qu)別主(zhu)要體現在原(yuan)理(li)、性(xing)能(neng)、應用這(zhe)三(san)個(ge)方(fang)面(mian)。了解這兩種顯微(wei)鏡的特點(dian)和區別,能(neng)夠幫助(zhu)用戶(hu)根(gen)據具體需(xu)求選(xuan)擇合適(shi)的設備,從而(er)更(geng)好地(di)進(jin)行科(ke)學研究(jiu)和工業(ye)檢(jian)測。因(yin)此,通常需(xu)要根(gen)據(ju)具體的研(yan)究(jiu)目的和(he)樣(yang)品特點(dian)進(jin)行選(xuan)擇。

| 如果妳(ni)對此產品感興趣,想了解(jie)更(geng)詳細(xi)的產(chan)品(pin)信(xin)息(xi),填寫(xie)下(xia)表直(zhi)接(jie)與廠家聯系: |


