島津熒光(guang)光(guang)譜(pu)儀(yi) EDX-7000/8000/LE維護(hu)指(zhi)南

1. 
   

2. 日常(chang)基礎(chu)維(wei)護(hu)

3. 1：規範(fan)開關(guan)機：開機先開啟 EDX 電源，再(zai)啟動電(dian)腦及(ji)顯示器(qi)，待(dai)系統運(yun)行後(hou)啟動分(fen)析(xi)軟(ruan)件並完(wan)成(cheng)儀(yi)器(qi)初(chu)始化(hua)；關(guan)機前(qian)需先關(guan)閉(bi) X 光管(guan)，關(guan)閉(bi)分(fen)析(xi)軟(ruan)件，等待(dai) 10 - 20 分(fen)鐘(zhong)後(hou)再(zai)切斷(duan) EDX 電(dian)源，避免(mian)高壓(ya)部(bu)件因(yin)突然(ran)斷(duan)電(dian)受(shou)損。

4. 2：儀(yi)器(qi)表(biao)面清(qing)潔(jie)：每(mei)日(ri)使用(yong)幹(gan)凈軟(ruan)布(bu)擦(ca)拭(shi)儀(yi)器(qi)外(wai)殼(ke)、操作(zuo)面板及(ji)樣品室(shi)外(wai)部(bu)，去(qu)除(chu)灰塵(chen)和(he)汙(wu)漬(zi)。若有(you)頑固汙(wu)漬(zi)，可(ke)蘸取少(shao)量(liang)無(wu)水乙(yi)醇(chun)輕輕(qing)擦拭(shi)，避免(mian)使(shi)用(yong)腐蝕(shi)性清(qing)潔(jie)劑損壞(huai)儀(yi)器(qi)表(biao)面塗層(ceng)。

5. 3：樣品室(shi)清(qing)潔(jie)：每(mei)次(ci)測試結(jie)束後(hou)，及(ji)時(shi)清(qing)理(li)樣品室(shi)內(nei)的(de)樣品殘留(liu)、粉末(mo)或碎(sui)屑，防(fang)止雜(za)質堆積(ji)影(ying)響(xiang)後(hou)續樣品測試的(de)準確(que)性，清(qing)潔(jie)時(shi)避免(mian)觸(chu)碰內(nei)部(bu)光(guang)學元(yuan)件和(he)探測器(qi)。

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7. 關(guan)鍵部(bu)件專項(xiang)維(wei)護(hu)

8. 1：液氮相(xiang)關(guan)維(wei)護：該儀(yi)器(qi)依賴液(ye)氮冷卻，裝滿(man)後(hou)總容(rong)量 3L，日常(chang)需經常(chang)檢查(zha)液氮容(rong)量，其每(mei)天消耗(hao)量(liang)約 1L，不(bu)足(zu)時(shi)及(ji)時(shi)補充。加註(zhu)或液氮耗(hao)盡(jin)後(hou)補加，需(xu)等待(dai) 30 分(fen)鐘(zhong)讓機器(qi)充分(fen)冷(leng)卻；加註(zhu)過(guo)程(cheng)需(xu)輕(qing)拿(na)輕放(fang)，防(fang)止液氮飛濺(jian)凍(dong)傷，同時(shi)避免(mian)液(ye)氮接(jie)觸儀(yi)器(qi)密封部(bu)件造成(cheng)損壞(huai)。

9. 2：光學與探(tan)測系統：放(fang)置(zhi)和(he)取出標(biao)樣、樣品時(shi)，避免(mian)觸(chu)碰透鏡等光學元(yuan)件。標(biao)樣若有(you)臟(zang)汙(wu)或異物(wu)，需(xu)用(yong)酒精清(qing)洗後(hou)再(zai)使用；定(ding)期(qi)檢查(zha)探測器(qi)狀態，若發現(xian)探(tan)測信號異常(chang)，需排(pai)查是否(fou)有(you)汙(wu)染或老化情況(kuang)，必(bi)要(yao)時(shi)聯系專(zhuan)業人員(yuan)檢修(xiu)。

10. 3：機械(xie)與電(dian)源系統：儀(yi)器(qi)導軌每(mei) 6 個(ge)月(yue)需(xu)加註(zhu)壹次(ci)潤(run)滑(hua)油，若運(yun)行時(shi)聽(ting)到導(dao)軌(gui)處有(you)異常(chang)噪音，可(ke)提前(qian)加註(zhu)。定(ding)期(qi)檢查(zha)電源線、接(jie)口(kou)是否(fou)破損或松(song)動(dong)，確(que)保電(dian)源電壓(ya)符合儀(yi)器(qi)要(yao)求(qiu)，避免(mian)電(dian)壓(ya)異常(chang)損壞(huai)電控系統；同時(shi)檢查(zha)電源保險(xian)絲狀態，及(ji)時(shi)更(geng)換(huan)損壞(huai)的(de)保險(xian)絲。

11. 
    

12. 定(ding)期(qi)校準與性能檢查(zha)

13. 1：能量校正(zheng)：每(mei)次(ci)開機後(hou)，需在樣品室(shi)放(fang)置(zhi) A750 標(biao)樣，執行能量(liang) / 半(ban)峰寬(kuan)校正(zheng)，校正(zheng)後(hou)測試標(biao)樣，需(xu)滿(man)足(zu) Al 含(han)量(liang)＞85%，且(qie) Sn、Si、Cu 有(you)正常(chang)數值，否(fou)則需(xu)重(zhong)新校正(zheng)。

14. 2：漂移(yi)檢查(zha)與校正(zheng)：用 PE - PVC 標(biao)準樣品做(zuo)漂移(yi)檢查(zha)，若 Cd、Pb、Br、Hg、Cr 的(de)測試值(zhi)超(chao)出標(biao)識值的(de) 15%，需按說(shuo)明書流(liu)程(cheng)進(jin)行漂移(yi)校正(zheng)，避免(mian)檢測數據(ju)偏差(cha)。

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16. 耗(hao)材與配(pei)件管理(li)

17. 1：易(yi)損件更(geng)換(huan)：定(ding)期(qi)檢查(zha)進氣過(guo)濾(lv)器(qi)等耗(hao)材，根(gen)據使(shi)用環境(jing)和(he)頻(pin)率及(ji)時(shi)更(geng)換(huan)，防(fang)止(zhi)雜(za)質進入儀(yi)器(qi)內(nei)部(bu)。測量液(ye)體(ti)樣品時(shi)，需檢查(zha)有(you)機薄膜是否(fou)完(wan)好，若薄膜有(you)破損或老化，立即(ji)更(geng)換(huan)，避免(mian)樣品泄漏汙(wu)染儀(yi)器(qi)。

18. 2：配件選用(yong)：更(geng)換(huan)配(pei)件時(shi)需選用島津原廠(chang)適(shi)配型號，如傳(chuan)感器(qi)、電路板等(deng)關(guan)鍵部(bu)件，安(an)裝後(hou)需進行功能(neng)測試，確(que)保其(qi)與儀(yi)器(qi)兼(jian)容(rong)並正常(chang)工作(zuo)。

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20. 環境(jing)與特(te)殊(shu)註意事(shi)項(xiang)

21. 1：環境(jing)控制(zhi)：儀(yi)器(qi)需置(zhi)於(yu)清(qing)潔(jie)、幹(gan)燥、溫(wen)度(du)穩(wen)定(ding)的(de)實驗(yan)室(shi)環境(jing)，避免(mian)高溫(wen)、高濕和(he)粉塵過(guo)多的(de)環境(jing)影響(xiang)儀(yi)器(qi)性能。

22. 2：特殊(shu)操作(zuo)禁(jin)忌(ji)：測量液(ye)體(ti)、粉末(mo)及(ji)微(wei)小物(wu)品時(shi)禁止使用真(zhen)空(kong)泵；微(wei)小樣品需放(fang)入專用容(rong)器(qi)，放(fang)置(zhi)時(shi)盡量與十(shi)字(zi)線(xian)豎(shu)線(xian)平行且居(ju)中，防(fang)止樣品位置(zhi)偏(pian)差(cha)導(dao)致(zhi)檢測誤差(cha)。