二手(shou) 蔡司(si) sigma300 場發(fa)射電鏡(jing)用於(yu)清晰(xi)成(cheng)像的靈活(huo)探(tan)測(ce)：

◆利用(yong)優(you)良探(tan)測(ce)術(shu)為(wei)您的需求定(ding)制(zhi) Sigma，表(biao)征(zheng)所有樣品(pin)。

◆利用(yong) in-lens 雙(shuang)探(tan)測(ce)器(qi)獲(huo)取(qu)形(xing)貌和(he)成(cheng)份信息(xi)。

◆利用(yong)新壹(yi)代的二次(ci)探(tan)測(ce)器(qi)，獲(huo)取(qu)高(gao)達50%的信號圖像(xiang)。在(zai)可變(bian)壓力(li)模式下(xia)利(li)用 Sigma 創新的 C2D 和(he) 可變(bian)壓力(li)探(tan)測(ce)器(qi)，在(zai)低(di)真(zhen)空環境(jing)下(xia)獲(huo)取(qu)高(gao)達85%對(dui)比度(du)的銳(rui)利(li)的圖像(xiang)。

自(zi)動(dong)化加(jia)速工(gong)作(zuo)流程(cheng)：

◆4步工(gong)作(zuo)流程(cheng)讓(rang)您控(kong)制 Sigma 的所有功能(neng)。在(zai)多用戶(hu)環(huan)境(jing)中(zhong)，從快速成(cheng)像和(he)節省(sheng)培訓首先，先對(dui)樣品(pin)進行(xing)導(dao)航(hang)，然後(hou)設置(zhi)成(cheng)像條件。

◆首先，先對(dui)樣品(pin)進行(xing)導(dao)航(hang)，然後(hou)設置(zhi)成(cheng)像條件。

◆接(jie)下(xia)來(lai)對(dui)樣品(pin)感興趣的區域進行(xing)優(you)化並自(zi)動(dong)采(cai)集(ji)圖(tu)像(xiang)。最(zui)後使(shi)用(yong)工(gong)作(zuo)流程(cheng)的最(zui)後壹(yi)步，將結果可(ke)視化(hua)。

高級(ji)分析型顯微鏡：

◆將掃描電子(zi)顯(xian)微鏡與(yu)基(ji)本(ben)分析相結合(he)：Sigma 的背散(san)射幾何(he)探(tan)測(ce)器(qi)大(da)大提升了(le)分(fen)析性(xing)能，特別(bie)是(shi)對(dui)電子(zi)束(shu)敏感的樣品(pin)。

◆在(zai)壹(yi)半(ban)的檢(jian)測束(shu)流和(he)兩倍的速度(du)條件下(xia)獲(huo)取(qu)分(fen)析數據(ju)。

◆8.5 mm 短的分析(xi)工(gong)作(zuo)距離(li)和(he)35°夾(jia)角，獲取(qu)完整且無陰影的分析(xi)結果。

靈活(huo)的檢(jian)測器(qi)選項，獲(huo)取(qu)清(qing)晰(xi)圖像：

◆使用(yong)新穎的ETSE和(he)Inlens探(tan)測(ce)器(qi)在(zai)高真(zhen)空下(xia)獲(huo)取(qu)高(gao)分辨(bian)率表(biao)面形(xing)貌信息(xi)。

◆使用(yong)VPSE或C2D檢(jian)測器(qi)在(zai)可變(bian)壓力(li)模式下(xia)獲(huo)得清晰(xi)圖像。

◆使用(yong)aSTEM檢(jian)測器(qi)生成(cheng)高分(fen)辨(bian)率透(tou)射圖(tu)像(xiang)。

◆使用(yong)HDBSD或YAG檢(jian)測器(qi)分析成(cheng)分。

二手(shou) 蔡司(si) sigma300 場發(fa)射電鏡(jing)技(ji)術參(can)數