二手 日立 SU-5000 熱(re)場發射電鏡允(yun)許在(zai)高(gao)真(zhen)空(kong)和可(ke)變(bian)壓(ya)力模(mo)式(shi)之(zhi)間進行(xing)簡(jian)單的(de)切(qie)換。樣(yang)品(pin)室(shi)可(ke)容(rong)納大(da)型(xing)樣(yang)品(pin)（-200mmφ，-80mmH）。使用(yong)無(wu)場光學元件和(he)可(ke)變(bian)壓(ya)力輕松(song)對任(ren)何(he)類型(xing)的(de)樣(yang)品(pin)進行(xing)成(cheng)像，最多(duo)可(ke)同(tong)時(shi)提(ti)供(gong)4個(ge)信號，3D MultiFinder工具，使樣(yang)品(pin)可(ke)以輕松(song)傾(qing)斜和旋(xuan)轉(zhuan)，影像依(yi)然(ran)保持(chi)居(ju)中(zhong)和聚(ju)焦(jiao)。

二手 蔡(cai)司(si) sigma300 場發射電鏡分析(xi)性能(neng)與場發射掃描(miao)技(ji)術相(xiang)結(jie)合，利(li)用(yong)成(cheng)熟的(de) Gemini 電子光學元件。多(duo)種(zhong)探測(ce)器(qi)可(ke)選(xuan)：用於(yu)顆粒(li)、表面(mian)或者納米結(jie)構(gou)成(cheng)像。Sigma 半(ban)自(zi)動(dong)的(de)4步工(gong)作(zuo)流程節省(sheng)大(da)量(liang)的(de)時(shi)間：設(she)置成(cheng)像與分析(xi)步驟(zhou)，提(ti)高效(xiao)率。 Sigma 300 性(xing)價(jia)比(bi)高(gao)。Sigma 500 裝配有(you)的(de)背散射幾何(he)探測(ce)器(qi)，可(ke)快速方(fang)便地(di)實(shi)現(xian)基(ji)礎分析(xi)。任(ren)何(he)時(shi)間，任(ren)何(he)樣(yang)品(pin)均(jun)可(ke)獲(huo)得(de)精(jing)準(zhun)可(ke)重(zhong)復的(de)分析(xi)結(jie)果(guo)。

二手電(dian)鏡SEM 二手EDX能(neng)譜 JSM-IT100 掃(sao)描(miao)電(dian)子顯微鏡/掃(sao)描(miao)電(dian)鏡 是(shi)JSM-6010及(ji)JSM-6510的(de)升級(ji)型號(hao)，是(shi)壹(yi)款(kuan)高(gao)效(xiao)能、操(cao)作(zuo)容(rong)易(yi)、高(gao)效(xiao)率的(de)電子顯微鏡。全(quan)新(xin)設(she)計(ji)的(de)InTouchScope操(cao)作(zuo)界面(mian)，即便是(shi)初(chu)次使用(yong)儀(yi)器(qi)的(de)人員也(ye)能輕松(song)上手(shou)。面(mian)對越(yue)來(lai)越多元化(hua)的(de)操(cao)作(zuo)環(huan)境(jing)需(xu)求(qiu)，JSM-IT100的(de)操(cao)作(zuo)設(she)計(ji)，能(neng)讓(rang)您更輕松(song)、有(you)效(xiao)率的(de)使用(yong)儀(yi)器(qi)。

二手 JEOL日本電子 IT-300 掃描(miao)電(dian)鏡日本電子掃描(miao)電(dian)鏡JSM-IT300型(xing)是(shi)壹(yi)款(kuan)高(gao)性(xing)能，多(duo)功(gong)能，多用途(tu)的(de)鎢燈(deng)絲掃(sao)描(miao)電(dian)鏡。前(qian)衛(wei)性(xing)外觀設(she)計(ji)還特(te)別(bie)吸引眼(yan)球(qiu)。操(cao)作(zuo)改為(wei)觸(chu)摸屏(ping)控(kong)制(zhi)，極(ji)為簡化(hua)，操(cao)作(zuo)簡(jian)單和智(zhi)能(neng)化(hua)的(de)壹種(zhong)體(ti)驗。

二手 日本電子 IT-500掃描(miao)電(dian)鏡是(shi)JEOL InTouchScope系(xi)列(lie)的(de)新(xin)機型(xing)。 從設(she)定(ding)視野(ye)到(dao)生成(cheng)報告(gao)，用(yong)於(yu)分析(xi)的(de)軟件整合於壹(yi)體(ti)，加快了作(zuo)業(ye)速度！是(shi)壹(yi)款(kuan)無(wu)縫操(cao)作(zuo)，使用(yong)更加方(fang)便的(de)掃描(miao)電(dian)子顯微鏡

日立SU-8010 二手掃(sao)描(miao)電(dian)鏡通過對樣(yang)品(pin)二次電子、背散射電子的(de)采集(ji)，可(ke)進行(xing)物(wu)質微觀形貌和(he)生(sheng)物組(zu)織觀(guan)察(cha)；並(bing)基(ji)於(yu)EDS附件得(de)到(dao)部(bu)分元素(su)定(ding)性和(he)半(ban)定(ding)量(liang)分析(xi)，可(ke)以進行(xing)微區(qu)的(de)點(dian)、線、面(mian)掃描(miao)測(ce)試。 場發射掃描(miao)電(dian)鏡SU8010它(ta)繼(ji)承(cheng)了(le)上(shang)壹(yi)代S-4800的(de)優點(dian)，性能(neng)有(you)進壹(yi)步提(ti)高，1kv使用(yong)減速功(gong)能後，分辨率提(ti)升到(dao)1.3nm，相(xiang)對於(yu)S-4800可(ke)以在更低(di)的(de)加速電(dian)壓(ya)下高分辨像，明(ming)顯提(ti)升了以往很難觀測(ce)的(de)低原(yuan)子序數樣(yang)品(pin)。

二手 日立 SU8020 高(gao)分辨冷場發射電鏡具有(you)的(de)功能(neng)，適用(yong)於各(ge)種(zhong)固態樣(yang)品(pin)表(biao)面(mian)形貌的(de)二次電子像、 背散射電子像觀(guan)察(cha)及(ji)圖(tu)像處(chu)理(li)。低電(dian)壓(ya)下通過在納米尺(chi)度上觀察(cha)生物(wu)樣(yang)品(pin)如組(zu)織、 細(xi)胞(bao)、 微生物以及(ji)生物(wu)大(da)分子等(deng)，獲(huo)得(de)忠(zhong)實原貌的(de)立體(ti)感的(de)樣(yang)品(pin)表(biao)面(mian)超微形貌結(jie)構(gou)信息。 具有(you)高(gao)性能(neng)X射線能(neng)譜(pu)儀(yi)，能(neng)同(tong)時(shi)進行(xing)樣(yang)品(pin)表(biao)層的(de)微區(qu)點(dian)線面(mian)元素(su)的(de)定(ding)性、 半(ban)定(ding)量(liang)分析(xi)，具有(you)形(xing)貌、 化(hua)學組(zu)分綜(zong)合分析(xi)能力。

SU-8010 日立 二手冷場發射電鏡二次電子像、反(fan)射電子像進行(xing)觀(guan)察(cha)及(ji)圖(tu)像處(chu)理(li)。可(ke)對(dui)金(jin)屬、陶瓷(ci)、巖(yan)石(shi)礦(kuang)物(wu)、生(sheng)物(wu)等(deng)樣(yang)品(pin)及(ji)各種(zhong)固體(ti)材料進行(xing)觀(guan)察(cha)和分析(xi)研(yan)究(jiu)。電(dian)鏡配(pei)有(you)高(gao)性能(neng)X射線能(neng)量(liang)色散譜(pu)儀(yi)，簡(jian)稱能(neng)譜(pu)儀(yi)（EDS），能(neng)在不(bu)損(sun)壞樣(yang)品(pin)的(de)同(tong)時(shi)進行(xing)樣(yang)品(pin)表(biao)層的(de)微區(qu)點(dian)、線、面(mian)元素(su)的(de)定(ding)性、定(ding)量(liang)分析(xi)。具有(you)形(xing)貌、化(hua)學組(zu)分綜(zong)合分析(xi)能力。

二手 日立 S-4800冷場發射電鏡觀(guan)察(cha)和檢(jian)測(ce)體(ti)相(xiang)及(ji)納米結(jie)構(gou)的(de)固態無(wu)機(ji)材料（非磁(ci)性(xing)）等(deng)表面(mian)形貌和(he)組(zu)成(cheng)

二手 日立 S-4700 冷場發射電鏡SEM+EDX可(ke)以觀察(cha)和檢(jian)測(ce)非均相(xiang)有(you)機(ji)、無(wu)機(ji)材料，及(ji)這些(xie)材料(liao)在納米、微米級(ji)樣(yang)品(pin)的(de)表面(mian)特征。該(gai)儀(yi)器(qi)廣泛應(ying)用(yong)於(yu)金(jin)屬材料(liao)、高(gao)分子材料、半(ban)導(dao)體(ti)材料、化(hua)工原(yuan)料、地礦(kuang)物(wu)品(pin)、寶石(shi)文(wen)物(wu)等(deng)微觀形貌的(de)研(yan)究(jiu)及(ji)公安刑(xing)偵(zhen)的(de)物證分析(xi)。能譜(pu)附件(jian)可(ke)對(dui)樣(yang)品(pin)進行(xing)微區(qu)成(cheng)分分析(xi)。