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          產(chan)品(pin)目錄 Product catalog
          深(shen)圳市心怡創(chuang)科(ke)技(ji)有限(xian)公司
          銷售電話(hua):
          銷售傳(chuan)真(zhen):13723416768
          公司郵箱:[email protected]
          辦(ban)公地(di)址:深(shen)圳市寶安區西(xi)鄉(xiang)街(jie)道南昌(chang)社區深(shen)圳前灣(wan)硬(ying)科(ke)技(ji)產業(ye)園(yuan)B棟(dong)608-609

          新(xin)聞動態(tai)首(shou)頁(ye) > 新(xin)聞資訊(xun) > 二手儀(yi)器(qi)掃(sao)描電鏡到(dao)貨通知
          二手儀(yi)器(qi)掃(sao)描電鏡到(dao)貨通知
          點(dian)擊次(ci)數:248 更新(xin)時(shi)間(jian):2025-11-04


                                                         二(er)手  HITACHI  S4800  高分(fen)辨掃(sao)描電鏡


          尊(zun)敬(jing)的客戶:妳(ni)好(hao)


          最(zui)新(xin)消(xiao)息:2025年11月04號(hao)心怡創(chuang)科(ke)技(ji)到貨(huo)了;到貨(huo)了;到貨(huo)了;到貨(huo)了;都是(shi)無損檢測(ce)分(fen)析(xi)設備(bei);


          電鏡儀(yi)器(qi)型(xing)號(hao)如下:HITACHI  S4800


          場發射(she)掃(sao)描電鏡 SUPRA  40VP


          在(zai)心怡創(chuang)整體員工(gong)銷售和(he)售後(hou)兩個(ge)團(tuan)隊的(de)協助(zhu)下,完成(cheng)了儀(yi)器(qi)在(zai)倉(cang)庫(ku)的(de)安裝(zhuang)。主(zhu)要(yao)還是(shi)由售後(hou)林(lin)工(gong)和(he)陳工的(de)協(xie)助下


          入(ru)庫(ku)擺(bai)放工作。


          位置(zhi):深(shen)圳市寶安區西(xi)鄉(xiang)街(jie)道固戍(shu)社區(qu)深(shen)圳前灣(wan)硬(ying)科(ke)技(ji)產業(ye)園(yuan)

          二(er)手儀(yi)器(qi)掃(sao)描電鏡到(dao)貨通知

          二手儀(yi)器(qi)掃(sao)描電鏡到(dao)貨通知

          二手 HITACHI  S4800 冷場發射(she)電鏡壹(yi)、技術(shu)參(can)數:
            

          電子槍(qiang):冷場發射(she)電子源,發射(she)面積小(xiao)、能(neng)量(liang)集中,提供(gong)高亮(liang)度電子束(shu),確保(bao)高分(fen)辨率成(cheng)像。

          加(jia)速電壓(ya):0.5–30 kV,可在 0.1 kV 步(bu)長(chang)下連續調節(jie),支持(chi)低電壓(ya)模式(如 100–500 V)以(yi)減少非(fei)導電樣品(pin)的荷(he)電效應(ying)。

          束(shu)流(liu)強(qiang)度:1 pA–2 nA,滿(man)足(zu)高分(fen)辨成(cheng)像與(yu)高靈(ling)敏(min)度成分分(fen)析(xi)需求(qiu)。

          分辨率:

          二(er)次(ci)電子像(SEI):1.0 nm(15 kV,工(gong)作距(ju)離 4 mm);

          低電壓(ya)下表(biao)現(xian)優異(yi):1.4 nm(1 kV,減速模式(shi)),2.0 nm(1 kV,正常模式(shi));

          背散(san)射(she)電子像(BSEI):通過(guo) E×B 探(tan)測(ce)器(qi)實現(xian) Z 襯(chen)度(du)成(cheng)像,適用於成(cheng)分(fen)差(cha)異(yi)分(fen)析(xi)。


          探(tan)測(ce)器(qi)與(yu)信(xin)號(hao)采集

          二(er)次(ci)電子探(tan)測(ce)器(qi)(SE):

          高位(wei) SE 探(tan)測(ce)器(qi)(SE (U)):接(jie)收表(biao)面形貌(mao)信(xin)息(xi),分辨率高,適用於高分(fen)辨成(cheng)像。

          低位 SE 探(tan)測(ce)器(qi)(SE (L)):增強(qiang)立(li)體(ti)感,適用於觀(guan)察(cha)凹(ao)凸結(jie)構。

          背(bei)散(san)射(she)電子探(tan)測(ce)器(qi)(BSE):

          低角 BSE(LA-BSE):突出成(cheng)分(fen)差(cha)異(yi),適用於多相(xiang)材(cai)料分(fen)析(xi)。

          高角(jiao) BSE(HA-BSE):提供(gong)結(jie)晶學(xue)襯(chen)度(du),用於晶(jing)粒取向研(yan)究(jiu)。

          E×B 技術(shu):通過(guo)電場與(yu)磁場分(fen)離二次(ci)電子與背散射電子,可選擇(ze)性(xing)接(jie)收單(dan)純(chun) SE、混(hun)合 SE+BSE 或純(chun) BSE 信(xin)號(hao),優化(hua)圖(tu)像對(dui)比(bi)度。

          能(neng)譜(pu)儀(yi)(EDS):

          探(tan)測(ce)器(qi)活(huo)區面積:10–30 mm²(不(bu)同(tong)配(pei)置(zhi)),能量(liang)分辨率≤129 eV(Mn Kα),元(yuan)素(su)分(fen)析(xi)範(fan)圍 Be⁴–U⁹²。

          支持(chi)定(ding)點(dian)、線掃(sao)描和(he)面分布(bu)分(fen)析(xi),配(pei)備(bei)電制冷系統(tong)以(yi)提高穩(wen)定(ding)性(xing)。



          點(dian)擊這裏給我(wo)發消(xiao)息(xi)
           

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