產品(pin)名(ming)稱：二(er)手日立電(dian)鏡(jing)，二(er)手SEM
產品(pin)型(xing)號：
更(geng)新時間：2020-06-15
產品(pin)特點：二(er)手日立電(dian)鏡(jing)，二(er)手SEM；顯微鏡(jing)的(de)制造(zao)是依(yi)據電(dian)子(zi)與物質(zhi)的(de)相(xiang)互(hu)作(zuo)用。當(dang)壹束(shu)高(gao)能(neng)的入(ru)射電(dian)子(zi)轟(hong)擊物質(zhi)表(biao)面時，被激(ji)發(fa)的區(qu)域(yu)將產生二(er)次電(dian)子(zi)、俄歇(xie)電(dian)子(zi)、特征(zheng)x射(she)線(xian)和連續譜(pu)X射線(xian)、背(bei)散射(she)電(dian)子(zi)、透射(she)電(dian)子(zi)，以及在可見(jian)、紫外、紅外光區(qu)域(yu)產生的電(dian)磁(ci)輻射(she)。同時，也可產生電(dian)子(zi)-空(kong)穴(xue)對、晶(jing)格(ge)振(zhen)動(dong) （聲子）、電(dian)子(zi)振(zhen)蕩(dang) （等(deng)離(li)子(zi)體(ti)）。
產品(pin)詳細資料：
二(er)手日立電(dian)鏡(jing)，二(er)手SEM；相(xiang)關參數(shu)：
| 項(xiang)目(mu) | 描(miao)述(shu) |
| SE分(fen)辨率(lv) | 3.0nm (30kV)，高(gao)真(zhen)空(kong)模(mo)式(shi) / 10nm (3kV), 高真(zhen)空(kong)模(mo)式(shi) |
| BSE分辨(bian)率(lv) | 4.0nm (30kV)，低(di)真(zhen)空(kong)模(mo)式(shi) |
| 放大(da)倍率(lv) | x5 ~ x300,000 |
| 加(jia)速(su)電(dian)壓(ya) | 0.3 ~ 30 kV |
| 低(di)真(zhen)空(kong)範(fan)圍(wei) | 6 ~ 270 Pa |
| 大樣(yang)品(pin)尺(chi)寸 | 直(zhi)徑200mm |
| 樣(yang)品(pin)臺(tai) | I型(xing) II型(xing) |
| X | 0 ~ 80mm 0 ~ 100mm |
| Y | 0 ~ 40mm 0 ~ 50mm |
| Z | 5 ~ 35mm 5 ~ 65mm |
| R | 360o 360o |
| T | -20o~ +90o -20o ~ +90o |
| T | -20o~ +90o -20o ~ +90o |
| 大(da)樣(yang)品(pin)高(gao)度(du) | 35mm (WD=10mm) 80mm (WD=10mm) |
| 驅動(dong)類型(xing) | 手(shou)動(dong) 五軸馬(ma)達驅動(dong) |
| 燈絲(si) | 預對(dui)中(zhong)鎢燈(deng)絲(si) |
| 物鏡光欄 | 可(ke)移動(dong)式(shi)4孔(kong)物鏡光(guang)欄(lan) |
| 槍(qiang)偏(pian)壓(ya) | 固定比例(li)偏(pian)壓、手動(dong)偏壓和自動(dong)4偏 |
| 檢(jian)測(ce)器(qi) | 二(er)次電(dian)子(zi)檢(jian)測(ce)器(qi) 高(gao)靈敏度(du)半導(dao)體(ti)背(bei)散射(she)電(dian)子(zi)檢(jian)測(ce)器(qi) |
| 分(fen)析(xi)位置 | WD=10mm, TOA=35o |
| 控制 | 鼠(shu)標、鍵盤(pan)，手動(dong)旋鈕(niu) |
| 自動(dong)調(tiao)校(xiao) | 自動(dong)燈絲(si)飽和、自動(dong)4偏壓、自動(dong)槍對中、自動(dong)束(shu)流設定、自動(dong)合軸、自動(dong)聚焦 消(xiao)像散、自動(dong)亮度(du)對比(bi)度(du) |
詳細說明
1. S-3400N具有強(qiang)大的(de)自動(dong)功能(neng)，包括(kuo)自動(dong)燈絲(si)飽和、4偏壓、自動(dong)槍對中、自動(dong)束(shu)流設定、
自動(dong)合軸自動(dong)聚焦和消(xiao)像散、自動(dong)亮度(du)對比(bi)度(du)等。
2. 在3kV低(di)加(jia)速(su)電(dian)壓(ya)時保證(zheng)有10nm的(de)分辨(bian)率(lv)。
3. 新(xin)型(xing)5分(fen)割高(gao)靈敏半導(dao)體(ti)式(shi)背(bei)散射(she)探頭(tou)。
4. S-3400N II型(xing)具有五(wu)軸馬(ma)達臺(tai)，傾斜角(jiao)度(du)可達(da)-20度(du)~+90度(du)，樣品(pin)可(ke)達(da)80mm。
5. 分(fen)析(xi)樣(yang)品(pin)倉(cang)可(ke)以同時安(an)裝EDX ， WDX 及(ji)EBSD。
6. 真空(kong)系統使(shi)用渦(wo)輪分子泵，潔凈、高(gao)效(xiao)
二(er)手日立電(dian)鏡(jing)，二(er)手SEM；電(dian)子(zi)探針(zhen)和掃描(miao)電(dian)鏡(jing)X射線(xian)能(neng)譜(pu)定量分(fen)析(xi)通(tong)則”國家(jia)標準(zhun)，規定了EDS的定量分(fen)析(xi)的(de)允(yun)許(xu)誤(wu)差(不包(bao)括含超輕(qing)元(yuan)素(su)的試(shi)樣)。對平坦(tan)的無(wu)水(shui)、致密、穩(wen)定和導(dao)電(dian)良(liang)好的(de)試樣，定量分(fen)析(xi)總(zong)量(liang)誤(wu)差小(xiao)於±3%。
另(ling)外，EDS分析(xi)的(de)相(xiang)對誤(wu)差也有相(xiang)應的(de)規(gui)定:
a) 主元(yuan)素(su)(>20%wt)允許(xu)的相(xiang)對誤(wu)差≤±5%。
b) ±3%wt ≤含量≤ 20%wt的(de)元(yuan)素(su)，允許(xu)的相(xiang)對誤(wu)差≤ 10%。
c) ±1%wt≤含量≤ 3%wt的(de)元(yuan)素(su)，允許(xu)的相(xiang)對誤(wu)差≤ 30%。
d) ±0.5%wt≤含量≤ 1%wt的(de)元(yuan)素(su)，允許(xu)的相(xiang)對誤(wu)差≤ 50%。
| 如果妳(ni)對此產品(pin)感興趣(qu)，想(xiang)了解更詳細的(de)產品(pin)信息，填(tian)寫(xie)下表(biao)直(zhi)接(jie)與廠家(jia)聯(lian)系： |
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