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          技(ji)術(shu)文(wen)章(zhang)首(shou)頁(ye) > 技術(shu)文(wen)章(zhang) >氣相(xiang)色譜(pu)質譜聯(lian)用(yong)儀(GC-MS)中(zhong)SIM(選擇(ze)離子監(jian)測(ce))與(yu)Scan(全掃描(miao))操(cao)作模式
          氣相(xiang)色譜(pu)質譜聯(lian)用(yong)儀(GC-MS)中(zhong)SIM(選擇(ze)離子監(jian)測(ce))與(yu)Scan(全掃描(miao))操(cao)作模式
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                                                           氣相(xiang)色譜(pu)質譜聯(lian)用(yong)儀(GC-MS)中(zhong)SIM(選擇(ze)離子監(jian)測(ce))與(yu)Scan(全掃描(miao))操(cao)作模式


          關(guan)於氣相(xiang)色譜(pu)質譜聯(lian)用(yong)儀(GC-MS)中(zhong)SIM(選擇(ze)離子監(jian)測(ce))與(yu)Scan(全檢測(ce))模式是否可以同時掃描(miao)的(de)問(wen)題,以下是(shi)詳細(xi)分析(xi):




          壹、SIM與(yu)Scan模式概述

          1.Scan模式:在此(ci)模式下,質譜儀的四極桿在(zai)短時間內對(dui)全質量範(fan)圍進(jin)行(xing)掃描(miao),從而(er)得到(dao)每(mei)張(zhang)質譜圖,這(zhe)種掃描(miao)方(fang)式適(shi)合於未知(zhi)物(wu)的(de)定性分析(xi),因為(wei)它可以提供樣品(pin)中(zhong)所(suo)有(you)可能存(cun)在(zai)的(de)離子的(de)質量信息。

          2.SIM模式:在此(ci)模式下,質譜儀僅選擇(ze)特定的(de)幾(ji)種質量進(jin)行(xing)掃描(miao)。由於掃描(miao)的(de)離子少,檢測(ce)器(qi)在(zai)每(mei)個離子上(shang)的(de)停留時間較長,因此(ci)SIM模式的靈敏(min)度(du)通常比Scan模式高(gao)。這(zhe)種模式更適(shi)合於已(yi)知(zhi)物(wu)的(de)定量分析(xi)。

          二(er)、SIM與(yu)Scan是否(fou)可以同時掃描(miao)

          1.技(ji)術(shu)實現:從技(ji)術(shu)上(shang)講,SIM與(yu)Scan模式並不是(shi)真正的(de)同時進(jin)行(xing)。在(zai)儀器設置中(zhong),通(tong)常(chang)是(shi)將(jiang)兩者(zhe)設置(zhi)為交(jiao)替(ti)進(jin)行(xing)。在(zai)掃描(miao)周(zhou)期內(nei),進(jin)行(xing)壹(yi)次(ci)Scan掃描(miao),然後再進(jin)行(xing)壹(yi)次(ci)或(huo)多(duo)次(ci)SIM掃描(miao)。這(zhe)樣,總的(de)時間只有(you)壹個掃描(miao)周(zhou)期,但(dan)在(zai)這(zhe)個周(zhou)期內(nei),儀器會輪流(liu)進(jin)行(xing)Scan和SIM掃描(miao)。
          2.實際應(ying)用:在(zai)某些(xie)情(qing)況(kuang)下,如需要(yao)同時進(jin)行(xing)定量和定性分析(xi)時,可以同時采(cai)用(yong)SIM與(yu)Scan模式,然而(er),需(xu)要(yao)註(zhu)意(yi)的是,由於兩種模式要(yao)占用總的(de)時間或(huo)次(ci)數,因(yin)此(ci)可能會(hui)導(dao)致每(mei)種模式的掃描(miao)次(ci)數減(jian)少,從而(er)影(ying)響(xiang)數據(ju)的分辨(bian)率和靈敏(min)度(du)。
          3.儀器限(xian)制:雖然理(li)論(lun)上(shang)可以同時進(jin)行(xing)SIM與(yu)Scan掃描(miao),但(dan)具(ju)體(ti)是否可行(xing)還取(qu)決(jue)於儀器的型號(hao)和軟件版(ban)本(ben)。例如,在某些(xie)安捷倫GC-MS儀器上(shang),可能存(cun)在(zai)軟件BUG或(huo)硬(ying)件限(xian)制,導致(zhi)在(zai)同時采(cai)集時SIM只能采(cai)集第1個分組(zu)的(de)離子。這(zhe)時,就需(xu)要(yao)聯(lian)系儀器廠(chang)商的(de)技(ji)術(shu)支(zhi)持(chi)進(jin)行(xing)解(jie)決。
          安(an)捷倫氣相(xiang)色譜(pu)質譜聯(lian)用(yong)儀性能以其高(gao)靈敏(min)度(du)、高(gao)分辨(bian)率和高(gao)穩(wen)定性而(er)聞(wen)名。高(gao)子(zi)源(yuan)、四(si)極桿分析(xi)器和檢測(ce)器(qi)技(ji)術(shu),能夠(gou)提供準(zhun)確、可靠(kao)的(de)質譜數據(ju)。此(ci)外(wai),安(an)捷倫GC-MS還配備(bei)了強大的(de)數據(ju)處(chu)理(li)軟件和數據(ju)庫管理(li)系統(tong),方便用(yong)戶進(jin)行(xing)數據(ju)處(chu)理(li)和結(jie)果分析(xi)。



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