產(chan)品(pin)名(ming)稱(cheng):二手 日(ri)本電子(zi) IT-300掃描電鏡(jing)
產品(pin)型(xing)號(hao):
更(geng)新(xin)時(shi)間:2025-02-28
產品(pin)特點:二手 日(ri)本電子(zi) IT-300掃描電鏡(jing)經過改進照(zhao)射系統、真(zhen)空系統和(he)信(xin)號(hao)處理(li)系統,不僅(jin)能觀(guan)察(cha)高(gao)質量(liang)的圖像,還能利用觸(chu)控(kong)屏(ping)和(he)快(kuai)速(su)樣(yang)品(pin)臺進(jin)行(xing)高(gao)通(tong)量(liang)的直觀(guan)操作。JSM-IT300 提供(gong)高(gao)畫質(zhi)圖像,能滿(man)足您對(dui)W-SEM機型(xing)的期待(dai),新(xin)的鏡(jing)筒設(she)計和(he)掃(sao)描(miao)系統使(shi)得不(bu)導電樣品(pin)的圖像質量(liang)有(you)了顯著(zhu)的提高(gao)。
產品(pin)詳細(xi)資(zi)料(liao):
二手 日(ri)本電子(zi) IT-300掃描電鏡(jing)型(xing)是(shi)壹款高(gao)性能,多功(gong)能,多用途的鎢燈(deng)絲掃(sao)描電鏡(jing)。前(qian)衛(wei)性外(wai)觀(guan)設(she)計還特別(bie)吸(xi)引(yin)眼(yan)球。操作改為(wei)觸(chu)摸屏控(kong)制(zhi),極為簡化(hua),從此操作化簡單(dan)電鏡(jing)就。
日本電子(zi)掃描電鏡(jing)JSM-IT300型(xing)主(zhu)要特(te)點:
1、新(xin)式(shi)電子(zi)光(guang)學(xue)系統增強(qiang)了圖(tu)像質量(liang)
2、全新(xin)的真(zhen)空系統
3、標配5軸馬(ma)達(da)驅(qu)動超高(gao)精度(du)樣品(pin)臺
4擴展功(gong)能更(geng)加(jia)強(qiang)大
5、觸摸屏操作
6、外(wai)觀(guan)魅(mei)力(li)
7、大型(xing)樣(yang)品(pin)室和(he)樣(yang)品(pin)臺
能容納(na)大型(xing)、較(jiao)重的樣品(pin),可裝(zhuang)載(zai)最(zui)大尺(chi)寸(cun)為(wei)200 mmφ*80 mmH、重達(da)2kg 的樣品(pin)
8、全自動5 軸馬(ma)達(da)驅(qu)動樣品(pin)臺
采用了(le)機(ji)械(xie)對(dui)中(zhong)、五(wu)軸(zhou)(X、 Y,、Z、T、R) 異步(bu)馬(ma)達(da)控(kong)制(zhi)的樣品(pin)臺,當(dang)觀(guan)察(cha)厚樣(yang)品(pin)或當(dang)感(gan)興(xing)趣(qu)區(qu)域(yu)(ROI) 不在傾斜(xie)軸的中(zhong)心(xin)時(shi),可利(li)用(yong)標配(pei)的計算(suan)機控(kong)制(zhi)的全對(dui)中(zhong)傾(qing)斜和(he)旋轉校(xiao)正功(gong)能。
9、最(zui)佳(jia)幾(ji)何(he)設(she)計的分析(xi)接口(kou)
多個接口(kou)可以安裝EDS、EBSD 和(he)WDS 等(deng)附(fu)件(jian), EDS 和(he)EBSD 處於同(tong)壹(yi)平(ping)面(mian),此外(wai),還能安裝兩個(ge)相(xiang)隔(ge)180 度(du)的EDS 檢測(ce)器用(yong)於(yu)高(gao)通(tong)量(liang)的顯微(wei)分析(xi)。
10、移動迅(xun)速(su)的樣品(pin)臺
新(xin)開(kai)發馬(ma)達(da)驅(qu)動樣品(pin)臺能(neng)快(kuai)速(su)地(di)定(ding)位(wei) ( 與(yu)其(qi)它JEOL 的產品(pin)相比(bi)快(kuai)1.5 倍(bei))。
11、觸摸屏界(jie)面
新(xin)設(she)計和(he)開(kai)發(fa)的圖形(xing)用戶界(jie)面(GUI)使(shi)操作更(geng)加(jia)舒適(shi),還能支持觸(chu)摸屏操作。 用戶界(jie)面的大小(xiao)可以調(tiao)節,因此在分析(xi)或數據(ju)處理(li)時(shi),可以優化(hua)工(gong)作空間(jian)。

二手 日(ri)本電子(zi) IT-300掃描電鏡(jing)電子(zi)顯微(wei)鏡(jing)利用(yong)細(xi)聚(ju)焦的高(gao)能電子(zi)束在樣品(pin)表面進(jin)行(xing)光(guang)柵(zha)狀掃(sao)描,激發出二次電子(zi)和(he)背(bei)散(san)射(she)電子(zi)等信號(hao)。這(zhe)些信號被(bei)探(tan)測(ce)器捕(bu)獲(huo)並放(fang)大,用(yong)於(yu)在顯示(shi)器上(shang)重建樣品(pin)的形貌圖(tu)像。二次電子(zi)主(zhu)要用(yong)於觀(guan)察(cha)樣(yang)品(pin)表面的微(wei)觀(guan)形(xing)貌,分(fen)辨率可達(da)5~10納(na)米(mi),而(er)背(bei)散(san)射(she)電子(zi)則用(yong)於(yu)分析(xi)樣品(pin)內部的成分(fen)差(cha)異。

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