產(chan)品(pin)名稱(cheng)：SU-8010 日(ri)立 二手冷場發(fa)射(she)電(dian)鏡
產(chan)品(pin)型號：
更新(xin)時(shi)間(jian)：2025-03-17
產(chan)品(pin)特點：SU-8010 日(ri)立 二手冷場發(fa)射(she)電(dian)鏡二次電子像、反(fan)射電(dian)子像進(jin)行(xing)觀(guan)察(cha)及圖像處(chu)理(li)。可(ke)對(dui)金屬(shu)、陶瓷(ci)、巖石(shi)礦物(wu)、生(sheng)物(wu)等樣(yang)品及各種(zhong)固體材料(liao)進(jin)行(xing)觀(guan)察(cha)和分析研(yan)究(jiu)。電鏡配有(you)高(gao)性(xing)能(neng)X射線能量(liang)色散(san)譜(pu)儀(yi)，簡(jian)稱能譜儀(yi)（EDS），能在(zai)不損壞(huai)樣(yang)品的同時(shi)進行(xing)樣(yang)品表(biao)層(ceng)的微區(qu)點、線、面元素的定(ding)性(xing)、定(ding)量(liang)分析。具(ju)有(you)形(xing)貌、化(hua)學(xue)組分綜(zong)合(he)分析能(neng)力。
產(chan)品(pin)詳(xiang)細(xi)資(zi)料(liao)：
1. 優秀的低(di)加速(su)電壓(ya)成像能力，1kv分辨(bian)率可(ke)達(da)1.3nm
2. 日(ri)立的ExB設計(ji)，不需噴(pen)鍍(du)，可以直(zhi)接(jie)觀(guan)測(ce)不導電(dian)樣(yang)品
3. Upper探(tan)頭(tou)可(ke)選擇(ze)接(jie)受(shou)二次電子像或(huo)背散(san)射電(dian)子像
4. 可(ke)以根據樣(yang)品類(lei)型(xing)和觀(guan)測(ce)要(yao)求選擇(ze)打(da)開或(huo)關閉減(jian)速(su)功能(neng)
5. 標(biao)配有(you)冷指、電(dian)子槍內置(zhi)加熱(re)器(qi)，物(wu)鏡(jing)光闌(lan)具有(you)自(zi)清潔(jie)功能(neng)
6. 儀器(qi)的烘烤(kao)維護及烘烤(kao)後的透鏡機(ji)械(xie)對(dui)中均(jun)可由(you)用戶(hu)
日(ri)立2005年在(zai)中(zhong)國推(tui)出(chu)了S-4800型(xing)高(gao)分辨(bian)場發(fa)射(she)掃(sao)描電鏡(jing)，由(you)於(yu)出(chu)色的應(ying)用性(xing)能(neng)、良(liang)好(hao)的穩定(ding)性(xing)和簡(jian)易的維護(hu)，收到了各界(jie)用(yong)戶(hu)的*好評(ping)。
日(ri)立2011年新(xin)推(tui)出(chu)了它(ta)的後續機(ji)型(xing)---- SU8010日(ri)立掃描(miao)電(dian)子顯微(wei)鏡，它(ta)繼承了(le)S-4800的優點，性(xing)能(neng)有(you)進(jin)壹(yi)步提高(gao)，1kv使(shi)用(yong)減(jian)速(su)功能(neng)後，分辨(bian)率提升(sheng)到1.3nm，相對(dui)於(yu)S-4800可(ke)以(yi)在(zai)更(geng)低(di)的加速(su)電壓(ya)下呈(cheng)高分辨(bian)像(xiang)，明顯(xian)提升(sheng)了以往(wang)很難觀(guan)測(ce)的低(di)原子序(xu)數(shu)樣(yang)品的觀(guan)測(ce)效(xiao)果。
SU8010日(ri)立掃描(miao)電(dian)子顯微(wei)鏡特(te)點：
1. 優秀的低(di)加速(su)電壓(ya)成像能力，1kv分辨(bian)率可(ke)達(da)1.3nm
2. 日(ri)立的ExB設計(ji)，不需噴(pen)鍍(du)，可以直(zhi)接(jie)觀(guan)測(ce)不導電(dian)樣(yang)品
3. Upper探(tan)頭(tou)可(ke)選擇(ze)接(jie)受(shou)二次電子像或(huo)背散(san)射電(dian)子像
4. 可(ke)以根據樣(yang)品類(lei)型(xing)和觀(guan)測(ce)要(yao)求選擇(ze)打(da)開或(huo)關閉減(jian)速(su)功能(neng)
5. 標(biao)配有(you)冷指、電(dian)子槍內置(zhi)加熱(re)器(qi)，物(wu)鏡(jing)光闌(lan)具有(you)自(zi)清潔(jie)功能(neng)
6. 儀器(qi)的烘烤(kao)維護及烘烤(kao)後的透鏡機(ji)械(xie)對(dui)中均(jun)可由(you)用戶(hu)自(zi)行(xing)完(wan)成
儀器技術規(gui)格(ge)：
| 二次電子分辨(bian)率 | 1.0nm（加速(su)電壓(ya)15kV、WD＝4mm） | |
| 1.3nm（加速(su)電壓(ya)1kV、WD＝1.5mm） | ||
| 加速(su)電壓(ya) | 0.1～30kV | |
| 觀(guan)測(ce)倍率 | 20～8000,000(底(di)片輸出(chu)) | |
| 60～2,000,000（顯示(shi)器(qi)輸出(chu)） | ||
| 樣(yang)品臺(tai) | ||
| 馬(ma)達(da)驅(qu)動(dong) | 3軸(zhou)馬(ma)達(da) | |
| 5軸(zhou)（選配） | ||
| 行(xing)程(cheng) | X | 0～50mm |
| Y | 0～50mm | |
| Z | 360° | |
| T | -5～70° | |
| R | 1.5～30mm | |
| zui大(da)裝載(zai)尺寸 | 100mm（zui大(da)） | |
| 150mm（選配） | ||
| 探(tan)頭(tou) | ||
| 標(biao)配 | Lower | 高(gao)立(li)體感(gan)圖像 |
| Upper | 高(gao)分辨(bian)SE、BSE圖像 | |
| 選配 | STEM | 明(ming)場像(xiang)、暗(an)場像(xiang) |
| YAG 探(tan)頭(tou) | BSE圖像 | |
| 半(ban)導體探頭(tou) | BSE圖像 | |
| EBIC | 電(dian)子束感(gan)生(sheng)電(dian)流(liu)圖像 | |
| EDS | 元(yuan)素分析 | |
| 反(fan)汙染(ran)措施 | ||
| 冷指 | 標(biao)配 | |
| 物(wu)鏡(jing)光闌(lan) | 內置(zhi)自(zi)清潔(jie)功能(neng) | |
| 電子槍 | 內置(zhi)加熱(re)器(qi) | |
| 真空(kong)系(xi)統(tong) | ||
| 離(li)子泵 | 3臺(tai) | |
| 分子泵 | 1臺(tai) | |
| 機(ji)械(xie)泵(beng) | 1臺(tai) | |
| 如果妳(ni)對(dui)此(ci)產(chan)品(pin)感(gan)興趣(qu)，想(xiang)了(le)解更(geng)詳(xiang)細(xi)的產(chan)品(pin)信息，填寫(xie)下表(biao)直(zhi)接(jie)與(yu)廠家聯(lian)系(xi)： |
