產品(pin)名稱(cheng)：二手(shou) 日本(ben)電(dian)子 SEM IT100掃描(miao)電(dian)鏡(jing)
產(chan)品型號：
更(geng)新時(shi)間：2025-03-05
產品(pin)特(te)點(dian)：二手(shou) 日本(ben)電(dian)子 SEM IT100掃描(miao)電(dian)鏡(jing)主要特(te)點(dian)為(wei)全數(shu)字化(hua)控制(zhi)系(xi)統(tong)，高分(fen)辨率、高精度(du)的變焦(jiao)聚(ju)光(guang)鏡(jing)系(xi)統(tong)、全對(dui)中(zhong)樣品(pin)臺及(ji)高靈(ling)敏(min)度(du)半導體背(bei)散(san)射(she)探(tan)頭；用(yong)於各(ge)種材(cai)料(liao)的形貌組(zu)織(zhi)觀(guan)察(cha)、金屬材料(liao)斷(duan)口分(fen)析和(he)失(shi)效分(fen)析。該(gai)型號在很(hen)多大(da)學(xue)、研(yan)究(jiu)院(yuan)所(suo)及(ji)制(zhi)造業被廣泛使(shi)用(yong)。
產品(pin)詳(xiang)細資料(liao)：
二手(shou) 日本(ben)電(dian)子 SEM IT100掃描(miao)電(dian)鏡(jing) 介(jie)紹(shao)
JSM-IT100多(duo)功(gong)能掃描(miao)電(dian)鏡(jing)，凝(ning)聚(ju)了(le)日(ri)本(ben)電(dian)子50年(nian)來(lai)的SEM技術精華，外形設計(ji)緊(jin)湊。新開發的標準機型，不僅保持了(le)InTouchScope系(xi)列可操(cao)作性(xing)，還擁有(you)能與(yu)機(ji)型相(xiang)媲(pi)美(mei)的可擴(kuo)展(zhan)性(xing)，應用(yong)範圍(wei)可(ke)涵(han)蓋(gai)以(yi)生物(wu)技(ji)術和(he)納(na)米(mi)技(ji)術為(wei)首(shou)的包括材料(liao)開發、測試、評(ping)估(gu)和(he)缺陷分(fen)析及(ji)質(zhi)量(liang)控制(zhi)等廣泛領(ling)域(yu)。
產(chan)品(pin)特(te)點(dian)：
JSM-IT100多功(gong)能掃描(miao)電(dian)鏡(jing)，凝(ning)聚(ju)了(le)日(ri)本(ben)電(dian)子50年(nian)來(lai)的SEM技術精華，外形設計(ji)緊(jin)湊。新開發的標準機型，不僅保持了(le)InTouchScope系(xi)列可操(cao)作性(xing)，還擁有(you)能與(yu)機(ji)型相(xiang)媲(pi)美(mei)的可擴(kuo)展(zhan)性(xing)，應用(yong)範圍(wei)涵(han)蓋(gai)以(yi)生物(wu)技(ji)術和(he)納(na)米(mi)技(ji)術為(wei)首(shou)的包括材料(liao)開發、測試、評(ping)估(gu)和(he)缺陷分(fen)析及(ji)質(zhi)量(liang)控制(zhi)等廣泛領(ling)域(yu)。 配(pei)置(zhi)EDS功(gong)能的機型，其(qi)集(ji)成(cheng)化的軟件(jian)系(xi)統(tong)能完(wan)成(cheng)從(cong)圖(tu)像(xiang)觀(guan)察(cha)、元素分(fen)析到(dao)生成(cheng)報告的連貫(guan)操(cao)作。InTouchScopeTM自(zi)2010年(nian)上(shang)市(shi)以(yi)來，客戶(hu)已(yi)遍(bian)及(ji)世界(jie)多國，累(lei)計銷(xiao)售量(liang)超(chao)過1,000臺以(yi)上，是(shi)鎢燈絲掃描(miao)電(dian)鏡(jing)中(zhong)銷(xiao)售較(jiao)好(hao)的機型。
觸控屏(ping)帶(dai)來更(geng)加(jia)直觀(guan)、舒(shu)適(shi)的操(cao)作
・ 采用(yong)觸控屏(ping)，操(cao)作更(geng)直觀(guan)。
・ 用(yong)操(cao)作面板*和鼠(shu)標都(dou)能操(cao)作，用(yong)戶(hu)可(ke)根(gen)據自(zi)己(ji)的愛好(hao)來(lai)選(xuan)擇。
操(cao)作步驟簡明(ming)易懂，初(chu)學(xue)者易於(yu)掌握(wo)
采用(yong)了(le)高度(du)集(ji)成(cheng)的GUI，壹(yi)鍵(jian)點(dian)擊就(jiu)可(ke)實(shi)現SEM和(he) EDS之(zhi)間的切(qie)換(huan)，從(cong)圖(tu)像(xiang)觀(guan)察(cha)到(dao)元素(su)分(fen)析能在(zai)同(tong)壹(yi)個窗(chuang)口進行(xing)操(cao)作。 連貫(guan)的操(cao)作步驟使(shi)初(chu)學(xue)者也能簡便、放(fang)心地使(shi)用(yong)。
按照(zhao)樣品(pin)交換導航的指(zhi)示依次按下(xia)按鈕(niu)，就(jiu)能順(shun)利(li)地交換樣品(pin)
・ 如(ru)果(guo)安(an)裝馬達驅動(dong)樣品(pin)臺*和(he)樣品(pin)臺導航系(xi)統(tong)*，尋找感(gan)興趣的視場(chang)，感(gan)覺像(xiang)使(shi)用(yong)光學(xue)顯(xian)微(wei)鏡(jing)壹(yi)樣。
・ 安(an)裝EDS導航器，有助(zhu)於元(yuan)素(su)分(fen)析的操(cao)作。
可安(an)裝和機型同樣選(xuan)配(pei)件(jian)的多功(gong)能SEM
・ 配(pei)有(you)低真空功(gong)能，即(ji)使(shi)是非(fei)電(dian)性(xing)樣品(pin)不經預處(chu)理也(ye)能進(jin)行(xing)觀(guan)察(cha)和分(fen)析。
・ 除(chu)了(le)低真空觀(guan)察(cha)、元素分(fen)析及(ji)可安(an)裝5軸馬達驅動(dong)樣品(pin)臺外(wai)，加(jia)速電(dian)壓還(hai)可(ke)以(yi)擴(kuo)展(zhan)到(dao)30kV（選(xuan)配(pei)項(xiang)）。
擴(kuo)展(zhan)了(le)EDS的區(qu)域(yu)分(fen)析、線(xian)分(fen)析等功(gong)能
・ 采(cai)用(yong)日本(ben)電(dian)子制(zhi)造的EDS，實(shi)現了(le)GUI的高度(du)集(ji)成(cheng)，可以(yi)在同(tong)壹(yi)窗(chuang)口進行(xing)SEM和(he)EDS之(zhi)間的切(qie)換(huan)。
・ InTouchScopeTM 系(xi)列的EDS還擴(kuo)展(zhan)了(le)區(qu)域(yu)分(fen)析、線(xian)分(fen)析和(he)實(shi)時過濾功(gong)能。
節(jie)省(sheng)空間，僅需壹(yi)個100V的電(dian)源插座即(ji)可，不需要冷(leng)卻水(shui)，安(an)裝方便
・ 與本公(gong)司(si)的舊機型比較(jiao)，安(an)裝面積減(jian)少了(le)30%左(zuo)右(you)，僅需要和臺(tai)式(shi)SEM大(da)約(yue)相(xiang)同的空間就可(ke)安(an)裝。
・ 可使(shi)用(yong)100V的電(dian)源插座。不需要冷(leng)卻水(shui)，安(an)裝簡單，對(dui)安(an)裝環境沒有(you)特(te)殊(shu)要求。
* 選(xuan)配(pei)項(xiang)
二手(shou) 日本(ben)電(dian)子 SEM IT100掃描(miao)電(dian)鏡(jing)產(chan)品規(gui)格：
高真空模(mo)式(shi): 3 nm(30 kV *1)、 | 4 nm(20 kV)、8 nm(3 kV) 、15 nm(1 kV) | |
分(fen)辨率 | 低真空模(mo)式(shi)*2: 4 nm(30 kV *1) | 5 nm(20kV) |
放(fang)大(da)倍率 | × 5 ～× 300,000 （圖(tu)像(xiang)尺寸(cun)：128mm × 96mm） | |
低真空範圍(wei) *2 | 低真空範圍(wei) *2 | |
加(jia)速電(dian)壓 | 0.5 kV ～ 30 kV *1 | |
燈絲 | 工廠(chang)預對(dui)中(zhong)鎢燈絲 | |
電(dian)子槍(qiang) | 可(ke)以(yi)自(zi)動(dong)和(he)手(shou)動(dong)調節(jie) | |
聚(ju)光(guang)鏡(jing) | 高精度(du)變焦(jiao)聚(ju)光(guang)鏡(jing) | |
物(wu)鏡(jing) | 錐(zhui)形物鏡(jing) | |
物(wu)鏡(jing)光(guang)闌 | 固(gu)定光闌，帶(dai)有XY 微(wei)調功(gong)能 | |
像(xiang)散(san)記憶(yi) | 10pa～300pa | |
樣品(pin)臺 | 全(quan)對(dui)中(zhong)樣品(pin)臺 | |
zei大(da)樣品(pin)尺寸(cun) | 150 mm 直(zhi)徑(jing) | |
圖像(xiang)格式(shi) | BMP、TIFF、JPEG | |
EDS功(gong)能*3 | 譜(pu)圖(tu)采集(ji)、點(dian)分(fen)析、定(ding)性(xing)分(fen)析、定(ding)量(liang)分(fen)析、元(yuan)素面分(fen)布、束(shu)流追蹤(zong) | |
標準菜單 | 有(you) | |
客戶(hu)菜單 | 觀(guan)察(cha)條件(jian)、樣品(pin)臺、真空模(mo)式(shi) | |
自(zi)動(dong)功(gong)能 | 燈絲調整(zheng)、自(zi)動(dong)對(dui)中(zhong)、自(zi)動(dong)聚(ju)焦(jiao)、自(zi)動(dong)消像(xiang)散(san)、自(zi)動(dong)襯(chen)度(du)/亮度(du) | |
真空系(xi)統(tong) | 自(zi)動(dong)、TMP: 1臺(tai)、RP: 1臺(tai) | |
主要選(xuan)配(pei)件(jian)
加(jia)速電(dian)壓擴(kuo)展(zhan) ( AEK )
低真空用(yong)二次電(dian)子檢測器(qi)
樣品(pin)臺導航系(xi)統(tong)
樣品(pin)室(shi)觀(guan)察(cha)裝置(zhi)
操(cao)作面板
可動(dong)光闌(lan)
馬達驅動(dong)樣品(pin)臺 (XY、XYZ、XYR、5軸驅動(dong))
Dry SD 能譜(pu)儀(yi)檢測器(qi) （10mm, 30mm, 60mm, 100mm）
3D測量(liang)軟(ruan)件(jian) (3D Sight)
| 如(ru)果(guo)妳對(dui)此產品感興趣，想(xiang)了(le)解更(geng)詳(xiang)細的產品信(xin)息(xi)，填寫(xie)下(xia)表直接(jie)與(yu)廠(chang)家(jia)聯系(xi)： |
