深圳市心(xin)怡(yi)創(chuang)科(ke)技(ji)有限公司銷(xiao)售電(dian)話(hua):
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二(er)手(shou)場(chang)發射電(dian)鏡,二(er)手(shou)SEM場(chang)發射掃描電(dian)鏡通(tong)用(yong)性強,可(ke)廣泛(fan)應(ying)用(yong)於納米材(cai)料(liao)、金屬材(cai)料(liao)、半(ban)導(dao)體材(cai)料(liao)、化學(xue)化工、醫學(xue)及生物學(xue)領域,可(ke)高效(xiao)觀(guan)察(cha)包括非導(dao)體樣(yang)品及強磁性樣(yang)品等(deng)。
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二(er)手(shou)日(ri)立場發(fa)射(she)電(dian)鏡:貨(huo)供(gong)應二(er)手(shou)掃(sao)描電(dian)鏡,二(er)手(shou)場(chang)發射電(dian)鏡,二(er)手(shou)透射(she)電(dian)鏡 S-9300,S-9380,S-806C,H-7100,S-4700,S-4200,S-4160,S-3000N,S-2700,S-2400,TM-1000;臺(tai)式,桌(zhuo)面式 Hitachi FE-SEM Field Emission Scanning Electron Microscope
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二(er)手(shou)電(dian)鏡JSM-6510 功能(neng)/應用(yong)範圍(wei):應用(yong)於無機(ji)材(cai)料(liao)、高分子材(cai)料(liao)、復合材料(liao)、納米材(cai)料(liao)、半(ban)導(dao)體等(deng)材料(liao)中 ? 表面形(xing)貌觀(guan)察(cha) ? 組織(zhi)結(jie)構觀(guan)察(cha) ? 顆粒(li)大小分析 ? 斷(duan)面性質分(fen)析 ? 微(wei)區成份分(fen)析;材(cai)料(liao)分析,檢測(ce)機(ji)構,研發企(qi)業(ye)。
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