日(ri)立SEM二(er)手(shou)S-4300 SEM EDX 掃描(miao)電鏡 核心(xin)參(can)數(shu)
電(dian)子(zi)槍: 場(chang)發射 加速(su)電壓(ya): 0.3kV～30kV
放(fang)大(da)倍數(shu): x 20~ x 800,000 分辨(bian)率(lv): 1.2nm
抽真空時(shi)間(jian): 30秒 真空度: ＜1*10-7

日(ri)立SEM二(er)手(shou)S-4300詳(xiang)細介紹(shao)
S-4300高分辨(bian)冷(leng)場發(fa)射掃描(miao)電子(zi)顯微鏡 日(ri)立S4800掃描(miao)電子(zi)顯微鏡采用大(da)樣(yang)品室(shi)的(de)半內透(tou)鏡設計，卻(que)能(neng)達到超高分辨(bian)率(lv)，可以(yi)與內透(tou)鏡UHR掃描(miao)電鏡相(xiang)媲(pi)美(mei)。
特點：
1. 新型(xing)物(wu)鏡采用ExB設(she)計。使用(yong)單(dan)檢(jian)測(ce)器(qi)和(he)超(chao)級ExB可以(yi)分別收集(ji)和(he)分離單純 二(er)次電(dian)子(zi)、混合(he)二次電(dian)子(zi)及背(bei)散(san)射電子(zi)的(de)信號。
2. 1KV低加(jia)速(su)電壓(ya)時(shi)保(bao)證有2.0nm的(de)分辨(bian)率(lv)。
3. 兩種樣(yang)品臺可選(xuan)：I型50mm x 50mm小(xiao)樣(yang)品臺或(huo)Ⅱ型(xing)110mm x 110mm大(da)樣(yang)品臺。
4. 包(bao)括渦(wo)輪分子(zi)泵在內的(de)*進(jin)的(de)真空系統(tong)。
5. 便(bian)於(yu)用(yong)戶使用(yong)的(de)、基(ji)於(yu)圖(tu)形(xing)用戶界(jie)面(mian)的(de)控制(zhi)系統(tong)，包(bao)含(han)多(duo)種自動功(gong)能(neng)，
操作(zuo)簡易性(xing)能(neng)指標： 二(er)次電(dian)子(zi)分辨(bian)率(lv) 1.0nm (15kV) 2.0nm (1 kV) 1.4nm (1 kV，減(jian)速(su)模式)
電子(zi)槍 冷(leng)場發(fa)射電子(zi)源
加(jia)速(su)電壓(ya) 0.5~30kV(0.1KV/步(bu)，可變(bian))
放(fang)大(da)倍率(lv) x 20~ x 800,000
物(wu)鏡光闌 4孔，真空外(wai)選(xuan)擇和(he)調(tiao)校(內置加(jia)熱器(qi))
檢(jian)測(ce)器(qi) 二(er)次電(dian)子(zi)檢測(ce)器(qi) (高(gao)位/低位) 背(bei)散(san)射電子(zi)檢測(ce)器(qi)(可選(xuan)) EDX(可選(xuan)) 透(tou)射電子(zi)檢測(ce)器(qi)(可選(xuan)) 法拉第(di)杯(可選(xuan))
樣(yang)品臺 l型(xing): X: 0~50mm Y: 0~50mm Z:1.5~30mm T: -5°~70°R:360°
驅(qu)動:手(shou)動(可選(xuan)3軸/5軸(zhou)馬達驅(qu)動) ll型(xing): X: 0 ~110 mm Y: 0 ~110mm Z: 1.5 ~40 mm T: -5°~ 70° R: 360°驅(qu)動: 5軸(zhou)馬達(da)驅(qu)動
操作(zuo)/顯示(shi) 操作(zuo)系統(tong)： WindowsTM XP
圖像儲(chu)存 640 x 480, 1,280 x 960, 2,560 x 1,920,5,120 x 3,840
離子(zi)泵 3 臺 渦(wo)輪(lun)分子(zi)泵(磁浮(fu)型(xing)) 1 臺 機械(xie)泵 1 臺