產(chan)品(pin)名稱:二(er)手FEI+JEOL+HITACHI掃描電(dian)鏡
產(chan)品(pin)型號(hao):
更(geng)新(xin)時(shi)間:2024-11-14
產(chan)品(pin)特點:二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電(dian)鏡:掃描電(dian)鏡(SEM)是(shi)利(li)用(yong)電(dian)子束(shu)掃描樣品表面,產(chan)生二(er)次(ci)電(dian)子等(deng)信號(hao),通(tong)過(guo)檢測這(zhe)些(xie)信號(hao)來獲取樣(yang)品表面形貌(mao)、成分(fen)等信(xin)息(xi)。SEM的(de)優點是(shi)分(fen)辨率(lv)高(gao),可觀(guan)察(cha)到(dao)納米(mi)級(ji)別(bie)的(de)細(xi)節(jie),景深(shen)大,能(neng)清(qing)晰呈(cheng)現三(san)維形(xing)貌,可(ke)同(tong)時(shi)進(jin)行(xing)成分(fen)分(fen)析。
產(chan)品(pin)詳細(xi)資(zi)料:
二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電(dian)鏡:
SEM "觀(guan)察(cha)"樣(yang)品(pin)表面的(de)方式可以比作(zuo)壹個(ge)人獨(du)自(zi)在(zai)暗室(shi)中使(shi)用(yong)手電(dian)筒(tong)(窄光束)掃描墻上(shang)的(de)物(wu)體(ti)。從墻的(de)壹側(ce)到(dao)另壹側(ce)進(jin)行(xing)掃描,手電(dian)筒(tong)再逐漸向下移(yi)動掃描,人就可(ke)以在(zai)記(ji)憶(yi)中建(jian)立(li)起(qi)物(wu)體(ti)的(de)圖像(xiang)。SEM是(shi)用(yong)電(dian)子束(shu)代(dai)替了手電(dian)筒(tong),並(bing)用(yong)電(dian)子探(tan)測(ce)器(qi)代(dai)替眼(yan)睛,用(yong)觀(guan)察(cha)屏(ping)幕(mu)和照相機作(zuo)為圖像存儲器(qi)。電(dian)子是(shi)原子(zi)中(zhong)帶(dai)負電(dian)荷的(de)粒(li)子(zi)。在(zai)光鏡中(zhong),光子由(you)玻(bo)璃透(tou)鏡(jing)聚(ju)焦。在(zai)電(dian)鏡中(zhong),電(dian)磁(ci)鐵(tie)用(yong)於(yu)聚(ju)焦電(dian)子。電(dian)子束(shu)與樣品表面的(de)相互作(zuo)用(yong)會(hui)影響獲得(de)的(de)圖像(xiang)。SEM可(ke)以提供跨微米(mi)和(he)納米(mi)尺(chi)度研究(jiu),分(fen)辨率(lv)通(tong)常(chang)在(zai)3-0.5nm之(zhi)間(jian),最高(gao)的(de)分(fen)辨率(lv)可(ke)以達(da)到(dao)0.4nm。SEM通(tong)常(chang)可(ke)將(jiang)樣品的(de)細(xi)節(jie)放(fang)大約(yue)10倍(bei)至(zhi)30萬倍(底片倍數的(de)有效(xiao)放(fang)大倍(bei)數)。此外,SEM圖(tu)像上通(tong)常(chang)會(hui)提(ti)供(gong)壹個(ge)刻(ke)度(du)條(tiao),刻(ke)度(du)條(tiao)用(yong)於(yu)計(ji)算(suan)圖(tu)像(xiang)中(zhong)特征的(de)大小。

二(er)手FEI+JEOL+HITACHI掃描電(dian)鏡應(ying)用(yong)領(ling)域(yu)
SEM是(shi)壹種廣(guang)泛(fan)應(ying)用(yong)於(yu)科(ke)學(xue)和工程(cheng)領(ling)域(yu)的(de)技術。最常(chang)見的(de)應用(yong)領(ling)域(yu)包(bao)括材料(liao)科(ke)學、生物(wu)科(ke)學、地質(zhi)學、醫學(xue)和(he)法(fa)醫學(xue)。SEM還(hai)可用(yong)於(yu)創(chuang)作(zuo)數字(zi)藝(yi)術作(zuo)品。
SEM技(ji)術可以對(dui)樣(yang)品的(de)形態(tai)進(jin)行(xing)成像(如(ru)粉末(mo)顆粒(li),塊(kuai)狀(zhuang)材料(liao)、塗(tu)層、切(qie)片材料(liao)),通(tong)過(guo)BEE散射(she)電(dian)子可(ke)以對(dui)不同(tong)的(de)物(wu)相進(jin)行(xing)成像,也(ye)可(ke)利(li)用(yong)生物(wu)樣(yang)品中的(de)金屬(shu)和熒(ying)光探(tan)針對(dui)分(fen)子探(tan)針進(jin)行(xing)成像,或進(jin)行(xing)微米和(he)納米(mi)光刻(ke)。
材料(liao)科(ke)學:SEM是(shi)用(yong)於(yu)基(ji)礎研究(jiu)、質(zhi)量(liang)控制和失(shi)效(xiao)分(fen)析的(de)重要工具。它是(shi)壹種適(shi)用(yong)於(yu)檢測金屬(shu)、合金、陶(tao)瓷、聚(ju)合物(wu)和(he)生物(wu)材料(liao)的(de)技術。SEM在(zai)許(xu)多課題(ti)中發(fa)揮著關鍵作(zuo)用(yong),包(bao)括(kuo)納米(mi)管(guan)和(he)納米(mi)纖維(wei)、高(gao)溫(wen)超導體、介孔結構(gou)、合金強度等。如(ru)果沒(mei)有SEM提(ti)供的(de)數據,高(gao)科技(ji)發展的(de)許(xu)多方面--航(hang)空(kong)航(hang)天、電(dian)子、能(neng)源、催(cui)化、環(huan)境、光子學(xue)、化學(xue)--都將(jiang)無法實(shi)現。
生物(wu)科(ke)學:在(zai)生物(wu)科(ke)學領域(yu),從昆(kun)蟲(chong)和動物(wu)組(zu)織等(deng)大型物(wu)體(ti)到(dao)細(xi)菌(jun)等小型物(wu)體(ti)都可以用(yong)SEM進(jin)行(xing)研究(jiu)。SEM可(ke)用(yong)於(yu)昆(kun)蟲(chong)學、考古學(xue)、植(zhi)物(wu)科(ke)學、細(xi)胞研究(jiu)和(he)分(fen)類(lei)學等(deng)領域(yu)。
地質學:SEM在(zai)土壤和(he)地質(zhi)樣品(pin)調查中很(hen)常(chang)見。通(tong)過(guo)形(xing)態分(fen)析可以了解(jie)風化過(guo)程(cheng)。通(tong)過(guo)BSE成(cheng)像可以看到(dao)成分(fen)差(cha)異。顯微(wei)分(fen)析可提(ti)供樣(yang)品(pin)中(zhong)特(te)定(ding)元(yuan)素(su)組(zu)成(cheng)的(de)詳細(xi)信(xin)息。因此,SEM是(shi)采礦(kuang)業(ye)非(fei)常(chang)有(you)用(yong)的(de)表征工具。
醫學(xue)科(ke)學(xue):醫學(xue)研究(jiu)人(ren)員可(ke)使用(yong)SEM比(bi)較血(xue)細(xi)胞和組織樣(yang)品(pin),以確定(ding)病(bing)因。SEM的(de)其他(ta)用(yong)途(tu)還(hai)包括(kuo)研究(jiu)醫學(xue)及(ji)其(qi)對(dui)病(bing)人的(de)影響,以及(ji)研究(jiu)和(he)開發新(xin)的(de)治療(liao)方法。
法醫學(xue):在(zai)法醫學(xue)中(zhong),警(jing)方實(shi)驗室(shi)使用(yong)SEM來檢查和比(bi)較證(zheng)據(ju),如(ru)金屬(shu)碎(sui)片、油漆、墨(mo)水、毛(mao)發(fa)和纖維(wei),以提供某(mou)人有(you)罪(zui)或無罪(zui)的(de)證(zheng)據(ju)。通(tong)過(guo)仔細(xi)檢查,刑(xing)偵(zhen)人(ren)員能(neng)夠確定(ding)從(cong)現場(chang)收(shou)集(ji)到(dao)的(de)樣品(pin)是(shi)否具有與刑(xing)偵(zhen)人(ren)員所(suo)設想(xiang)的(de)情景相匹(pi)配(pei)的(de)特性。

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