壹、二(er)手(shou)HITACHI S-4800掃(sao)描(miao)電(dian)子(zi)顯微鏡(jing)技(ji)術(shu)參(can)數(shu)：

二(er)次(ci)電子(zi)分辨率(lv):1.0nm(15 kV); 2.0 nm(1 kV)

背散射(she)電子(zi)分辨率(lv):3.0 nm(15 kV)
電子(zi)槍(qiang):冷(leng)場(chang)發(fa)射(she)電子(zi)源(yuan)

加速(su)電(dian)壓(ya):0.5~30 kV（0.1 kV/步(bu)，可(ke)變）
放(fang)大(da)倍(bei)率(lv):×30 ~ ×800,000。
X射(she)線(xian)能(neng)譜(pu)儀(yi)的元(yuan)素(su)分(fen)析(xi)範圍為(wei)Be4~U92。
 

 二、主(zhu)要特(te)點：
      S-4800型高(gao)分(fen)辨(bian)場(chang)發(fa)射(she)掃(sao)描(miao)電(dian)鏡(jing)（簡(jian)稱(cheng)S-4800）為日(ri)本日(ri)立公司於(yu)2002年(nian)推出的產(chan)品。該(gai)電(dian)鏡(jing)的(de)電子(zi)發射(she)源(yuan)為(wei)冷(leng)場(chang)，物鏡(jing)為(wei)半浸沒(mei)式。在(zai)高(gao)加速(su)電(dian)壓(ya)（15kV）下(xia)，S-4800的二次(ci)電子(zi)圖像分辨率(lv)為(wei)1 nm，這是目前半浸沒(mei)式冷場(chang)發(fa)射(she)掃(sao)描(miao)電(dian)鏡(jing)所(suo)能(neng)達(da)到的(de)。該(gai)電(dian)鏡(jing)在(zai)低(di)加速(su)電(dian)壓(ya)（1kV）下(xia)的二次(ci)電子(zi)圖像分辨率(lv)為(wei)2nm，這有(you)利(li)於(yu)觀察絕(jue)緣(yuan)或(huo)導(dao)電(dian)性差的樣(yang)品。S-4800的(de)主(zhu)要附(fu)件(jian)為X射(she)線(xian)能(neng)譜(pu)儀(yi)。利(li)用S-4800和(he)X射(she)線(xian)能(neng)譜(pu)儀(yi)可(ke)以在(zai)觀察樣(yang)品表(biao)面微觀形(xing)貌(mao)的(de)同(tong)時進(jin)行微區(qu)成(cheng)分定性和(he)定量(liang)以及元(yuan)素(su)分(fen)布分析(xi)。此(ci)次(ci)所(suo)購X射(she)線(xian)能(neng)譜(pu)儀(yi)的元(yuan)素(su)分(fen)析(xi)範圍為(wei)Be4~U92，從(cong)而可(ke)以分(fen)析(xi)輕(qing)元素(su)。由於(yu)S-4800不能(neng)在(zai)低(di)真空條件(jian)下工(gong)作，因此(ci)不適(shi)合直(zhi)接觀(guan)察含(han)水和(he)含油(you)樣(yang)品。
  

三、應用領域
  用於(yu)觀察材(cai)料表面的微細(xi)形(xing)貌(mao)、斷(duan)口(kou)及內部組織(zhi)，並對(dui)材料表面微區(qu)成(cheng)分進(jin)行定性和(he)定量(liang)分析，主(zhu)要用途(tu)如(ru)下(xia)：
   金屬(shu)、 陶瓷(ci)、混凝(ning)土、生物(wu)、高(gao)分(fen)子(zi)、礦物(wu)、纖(xian)維等(deng)無機或(huo)有(you)機固(gu)體(ti)材料的斷(duan)口(kou)、表面形(xing)貌(mao)、變形(xing)層(ceng)等(deng)的(de)觀察；
   材料的相(xiang)分布和(he)夾雜(za)物(wu)形(xing)態成(cheng)分的(de)鑒(jian)定；
   金屬(shu)鍍層(ceng)厚(hou)度(du)及各種固體(ti)材料膜層(ceng)厚(hou)度的測定；
   納米(mi)材(cai)料及其(qi)它(ta)無機或(huo)有(you)機固(gu)體(ti)材料的粒(li)度(du)觀(guan)察和(he)分析(xi) ；
   進行材料表面微區(qu)成(cheng)分的(de)定性和(he)定量(liang)分析。

四、二(er)手(shou)HITACHI S-4800掃(sao)描(miao)電(dian)子(zi)顯微鏡(jing)主(zhu)要功能(neng)：

   掃(sao)描(miao)電(dian)鏡(jing)主(zhu)要利(li)用電子(zi)束與試樣(yang)表面的相互(hu)作(zuo)用產生(sheng)的(de)信息來(lai)觀(guan)測(ce)固(gu)體(ti)表面形(xing)貌(mao)，還(hai)能(neng)獲(huo)得晶體(ti)方位(wei)、化(hua)學(xue)成(cheng)分、磁(ci)結(jie)構、電(dian)位分(fen)布及晶(jing)體(ti)振(zhen)動(dong)方(fang)面的信息、研(yan)究(jiu)試樣(yang)的各種特(te)性。